本发明专利技术公开了一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，应用在芯片加工技术领域，本发明专利技术通过设置输送机构，控制组件可以对连接系统进行控制，并且可以带动测试组件进行上下移动，测试组件可以对所需进行短路测试的芯片进行测试，限位组件可以对校正组件和运输组件进行支撑和限位，增加整体结构的稳定性，校正组件可以对限位机构的移动进行校正，运输组件可以对限位机构进行输送，便于限位机构将批量的芯片输送到测试组件处进行批量短路测试，通过设置限位机构和连接系统，储存组件可以对所需进行短路测试的芯片进行暂时性储存，复位组件可以对芯片进行辅助性定位，引导组件可以与输送机构进行定位。送机构进行定位。
【技术实现步骤摘要】
一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构
[0001]本专利技术属于芯片加工
，特别涉及一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构。
技术介绍
[0002]芯片是用于智能电子设备内的重要组件，在芯片进行加工中，包含但不限于对芯片的短路测试工序，芯片的短路测试供仅需会在芯片短路测试机台上实行，可以对芯片的短路情况进行测试，芯片进行短路测试时，则会将芯片进行定位，之后进行短路测试。
[0003]现有的用于芯片短路测试机台的辅助定位结构在使用的时候有以下缺点：
[0004]1、缺少对批量芯片同时定位的结构，降低了对批量芯片同时进行短路测试的效率；
[0005]2、缺少对芯片定位辅助的结构，降低了芯片在定位时的精准性。
技术实现思路
[0006]本专利技术的目的在于针对现有的一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，其优点是：
[0007]1、拥有对批量芯片同时定位的结构，提高了对批量芯片同时进行短路测试的效率；
[0008]2、拥有对芯片定位辅助的结构，提高了芯片在定位时的精准性。
[0009]本专利技术的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，包括输送机构、限位机构和连接系统，所述限位机构活动连接在输送机构的顶部，输送机构包括控制组件、测试组件、限位组件、校正组件和运输组件，所述测试组件栓接在控制组件的顶部，所述限位组件栓接在控制组件的顶部，所述校正组件栓接在限位组件的右侧，所述运输组件栓接在限位组件的顶部，所述限位机构包括储存组件、复位组件和引导组件，所述储存组件的底部与运输组件的顶部接触，所述复位组件栓接在储存组件的顶部，所述引导组件分别栓接测试组件的顶部和储存组件的底部。
[0010]采用上述技术方案，通过设置输送机构、限位机构和连接系统，输送机构可以对芯片进行输送和批量短路检测，限位机构可以对芯片进行辅助限位，连接系统可以对输送机构和限位机构进行控制。
[0011]本专利技术进一步设置为：所述控制组件包括支撑底座、液压杆和控制面板，所述液压杆栓接在支撑底座顶部的两侧，所述控制面板栓接在支撑底座的前侧。
[0012]采用上述技术方案，通过设置控制组件，支撑底座可以对测试组件和限位组件进行支撑和限位，液压杆可以在通电并启动后，带动测试组件进行上下移动，控制面板可以便于使用者对连接系统进行控制。
[0013]本专利技术进一步设置为：所述测试组件包括测试板、测试探头和限位板，所述测试板栓接在液压杆的顶部，所述测试探头栓接在测试板的顶部，所述限位板栓接在测试板的顶
部。
[0014]采用上述技术方案，通过设置测试组件，测试板可以对测试探头进行支撑和限位，测试探头可以对所需测试的芯片进行短路测试，限位板可以对限位机构进行限位。
[0015]本专利技术进一步设置为：所述限位组件包括限位底板、引导槽和支撑立板，所述限位底板栓接在支撑底座的顶部，所述引导槽开设在限位底板的顶部，所述支撑立板栓接在限位底板顶部的前侧和后侧，所述引导槽的内侧与测试板的表面接触。
[0016]采用上述技术方案，通过设置限位组件，限位底板可以对校正组件和支撑立板进行支撑和限位，引导槽可以对测试板的移动进行限位，支撑立板可以对运输组件进行支撑和下位。
[0017]本专利技术进一步设置为：所述校正组件包括校正框架、校正槽和放置板，所述校正框架栓接在支撑立板的右侧，所述校正槽开设在校正框架内侧的顶部，所述放置板栓接在校正槽的右侧。
[0018]采用上述技术方案，通过设置校正组件，校正框架可以对校正槽进行支撑和限位，校正槽可以对限位机构的移动进行校正，放置板可以对限位机构进行支撑和限位。
[0019]本专利技术进一步设置为：所述运输组件包括支撑外壳、电动传送带和支撑带，所述支撑外壳栓接在支撑立板的顶部，所述电动传送带栓接在支撑外壳的内侧，所述支撑带固定连接在电动传送带的表面。
[0020]采用上述技术方案，通过设置运输组件，支撑外壳可以对电动传送带进行支撑和限位，电动传送带为两个转轴和一个输送带组成的，由伺服电机带动转轴转动让输送带进行往复式运动的结构，可以带动支撑带进行往复式运动，支撑带可以对限位机构进行支撑，并且带动限位机构进行移动。
[0021]本专利技术进一步设置为：所述储存组件包括储存板、储存槽和限位槽，所述储存板的底部与支撑带的顶部滑动连接，所述储存槽开设在储存板的顶部，所述限位槽开设在储存板的顶部。
