宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法及装置制造方法及图纸

本申请提供一种宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法及装置，属于芯片电磁兼容测量技术领域。方法包括：构建初始验证装置；采用初始验证装置测量得到校准波形；根据初始验证装置构建第二验证装置；在无屏蔽环境下，采用第二验证装置测量得到第一瞬态干扰波形；在屏蔽环境下，采用第二验证装置测量得到第二瞬态干扰波形；根据第二验证装置构建第三验证装置；在屏蔽环境下，采用第三验证装置测量得到第三瞬态干扰波形；根据第三验证装置构建第四验证装置；在屏蔽环境下，采用第四验证装置测量得到第四瞬态干扰波形；根据校准波形、第一瞬态干扰波形、第二瞬态干扰波形、第三瞬态干扰波形和第四瞬态干扰波形确定影响宽频瞬态干扰测量的因素。量的因素。量的因素。

【技术实现步骤摘要】
宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法及装置


[0001]本申请涉及芯片电磁兼容测量
，具体地涉及一种宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法以及一种宽频瞬态干扰测量影响因素验证装置。

技术介绍

[0002]随着我国电网的快速发展建设，特高压、智能化引领了新一代电网的发展潮流。电子设备在电网中的应用规模大幅上升。变电站作为电网运行控制的枢纽，汇集了大部分的电网设备。为了不断提升电网的智能化水平，降低变电站造价，变电站建设呈现两大趋势：一是电子设备越来越多地采用就地化布置，紧邻高压设备，甚至挂接在高压设备外壳上；二是电子设备种类和数量明显增加，如新增电子互感器、智能终端、合并单元、数字计量表计、智能组件等。就地化、智能化在带来益处同时也暴露出不少问题。近年来，变电站中电子设备因受到电磁干扰而失效的案例（不可恢复的硬件故障）明显上升，多次导致变电站强迫停运，危及电网安全，成为制约智能变电站建设的主要瓶颈。大量智能设备运行于高压设备旁或与高压设备集成，复杂的电磁环境是降低智能设备可靠性的重要因素，一是破坏智能设备的绝缘、甚至导致其内部芯片烧毁，形成永久性破坏本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法，其特征在于，所述方法包括：构建初始验证装置；采用初始验证装置测量得到校准波形；根据初始验证装置构建第二验证装置；在无屏蔽环境下，采用第二验证装置测量得到第一瞬态干扰波形；在屏蔽环境下，采用第二验证装置测量得到第二瞬态干扰波形；根据第二验证装置构建第三验证装置；在屏蔽环境下，采用第三验证装置测量得到第三瞬态干扰波形；根据第三验证装置构建第四验证装置；在屏蔽环境下，采用第四验证装置测量得到第四瞬态干扰波形；根据校准波形、第一瞬态干扰波形、第二瞬态干扰波形、第三瞬态干扰波形和第四瞬态干扰波形确定影响宽频瞬态干扰测量的因素。2.根据权利要求1所述的宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法，其特征在于，根据校准波形、第一瞬态干扰波形、第二瞬态干扰波形、第三瞬态干扰波形和第四瞬态干扰波形确定影响宽频瞬态干扰测量的因素，包括：比较校准波形、第一瞬态干扰波形和第二瞬态干扰波形，将第一瞬态干扰波形中叠加的干扰确定为环境干扰；比较校准波形、第三瞬态干扰波形和第四瞬态干扰波形，将第三瞬态干扰波形和第四瞬态干扰波形中叠加的干扰确定为测量探头的寄生电感。3.根据权利要求1所述的宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法，其特征在于，构建初始验证装置，包括：采用第一同轴屏蔽线将标准源与示波器的第一通道连接，形成初始验证装置，所述第一同轴屏蔽线的阻抗特性与标准源的输出档位及示波器的第一通道相对应。4.根据权利要求3所述的宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法，其特征在于，所述根据初始验证装置构建第二验证装置，包括：将初始验证装置中的第一同轴屏蔽线替换为某一段剖开的第二同轴屏蔽线，作为第二验证装置，所述第二同轴屏蔽线的阻抗特性与标准源的输出档位及示波器的第一通道相对应。5.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：成睿琦，高杰，黄保成，杨小娟，仝傲宇，翟振，张庆平，闫振华，夏绪卫，张爽，
申请(专利权)人：国网宁夏电力有限公司电力科学研究院国家电网有限公司，
类型：发明
国别省市：