提供了与样品测试设备相关联的方法、装置和系统。和系统。和系统。
【技术实现步骤摘要】
用于样品测试的装置、系统和方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2022年3月3日提交的美国临时专利申请No.63/316,257的优先权和益处，所述美国临时专利申请的内容以其整体通过引用被并入。
[0003]本申请也是2022年9月29日提交的美国专利申请No.17/936,764的部分继续申请，其内容以其整体通过引用被并入。美国专利申请No.17/936,764要求2021年10月4日提交的美国临时专利申请No.63/262,076的优先权和权益，该美国临时专利申请的内容以其整体通过引用被并入。美国专利申请No.17/936,764也要求2021年11月3日提交的美国临时专利申请No.63/263,481的优先权和利益，该美国临时专利申请的内容以其整体通过引用被并入。美国专利申请No.17/936,764还是2021年5月5日提交的美国专利申请No.17/302,536的部分继续申请，美国专利申请No.17/302,536的内容以其整体通过引用被并入。美国专利申请No.17/302,536要求美国专利申请No.63/021,416(2020年5月7日申请的)、美国专利申请No.63/198,609(在2020年10月29日申请的)和美国专利申请No.63/154,476(在2021年2月26日申请的)的优先权和权益，这些美国专利申请的全部内容通过引用被并入本申请中。
[0004]本申请还是2021年5月5日提交的美国专利申请No.17/302,536的部分继续申请，该美国专利申请的内容以其整体通过引用被并入。美国专利申请No.17/302,536要求美国专利申请(在2020年5月7日申请的)No.63/021,416、美国专利申请No.63/198,609(在2020年10月29日申请的)和美国专利申请No.63/154,476(在2021年2月26日申请的)的优先权和权益，这些美国专利申请的全部内容通过引用并入本申请中。
技术介绍
[0005]现有方法、装置和系统受到挑战和限制的困扰。例如，由于各种因素，诸如结构限制、环境温度、污染等，可能影响许多设备的效率和/或准确性。
技术实现思路
[0006]根据本公开的各种示例，提供了用于样品测试的各种示例方法、装置和系统。在一些实施例中，示例方法、装置和系统可以利用干涉测量法来检测收集的样品中病毒和/或蛋白质含量的其他病毒指示物的存在。
[0007]在一些示例中，样品测试设备可以包括波导和集成光学部件。在一些示例中，集成光学部件可以耦合到波导。在一些示例中，集成光学部件可以包括准直仪和分束器。
[0008]在一些示例中，分束器可以包括第一棱镜和第二棱镜。在一些示例中，第二棱镜可以附接到第一棱镜的第一倾斜表面。在一些示例中，第一棱镜和第二棱镜形成立方体形状。
[0009]在一些示例中，分束器可以包括偏振分束器。
[0010]在一些示例中，准直仪可以附接到第一棱镜的第二倾斜表面。
[0011]在一些示例中，样品测试设备可以包括耦合到集成光学部件的光源。在一些示例中，光源可以配置为发射激光束。
[0012]在一些示例中，波导可以包括波导层和具有样品开口的界面层。在一些示例中，界
面层可以设置在波导层的顶表面上。
[0013]在一些示例中，集成光学部件可以设置在波导层的顶表面上。
[0014]在一些示例中，样品测试设备可以包括位于界面层上方的透镜部件。在一些示例中，透镜部件可以在输出光方向上与界面层的输出开口至少部分地重叠。
[0015]在一些示例中，样品测试设备可以包括设置在透镜部件的顶表面上的成像部件。
[0016]在一些示例中，成像部件可以配置为检测干涉条纹图案。
[0017]在一些示例中，样品测试设备可以包括具有第一表面的波导和设置在第一表面上的透镜阵列。在一些示例中，透镜阵列包括至少一个光学透镜。
[0018]在一些示例中，透镜阵列可以包括至少一个微透镜阵列。在一些示例中，微透镜阵列的第一光学透镜的第一形状可以与微透镜阵列的第二光学透镜的第二形状不同。在一些示例中，该至少一个光学透镜可以包括至少一个棱镜透镜。
