一种评定复合绝缘子老化程度的方法技术

本发明专利技术提供了一种评定复合绝缘子老化程度的方法，包括：确定目标复合绝缘子的憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级；根据憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级将所述目标复合绝缘子的老化程度的评定标准确定为第一评判等级、第二评判等级、第三评判等级、第四评判等级和第五评判等级；并在符合第一评判等级时，确定未老化；在符合第二评判等级时，确定目标复合绝缘子表层轻微老化；在符合第三评判等级时，确定目标复合绝缘子中度老化；在符合第四和第五评判等级时，确定复合绝缘子严重老化。本发明专利技术中,通过憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级确定目标复合绝缘子老化程度的评判标准，为运行部门提供了便捷的老化程度评判方法。方法。方法。

【技术实现步骤摘要】
一种评定复合绝缘子老化程度的方法


[0001]本专利技术涉及复合绝缘子老化检测
，具体而言，涉及一种评定复合绝缘子老化程度的方法。

技术介绍

[0002]硅橡胶复合绝缘子因其优良的憎水性和防污闪性能，近几十年来在电力系统中得到大规模的应用。但是，随着运行年限的增加，由于长期受电场、机械应力、大气环境、热辐射等的影响，复合绝缘子逐渐老化，可能出现憎水性降低、伞裙硬化、脆化、粉化、开裂、破损、表面烧蚀等现象，不能满足输变电工程防污闪要求。因此，有必要对在线运行复合绝缘子的老化状态进行检测，及时发现缺陷和隐患，保证电网的安全稳定运行；然而现有的检测方法无法为现场运维提供有效的数据支撑。

