一种阻抗测试装置制造方法及图纸

本申请提出一种阻抗测试装置，包括：探针组、探针介质板、阻抗测试探头以及PCB板；其中，所述探针组贯穿于所述探针介质板上，用于卡接被测电容；所述探针介质板和所述阻抗测试探头安装于所述PCB板上；所述PCB板上设置有探针过孔，所述探针组的探针置于所述探针过孔中，以使所述探针、所述探针过孔和所述阻抗测试探头通过PCB板内部走线连接。该装置可以大大提高电容所在电源网络阻抗的测试效率。电容所在电源网络阻抗的测试效率。电容所在电源网络阻抗的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种阻抗测试装置


[0001]本技术涉及电子电路
，尤其涉及一种阻抗测试装置。

技术介绍

[0002]为电子产品的器件和电路提供干净的电源是产品设计师面临的一大难题，设计师需要在电源分配网络(Power DistributionNetwork，PDN)设计上投入大量的精力、人力和设备。其中，对PDN进行阻抗测试是PDN设计的关键环节。
[0003]对PDN进行阻抗测试，即对PDN的电容所在电源网络进行阻抗测试。常规的测试方式通常是手持测试探针对PDN电容所在电源网络进行阻抗测试，其测试精度和测试效率较低。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本技术提供一种阻抗测试装置，从而能够提高电容所在电源网络的阻抗测试效率。
[0005]为达到上述目的，本技术具体提出如下方案：
[0006]一种阻抗测试装置，包括：
[0007]探针组、探针介质板、阻抗测试探头以及PCB板；
[0008]其中，所述探针组贯穿于所述探针介质板上，用于卡接被测电容；
[0009]所述探针介质板和所述阻抗测试探头安装于所述PCB板上；
[0010]所述PCB板上设置有探针过孔，所述探针组的探针置于所述探针过孔中，以使所述探针、所述探针过孔和所述阻抗测试探头通过PCB板内部走线连接。
[0011]可选的，所述探针介质板和所述阻抗测试探头分别安装于所述PCB板的不同表面。
[0012]可选的，所述探针组包括4个探针，所述阻抗测试探头的数量为2个；
[0013]所述探针组中的第一探针对与第一阻抗测试探头连接，所述探针组中的第二探针对与第二阻抗测试探头连接。
[0014]可选的，所述探针组的探针的第一端置于所述探针过孔中，所述探针的第二端用于卡接被测电容，所述第一端的直径大于所述第二端的直径。
[0015]可选的，所述探针组的探针包括第一部分和第二部分，所述第一部分贯穿于所述探针介质板上并且置于所述探针过孔中，所述第二部分与所述第一部分连接。
[0016]可选的，所述第二部分通过导电滑轨与所述第一部分连接，所述导电滑轨装设于所述探针介质板上。
[0017]可选的，所述PCB板上设置有介质板安装孔位，所述探针介质板通过所述介质板安装孔位安装于所述PCB板上。
[0018]可选的，所述探针介质板通过螺栓固定安装于所述PCB板的所述介质板安装孔位。
[0019]可选的，所述阻抗测试探头为SMA连接器。
[0020]可选的，所述装置还包括：
[0021]与所述阻抗测试探头连接的测试设备，用于测试所述被测电容所在电源网络的阻抗。
[0022]从上述介绍可以看出，本技术所提供的阻抗测试装置，包括探针组、探针介质板、阻抗测试探头以及PCB板；其中，所述探针组贯穿于所述探针介质板上，用于卡接被测电容；所述探针介质板和所述阻抗测试探头安装于所述PCB板上；所述PCB板上设置有探针过孔，所述探针组的探针置于所述探针过孔中，以使所述探针、所述探针过孔和所述阻抗测试探头通过PCB板内部走线连接。上述的阻抗测试装置可以用于卡接被测电容，然后通过该装置的阻抗测试探头即可实现对被测电容所在电源网络的阻抗测试，相对于人工手持探针进行电容所在电源网络的阻抗测试，该装置可以大大提高测试效率。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0024]图1是本技术实施例提供的一种阻抗测试装置的结构示意图。
[0025]图2是本技术实施例提供的阻抗测试装置的另一结构示意图。
