一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法技术方案

技术编号:38760314 阅读:29 留言:0更新日期:2023-09-10 10:33
本发明专利技术实施例提供了一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法,系统包括:成像镜头以及热电探测器,热电探测器包括:红外窗口、滤光膜、调制结构以及探测器阵列,沿成像镜头的光轴方向依次设置有成像镜头、红外窗口和探测器阵列,滤光膜附着于红外窗口,调制结构位于红外窗口与探测器阵列之间。通过在红外窗口上设置滤光膜,以及将调制结构设置于红外窗口与探测器阵列之间,在不改变当前的热电探测器的结构构成的前提下提高了热电探测器的探测性能,实现对外界入射光光谱的高精度测量。实现对外界入射光光谱的高精度测量。实现对外界入射光光谱的高精度测量。

【技术实现步骤摘要】
一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法


[0001]本专利技术涉及光谱成像
,特别是涉及一种红外热电光谱成像系统及红外成像方法。

技术介绍

[0002]光谱仪是获得光谱信息的仪器。光谱携带的信息量丰富,可用于物质识别、检测和分析,在农业、生物、化学、天文、医疗、环境检测、半导体工业等领域得到广泛应用。
[0003]红外热电光谱成像系统是一种利用红外辐射光得到物体高光谱图像的仪器。红外热电光谱成像系统接收外界红外辐射光,通过光谱调制将外界红外辐射光进行编码,编码后的红外辐射光照射到探测器上产生热量,探测器像元中的热敏材料吸收热量导致电信号变化,进而利用光谱反演算法根据电信号的变化可以得到高光谱图像,可见,光谱调制在红外热电光谱成像系统中的作用非常重要。
[0004]可见光光电光谱成像系统可以直接将光调制层、传感层以及电路层堆叠到光谱成像探测器上,从而实现可见光光谱调制。然而,如果将该堆叠方式应用到热电探测器,会导致热电探测器的探测性能下降,因此,将可见光光电光谱成像系统的堆叠方式套用在红外热电光谱成像系统中的效果并不理想,因本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种红外热电光谱成像系统,其特征在于,所述系统包括:成像镜头以及热电探测器,所述热电探测器包括:红外窗口、滤光膜、调制结构以及探测器阵列,其中:沿所述成像镜头的光轴方向依次设置有所述成像镜头、所述红外窗口和所述探测器阵列;所述滤光膜附着于所述红外窗口,所述调制结构位于所述红外窗口与所述探测器阵列之间。2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述调制结构位于所述红外窗口朝向所述探测器阵列的一面,所述滤光膜附着于所述红外窗口的另一面。3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述滤光膜附着于所述红外窗口朝向所述成像镜头的一面,所述调制结构位于所述探测器阵列的像元上。4.根据权利要求3所述的光谱成像系统,其特征在于,所述调制结构通过导热层设置在所述探测器阵列的像元上。5.根据权利要求1

4任一项所述的系统,其特征在于,所述调制结构包括多个调制单元,每个所述调制单元包括多个调制子单元;每个所述调制子单元包括多个相同的调制微结构,所述调制微结构在该调制子单元内均匀分布;同一所述调制单元中的不同调制子单元中的调制微结构的截面形状不同。6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述调制微结构为红外高透材料调制柱、红外高透材料调制孔或金属调制孔。7.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员:朱永浩朱镇峰蔡宏毛慧浦世亮
申请(专利权)人:杭州海康威视数字技术股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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