一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质，所属的技术领域为自动化测试技术，用于解决准确评价存储芯片的性能这一问题。所述存储芯片性能检测装置，包括：测试底座，用于安装待测试的存储芯片；与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志，本申请能够准确评价存储芯片的性能。能。能。

【技术实现步骤摘要】
一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质


[0001]本申请涉及自动化测试
，特别涉及一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子产品的普及、各种数据云的发展，服务器和个人电脑的应用范围越来越广。存储芯片广泛应用于服务器以及个人电脑的主板或者配套板卡上，承载着存储程序或者数据的重要作用。存储芯片通常在出厂前进行性能测试，但是存储芯片应用场景与工作环境较为复杂，极易出现存储芯片实际性能与测试得到的性能不一致的情况，影响用户的正常使用。
[0003]因此，如何准确评价存储芯片的性能是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质，能够准确评价存储芯片的性能。
[0005]为解决上述技术问题，本申请提供一种存储芯片性能检测装置，包括：
[0006]测试底座，用于安装待测试的存储芯片；
[0007]与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储芯片性能检测装置，其特征在于，包括：测试底座，用于安装待测试的存储芯片；与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志。2.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，所述控制单元还包括开关电路和复位电路，所述开关电路用于控制所述控制单元开机和关机，所述复位电路用于控制所述控制单元执行复位操作。3.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，所述控制单元还用于通过接口将所述测试日志发送至上位机或显示器。4.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，还包括与所述控制单元连接的报警装置，用于在接收到所述控制单元发送的报警指令时输出报警信号；其中，所述控制单元用于在检测到所述存储芯片存在数据异常时向所述报警装置发送所述报警指令。5.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，所述存储芯片为闪存芯片、带电可擦可编程只读存储芯片或随机存取存储芯片。6.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，还包括高低温箱，所述测试底座、所述控制单元和所述存储模块均设置于所述高低温箱的箱体内部，所述高低温箱用于根据接收到的指令调节所述箱体内部的温度。7.一种存储芯片性能检测方法，其特征在于，应用于权利要求1至6任一项所述存储芯片性能检测装置的控制单元，所述存储性能检测方法包括：若存储芯片安装至测试底座，则检测环境温度，并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果；根据所述环境温度和所述性能...

【专利技术属性】
技术研发人员：马亚辉，马杨，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：