[0026]图3是本技术实施例提供的另一种阻抗测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0027]本技术实施例提出一种阻抗测试装置，可以用于对PDN(Power Distribution Network，电源分配网络)进行阻抗测试，具体用于对PDN的电容所在电源网络进行阻抗测试。上述的PDN可以是任意场景或任意类型的PDN，比如可以是CPU核电PDN等。
[0028]常规的PDN电容所在电源网络阻抗测试方式通常是手持测试探针对PDN电容所在电源网络进行阻抗测试，其测试精度和测试效率较低。
[0029]为了节省人工以及提高测试效率，业内提出通过机械手臂夹持测试探针对PDN电容所在电源网络进行阻抗测试，但是机械手臂存在占用空间大、成本高，不能快速定位的问题，对于测试效率的提升作用有效。
[0030]基于上述技术现状，本技术提出一种阻抗测试装置，该阻抗测试装置能够快速定位、卡接被测电容，并且提供了固定的阻抗测试链路，便于快速地对被测电容所在电源网络进行阻抗测试。
[0031]图1示出了本技术实施例提出的阻抗测试装置的结构示意图，参见图1所示，本技术实施例提出的阻抗测试装置，包括：
[0032]探针组001、探针介质板002、阻抗测试探头003以及PCB板004。
[0033]其中，探针组001由多个探针组成，探针数量与被测电容的阻抗测试点的数量相一致，每个探针分别用于对接被测电容的一个阻抗测试点，从而使得该探针组001能够同时对接被测电容的各个阻抗测试点。
[0034]探针组001包含的各个探针之间的位置关系，与被测电容的各个阻抗测试点之间的位置关系相一致。
[0035]例如图2所示，被测电容的阻抗测试点有4个：测试点1、测试点2、测试点3和测试点4，这4个测试点分别位于被测电容的四个侧面的交界线上，则探针组001被设置为包含4个探针：探针1、探针2、探针3和探针4，该4个探针呈矩阵形式分布，并且探针1和探针2之间的距离等于探针3和探针4之间的距离，该距离值等同于与测试点1和测试点2之间的距离值，以及等同于测试点3和测试点4之间的距离值；探针2和探针3之间的距离等于探针1和探针4之间的距离，该距离值等同于测试点2和测试点3之间的距离值，以及等同于测试点1和测试点4之间的距离值。
[0036]其中，探针之间的距离，具体是指探针中轴之间的距离。
[0037]在确定探针组001的各个探针之间的位置关系后，按照该位置关系，将探针组001垂直固定到探针介质板002上，从而使探针组001各个探针之间的相互位置保持固定。
[0038]通过上述设置，探针组001能够用于对被测电容进行卡接，即，直接通过探针组001的各个探针去对接被测电容的各个测试点，即可实现对被测电容所在电源网络的阻抗测试点的线路引出和固定线路连接，从而能够便于借助各个探针对被测电容所在电源网络进行阻抗测试。
[0039]上述的探针组001的各个探针，均采用弹性金属材料，以便于更好地接触被测电容的阻抗测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阻抗测试装置，其特征在于，包括：探针组、探针介质板、阻抗测试探头以及PCB板；其中，所述探针组贯穿于所述探针介质板上，用于卡接被测电容；所述探针介质板和所述阻抗测试探头安装于所述PCB板上；所述PCB板上设置有探针过孔，所述探针组的探针置于所述探针过孔中，以使所述探针、所述探针过孔和所述阻抗测试探头通过PCB板内部走线连接。2.根据权利要求1所述的阻抗测试装置，其特征在于，所述探针介质板和所述阻抗测试探头分别安装于所述PCB板的不同表面。3.根据权利要求1所述的阻抗测试装置，其特征在于，所述探针组包括4个探针，所述阻抗测试探头的数量为2个；所述探针组中的第一探针对与第一阻抗测试探头连接，所述探针组中的第二探针对与第二阻抗测试探头连接。4.根据权利要求1所述的阻抗测试装置，其特征在于，所述探针组的探针的第一端置于所述探针过孔中，所述探针的第二端用于卡接被测电容，所述第一端的直径大于所述第二端的直...

【专利技术属性】
技术研发人员：靳爽，
申请(专利权)人：飞腾信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：