本申请公开了一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质，所属的技术领域为自动化测试技术，用于解决准确评价存储芯片的性能这一问题。所述存储芯片性能检测装置，包括：测试底座，用于安装待测试的存储芯片；与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志，本申请能够准确评价存储芯片的性能。能。能。
【技术实现步骤摘要】
一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质
[0001]本申请涉及自动化测试
，特别涉及一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质。
技术介绍
[0002]随着电子产品的普及、各种数据云的发展，服务器和个人电脑的应用范围越来越广。存储芯片广泛应用于服务器以及个人电脑的主板或者配套板卡上，承载着存储程序或者数据的重要作用。存储芯片通常在出厂前进行性能测试，但是存储芯片应用场景与工作环境较为复杂，极易出现存储芯片实际性能与测试得到的性能不一致的情况，影响用户的正常使用。
[0003]因此，如何准确评价存储芯片的性能是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
[0004]本申请的目的是提供一种存储芯片性能检测装置、方法、系统及存储介质，能够准确评价存储芯片的性能。
[0005]为解决上述技术问题，本申请提供一种存储芯片性能检测装置，包括：
[0006]测试底座，用于安装待测试的存储芯片；
[0007]与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；
[0008]与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志。
[0009]可选的，所述控制单元还包括开关电路和复位电路，所述开关电路用于控制所述控制单元开机和关机，所述复位电路用于控制所述控制单元执行复位操作。
[0010]可选的，所述控制单元还用于通过接口将所述测试日志发送至上位机或显示器。
[0011]可选的，还包括与所述控制单元连接的报警装置，用于在接收到所述控制单元发送的报警指令时输出报警信号；其中，所述控制单元用于在检测到所述存储芯片存在数据异常时向所述报警装置发送所述报警指令。
[0012]可选的，所述存储芯片为闪存芯片、带电可擦可编程只读存储芯片或随机存取存储芯片。
[0013]可选的，还包括高低温箱，所述测试底座、所述控制单元和所述存储模块均设置于所述高低温箱的箱体内部，所述高低温箱用于根据接收到的指令调节所述箱体内部的温度。
[0014]本申请还提供了一种存储芯片性能检测方法，应用于上述存储芯片性能检测装置的控制单元，所述存储性能检测方法包括：
[0015]若存储芯片安装至测试底座，则检测环境温度，并按照预设测试程序对所述存储
芯片进行性能测试得到性能测试结果；
[0016]根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志，将所述测试日志存储至存储模块。
[0017]可选的，按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试，包括：
[0018]步骤1：识别所述存储芯片的芯片标识，根据所述芯片标识对测试参数进行配置；
[0019]步骤2：确定预设写入数据，并将所述预设写入数据通过页编程的方式写入所述存储芯片的目标扇区；
[0020]步骤3：判断所述目标扇区是否已经被写满；若是，则进入步骤4；若否，则进入步骤2；
[0021]步骤4：读取所述目标扇区中的数据，得到实际写入数据；
[0022]步骤5：将所述预设写入数据与所述实际写入数据进行数据比对，得到比对结果；
[0023]步骤6：根据所述比对结果判断所述存储芯片是否存在数据异常；若是，则进入步骤7；若否，则进入步骤8；
[0024]步骤7：向所述报警装置发送所述报警指令，以便控制报警装置输出报警信号；
[0025]步骤8：对所述目标扇区执行数据擦除操作，并根据擦除时长和擦除次数生成所述性能测试结果；
[0026]步骤9：判断所述目标扇区的测试次数是否大于预设次数；若是，则对下一扇区进行测试或结束测试；若否，则进入步骤2。
[0027]本申请还提供了一种存储性能检测系统，应用于上述存储芯片性能检测装置的控制单元，所述存储芯片性能检测系统包括：
[0028]测试模块，用于若存储芯片安装至测试底座，则检测环境温度，并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果；
[0029]日志生成模块，用于根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志，将所述测试日志存储至存储模块。
[0030]本申请还提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序执行时实现上述存储性能检测方法执行的步骤。
[0031]本申请提供了一种存储芯片性能检测装置，包括：测试底座，用于安装待测试的存储芯片；与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志。
[0032]本申请提供的存储芯片性能检测装置设置有测试底座、控制单元和存储模块，在将存储芯片安装于测试底座后，内置温度传感器的控制单元能够检测环境温度并对存储芯片进行性能测试得到性能测试结果。本申请根据环境温度和性能测试结果共同生成测试日志，进而将测试日志保存至存储模块。上述方案在进行性能测试的过程中采集环境温度，将环境温度和性能测试结果共同生成测试日志，能够实现对存储芯片的耐温性能检测。由于温度会影响存储芯片的性能，本申请能够结合环境温度生成测试日志，可以准确评价存储芯片的性能。本申请同时还提供了一种存储性能检测方法、一种存储性能检测系统及一种存储介质，具有上述有益效果，在此不再赘述。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本申请实施例，下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1为本申请实施例所提供的一种存储性能检测装置的结构示意图；
[0035]图2为本申请实施例所提供的存储芯片性能检测装置的功能框图；
[0036]图3为本申请实施例所提供的一种存储性能检测方法的流程图；
[0037]图4为本申请实施例所提供的一种闪存芯片耐温性能检测方法的流程图；
[0038]图5为本申请实施例所提供的一种存储性能检测系统的结构示意图。
具体实施方式
[0039]为使本申请实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0040]下面请参见图1，图1为本申请实施例所提供的一种存储性能检测装置的结构示意图，如图1所示，存储芯片性能检测装置包括：测试底座101、控制单元102和存储模块103。上述存储芯片性能检测装置整体可以采用流线型直板结构。
[0041]上述本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储芯片性能检测装置，其特征在于，包括：测试底座，用于安装待测试的存储芯片；与所述测试底座连接、且内置温度传感器的控制单元，用于检测环境温度并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果，根据所述环境温度和所述性能测试结果生成测试日志；与所述控制单元连接的存储模块，用于存储所述测试日志。2.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，所述控制单元还包括开关电路和复位电路，所述开关电路用于控制所述控制单元开机和关机，所述复位电路用于控制所述控制单元执行复位操作。3.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，所述控制单元还用于通过接口将所述测试日志发送至上位机或显示器。4.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，还包括与所述控制单元连接的报警装置，用于在接收到所述控制单元发送的报警指令时输出报警信号；其中，所述控制单元用于在检测到所述存储芯片存在数据异常时向所述报警装置发送所述报警指令。5.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，所述存储芯片为闪存芯片、带电可擦可编程只读存储芯片或随机存取存储芯片。6.根据权利要求1所述存储芯片性能检测装置，其特征在于，还包括高低温箱，所述测试底座、所述控制单元和所述存储模块均设置于所述高低温箱的箱体内部，所述高低温箱用于根据接收到的指令调节所述箱体内部的温度。7.一种存储芯片性能检测方法，其特征在于，应用于权利要求1至6任一项所述存储芯片性能检测装置的控制单元，所述存储性能检测方法包括：若存储芯片安装至测试底座，则检测环境温度，并按照预设测试程序对所述存储芯片进行性能测试得到性能测试结果；根据所述环境温度和所述性能...
【专利技术属性】
技术研发人员：马亚辉，马杨，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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