[0022]采用上述技术方案，通过设置储存组件，储存板可以带动芯片进行移动，储存槽可以对芯片进行暂时性储存，限位槽可以与限位板接触并对储存板进行辅助定位。
[0023]本专利技术进一步设置为：所述复位组件包括弱磁片、芯片底座和测试孔，所述弱磁片栓接在储存槽内侧的底部，所述芯片底座栓接在储存槽内侧的底部，所述测试孔开设在芯片底座的底部。
[0024]采用上述技术方案，通过设置复位组件，弱磁片可以对芯片进行辅助性吸附，芯片底座可以对芯片进行辅助性支撑，测试孔可以便于测试探头与芯片接触并进行短路测试。
[0025]本专利技术进一步设置为：所述引导组件包括顶电磁铁圈、底电磁铁圈和缓冲垫，所述顶电磁铁圈栓接在储存板的底部，所述底电磁铁圈栓接在测试板的顶部，所述缓冲垫粘接在底电磁铁圈的顶部。
[0026]采用上述技术方案，通过设置引导组件，顶电磁铁圈可以与底电磁铁圈配合，将测试板与储存板进行连接，可以让顶电磁铁圈与底电磁铁圈因为磁力而互相吸附，并且将测试板与储存板进行辅助定位，缓冲垫可以减缓顶电磁铁圈与底电磁铁圈之间接触时产生的冲击。
[0027]本专利技术进一步设置为：所述连接系统包括控制中枢、输送模块、定位模块和连接模
块，所述控制中枢与输送模块双向电性连接，所述控制中枢与输送模块双向电性连接，所述控制中枢与定位模块双向电性连接，所述控制中枢与连接模块双向电性连接，所述连接系统单向电性连接有供电模块。
[0028]采用上述技术方案，通过设置连接系统，控制中枢为控制面板，可以对输送模块、定位模块和连接模块进行控制，并且对输送模块、定位模块和连接模块输送的数据信息进行处理和分析，输送模块为运输组件，可以根据控制中枢发出的指令对芯片进行输送，定位模块为液压杆，可以根据控制中枢发出的指令将测试板抬升和降落，连接模块为引导组件，可以更具控制中枢发出的指令将测试板与储存板连接，供电模块由市政供电。
[0029]综上所述，本专利技术具有以下有益效果：
[0030]1、通过设置输送机构，控制组件可以对连接系统进行控制，并且可以带动测试组件进行上下移动，测试组件可以对所需进行短路测试的芯片进行测试，限位组件可以对校正组件和运输组件进行支撑和限位，增加整体结构的稳定性，校正组件可以对限位机构的移动进行校正，运输组件可以对限位机构进行输送，便于限位机构将批量的芯片输送到测试组件处进行批量短路测试；
[0031]2、通过设置限位机构和连接系统，储存组件可以对所需进行短路测试的芯本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，包括输送机构(1)、限位机构(2)和连接系统(3)，其特征在于：所述限位机构(2)活动连接在输送机构(1)的顶部，输送机构(1)包括控制组件(101)、测试组件(102)、限位组件(103)、校正组件(104)和运输组件(105)，所述测试组件(102)栓接在控制组件(101)的顶部，所述限位组件(103)栓接在控制组件(101)的顶部，所述校正组件(104)栓接在限位组件(103)的右侧，所述运输组件(105)栓接在限位组件(103)的顶部，所述限位机构(2)包括储存组件(201)、复位组件(202)和引导组件(203)，所述储存组件(201)的底部与运输组件(105)的顶部接触，所述复位组件(202)栓接在储存组件(201)的顶部，所述引导组件(203)分别栓接测试组件(102)的顶部和储存组件(201)的底部。2.根据权利要求1所述的一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，其特征在于：所述控制组件(101)包括支撑底座(1011)、液压杆(1012)和控制面板(1013)，所述液压杆(1012)栓接在支撑底座(1011)顶部的两侧，所述控制面板(1013)栓接在支撑底座(1011)的前侧。3.根据权利要求2所述的一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，其特征在于：所述测试组件(102)包括测试板(1021)、测试探头(1022)和限位板(1023)，所述测试板(1021)栓接在液压杆(1012)的顶部，所述测试探头(1022)栓接在测试板(1021)的顶部，所述限位板(1023)栓接在测试板(1021)的顶部。4.根据权利要求3所述的一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，其特征在于：所述限位组件(103)包括限位底板(1031)、引导槽(1032)和支撑立板(1033)，所述限位底板(1031)栓接在支撑底座(1011)的顶部，所述引导槽(1032)开设在限位底板(1031)的顶部，所述支撑立板(1033)栓接在限位底板(1031)顶部的前侧和后侧，所述引导槽(1032)的内侧与测试板(1021)的表面接触。5.根据权利要求4所述的一种用于芯片短路测试机台的辅助定位结构，其特征在于：所述校正组件(104)包括校正框架(1041)、校正槽(1042)和放置板(1043)，所述校正框架(1041)栓接在支...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈荣峰，
申请(专利权)人：厦门新晟义集成电路有限公司，
类型：发明
国别省市：
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