[0019]在一些示例中，在波导光传输方向上，第一光学透镜的第一表面曲率可以与第二光学透镜的第二表面曲率不同。
[0020]在一些示例中，样品测试设备可以包括集成光学部件，该集成光学部件通过透镜阵列耦合到波导。
[0021]在一些示例中，样品测试设备可以包括通过透镜阵列耦合到波导的成像部件。
[0022]在一些示例中，样品测试设备可以包括波导，该波导具有在第一表面上的样品开口和设置在第一表面上的开口层。在一些示例中，开口层可以包括第一开口，该第一开口与样品开口至少部分地重叠。
[0023]在一些示例中，样品测试设备还可以包括经由至少一个滑动机构耦合到波导的覆盖层。在一些示例中，覆盖层可以包括第二开口。
[0024]在一些示例中，覆盖层可以位于开口层的顶部上并且可以在第一位置和第二位置之间移动。
[0025]在一些示例中，当覆盖层可以在第一位置时，第二开口与第一开口重叠。
[0026]在一些示例中，当覆盖层处于第二位置时，第二开口不与第一开口重叠。
[0027]在一些示例中，样品测试设备可以包括：波导，具有顶表面和底表面；以及光源，配置为经由波导的底表面将光耦合到样品测试设备中。
[0028]在一些示例中，光源可以配置为发射穿过波导的顶表面的光束。
[0029]在一些示例中，样品测试设备可以包括具有顶表面和底表面的波导。在一些示例中，波导的顶表面可以配置为与用户计算设备集成。
[0030]在一些示例中，波导的厚度可以在5毫米至7毫米的范围内。
[0031]在一些示例中，用户计算设备部件可以配置为由样品测试设备共同使用。
[0032]在一些示例中，样品测试设备可以包括波导以及设置在波导的至少一个表面上的绝缘层。
[0033]在一些示例中，样品测试设备还可以包括至少一个传感器，该至少一个传感器配置为控制绝缘层的温度。
[0034]在一些示例中，样品测试设备可以包括波导和包住该波导的热控波导壳体。
[0035]在一些示例中，样品测试设备可以包括波导，该波导至少包括：衬底层，限定样品测试设备的底表面；波导层，沉积在衬底层上，配置为将光从波导的输入侧横向耦合到波导
的输出侧；以及界面层，限定样品测试设备的顶表面。
[0036]在一些示例中，衬底层可以包括集成电路。
[0037]在一些示例中，波导层还可以包括至少一个参考通道和至少一个样品通道。
[0038]在一些示例中，该至少一个参考通道可以与界面层中的参考窗口相关联，并且该至少一个样品通道与界面层中的至少一个样品窗口相关联。
[0039]在一些示例中，提供了一种计算机实现的方法。该计算机实现的方法可以包括：接收针对未标识的样品介质的第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于监测流体转变的方法，所述方法包括：使激光源发射激光束通过波导的样品通道；致使缓冲溶液第一次注射到所述波导的样品通道；计算与所述样品通道相关联的折射率变化值；以及确定所述折射率变化值是否对应于预定的折射率变化值。2.根据权利要求1所述的方法，其中，在致使所述缓冲溶液的所述第一次注射之前，所述方法还包括：从成像传感器接收第一成像数据，其中，在致使所述缓冲溶液的第一次注射之后，所述方法还包括：从所述成像传感器接收第二成像数据。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述激光源被定位成与所述样品通道的输入端相邻，其中所述成像传感器被定位成与所述样品通道的输出端相邻。4.根据权利要求2所述的方法，还包括：基于所述第一成像数据和所述第二成像数据来计算所述折射率变化值。5.根据权利要求1所述的方法，还包括：响应于确定所述折射率变化值对应于所述预定的折射率变化值，致使样品溶液到所...
【专利技术属性】
技术研发人员：S，
申请(专利权)人：手持产品公司，
类型：发明
国别省市：
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