技术实现思路

[0003]鉴于此，本专利技术提出了一种评定复合绝缘子老化程度的方法，旨在解决现有评定复合绝缘子老化程度的方法的问题。一个方面，本专利技术提出了一种评定复合绝缘子老化程度的方法，包括以下步骤：步骤1，确定目标复合绝缘子的憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级；步骤2，根据憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级将所述目标复合绝缘子的老化程度的评定标准确定为第一评判等级、第二评判等级、第三评判等级、第四评判等级和第五评判等级；并在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第一评判等级时，确定所述目标复合绝缘子未老化；在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第二评判等级时，确定所述目标复合绝缘子表层轻微老化；在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第三评判等级时，确定所述目标复合绝缘子中度老化；在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第四评判等级和第五评判等级时，确定所述目标复合绝缘子严重老化。
[0004]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，所述第一评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC1
‑
HC4、憎水迁移性等级HC1
‑
HC4和粉化等级P1。
[0005]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，所述第二评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC1
‑
HC4、憎水迁移性等级HC1
‑
HC4和粉化等级P2。
[0006]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，所述第三评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC1
‑
HC5、憎水迁移性等级HC5和粉化等级P2
‑
P4。
[0007]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，所述第四评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC6
‑
HC7、憎水迁移性等级HC6
‑
HC7和粉化等级P1
‑
P2。
[0008]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，所述第五评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC6
‑
HC7、憎水迁移性等级HC6
‑
HC7和粉化等级P3
‑
P4。
[0009]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，还包括：在所述目标复合绝缘子未老化和表层轻微老化的情况下，可正常运行。
[0010]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，还包括：在所述目标复合绝缘子严重老化时，需退出运行。
[0011]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，还包括：在所述目标复合绝缘子中度老化时，应当对与所述目标复合绝缘子同批次的符合绝缘子加强关注和跟踪监测。
[0012]进一步地，上述评定复合绝缘子老化程度的方法中，所述步骤1中，确定目标复合绝缘子的粉化等级的方法包括：对带有粉化层或污秽的复合绝缘子使用高分子圆形膜片进行取样，获取预设数量的着有粉化层或污秽的高分子圆形膜片样品图片，对样品图片进行标注，对标注的样品图像进行训练，获取提取模型；使用提取模型对样品图片的膜片区域进行提取，并对提取的膜片区域以预设条件进行像素单元提取，获取样品图片膜片区域的像素单元；对像素单元进行均值聚类，获取像素特征，根据像素特征对样品图片膜片区域的粉化颜色进行提取，获取样品图片膜片区域的粉化颜色；对粉化颜色的像素点个数进行统计，根据统计结果确定粉化颜色的面积占比；根据粉化颜色及粉化颜色的面积占比，对复合绝缘子表面的粉化等级进行划分。
[0013]本专利技术中通过憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级确定目标复合绝缘子老化程度的评判标准，方法简单方便，适用于现场对运行复合绝缘子进行老化程度评定，为运行部门提供了便捷的老化程度评判方法，评判结果也为现场运维提供了有效的依据。
附图说明
[0014]通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本专利技术实施例提供的评定复合绝缘子老化程度的方法的流程图。
具体实施方式
[0015]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。
[0016]参阅图1，本专利技术实施例的评定复合绝缘子老化程度的方法包括以下步骤：步骤1，确定目标复合绝缘子的憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级。
[0017]具体而言，确定目标复合绝缘子的憎水性时，采用喷水分级法测试，具体操作时，用水壶在目标绝缘子表面喷洒水雾，根据形成的水珠（水膜）形态将憎水性判断为HC1
‑
HC7其中的某一等级。
[0018] 确定憎水迁移性等级的方法为： 按照标准DLT376
‑
2010的要求，对目标复合绝缘子表面的一个区域进行均匀涂污，经过四天的无雨期后，再用喷水分级法对涂刷部位进行憎水性检测，判断为HC1
‑
HC7其中的某一等级。
[0019]确定目标复合绝缘子的粉化等级的方法包括以下步骤：步骤a，对带有粉化层或污秽的复合绝缘子使用高分子圆形膜片进行取样，获取预设数量的着有粉化层或污秽的高分子圆形膜片样品图片，对样品图片进行标注，对标注的样品图像进行训练，获取提取模型。其中，预设数量不低于1万。步骤b，使用提取模型对样品图片的膜片区域进行提取，并对提取的膜片区域以预设条件进行像素单元提取，获取样品图片膜片区域的像素单元。其中：预设条件公式如下：(0<H<25∩43<S<255∩46<V<255)∪(156<H<180∩43<S<255∩46<V<255)；H为色调、S为饱和度和V为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评定复合绝缘子老化程度的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，确定目标复合绝缘子的憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级；步骤2，根据憎水性等级、憎水迁移性等级和粉化等级将所述目标复合绝缘子的老化程度的评定标准确定为第一评判等级、第二评判等级、第三评判等级、第四评判等级和第五评判等级；并在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第一评判等级时，确定所述目标复合绝缘子未老化；在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第二评判等级时，确定所述目标复合绝缘子表层轻微老化；在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第三评判等级时，确定所述目标复合绝缘子中度老化；在所述目标复合绝缘子的实际状态符合第四评判等级和第五评判等级时，确定所述目标复合绝缘子严重老化。2.根据权利要求1所述的评定复合绝缘子老化程度的方法，其特征在于，所述第一评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC1
‑
HC4、憎水迁移性等级HC1
‑
HC4和粉化等级P1。3.根据权利要求1所述的评定复合绝缘子老化程度的方法，其特征在于，所述第二评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC1
‑
HC4、憎水迁移性等级HC1
‑
HC4和粉化等级P2。4.根据权利要求1所述的评定复合绝缘子老化程度的方法，其特征在于，所述第三评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC1
‑
HC5、憎水迁移性等级HC5和粉化等级P2
‑
P4。5.根据权利要求1所述的评定复合绝缘子老化程度的方法，其特征在于，所述第四评判等级的标准为：同时满足憎水性等级HC6
‑
HC7、憎水迁移性...

【专利技术属性】
技术研发人员：李瑶琴，万小东，霍锋，南敬，谢梁，胡伟，刘琴，
申请(专利权)人：中国电力科学研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：