图像分析装置、图像分析方法及程序制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种能够减少缺陷部的误检测的图像分析装置、图像分析方法及程序。图像分析装置具备处理器，其中，处理器获取拍摄点检对象的结构物所得的红外热图像，获取拍摄点检对象的结构物所得的可视图像，根据红外热图像判定温度变化，对于温度变化，至少基于从红外热图像获得的温度变化信息和从可视图像获得的表面变化信息，推断温度变化的原因。推断温度变化的原因。推断温度变化的原因。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像分析装置、图像分析方法及程序


[0001]本专利技术涉及图像分析装置、图像分析方法及程序。

技术介绍

[0002]使用在由红外摄像装置拍摄混凝土等结构物时所获取的红外热图像，判别结构物中所含的浮起、裂纹等缺陷部和健全部的技术是公知的。当在结构物中有缺陷部时，在如白天那样的温度上升时，缺陷部的表面温度比健全部的表面温度高，相反地，在如夜间那样的温度下降时，缺陷部的表面温度比健全部的表面温度低。因此，如果在红外热图像中存在表面温度与周围不同的部分，则可判别为在该部位的内部具有缺陷部。
[0003]另一方面，在红外线调查中，尽管在结构物的内部不存在浮起等缺陷部，仍具有表面温度与周围不同的部分。例如，在修复结构物时，有时由于修复材料的热导率与周围的混凝土不同，从而修复痕迹的表面温度与周围的混凝土的表面温度不同。另外，有时由于修复痕迹处的红外线辐射率与周围的混凝土不同，从而红外热图像中的修复痕迹的外表的表面温度与周围的混凝土不同。有时当表面附着有游离石灰等异物时，该部分的实际温度和/或外表的温度也与周围的混凝土不同。此外，由于颜色不均匀(霉、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种图像分析装置，其具备处理器，其中，所述处理器进行如下处理：获取拍摄点检对象的结构物所得的红外热图像；获取拍摄点检对象的所述结构物所得的可视图像；根据所述红外热图像判定温度变化；以及对于所述温度变化，至少基于从所述红外热图像获得的温度变化信息和从所述可视图像获得的表面变化信息，推断所述温度变化的原因。2.根据权利要求1所述的图像分析装置，其中，所述温度变化信息对于所述温度变化包括所述红外热图像的温度分布和/或从所述温度分布中获得的信息。3.根据权利要求2所述的图像分析装置，其中，所述温度变化信息包括所述温度变化的形状和/或大小的信息。4.根据权利要求1至3中任一项所述的图像分析装置，其中，所述表面变化信息包括所述可视图像的亮度分布和/或从亮度分布中获得的信息。5.根据权利要求4所述的图像分析装置，其中，所述表面变化信息包括所述表面变化的类型、形状及位置中的至少一个信息。6.根据权利要求1至5中任一项所述的图像分析装置，其中，所述处理器基于所述温度变化信息和所述表面变化信息的相似性推断所述温度变化的原因。7.根据权利要求6所述的图像分析装置，其中，所述处理器在将所述温度变化的原因推断为所述表面变化时，推断基于所述表面变化的温度分布，并从所述红外热图像中减少。8.根据权利要求6所述的图像分析装置，其中，所述相似性包括部分相似性。9.根据权利要求1至5中任一项所述的图像分析装置，其中，所述处理器进行如下处理：将与所述温度变化对应的所述表面变化判定为裂纹或剥离；评价所述温度变化信息和所述表面变化信息的相似性；以及在至少一部分相似的情况下，推断为所述温度变化的原因是伴随所述裂纹或剥离的浮起。10.根据权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：胜山公人，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：