本发明专利技术涉及显示技术领域，公开了一种显示面板及其检测方法、显示装置，显示面板包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个子像素包括至少一个待检测元件，至少一个待检测元件与至少一条第一检测线电连接；非显示区包括至少一个检测焊盘，第一检测线与检测焊盘电连接。本发明专利技术可实现对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，有利于提高产品质量和产品良率。率。率。
【技术实现步骤摘要】
显示面板及其检测方法、显示装置
[0001]本专利技术涉及显示
，更具体地，涉及一种显示面板及其检测方法、显示装置。
技术介绍
[0002]随着科技的不断发展，有机发光二极管(OLED，Organic Light
‑
Emitting Display)凭借其亮度高、驱动电压低、节能等优势得到了快速的发展。
[0003]通常，在有机发光二极管显示装置中，需要通过像素电路对发光元件(如OLED)进行驱动控制。常用的像素电路包括驱动晶体管等多个晶体管，通过调整驱动晶体管生成的驱动电流，进而控制发光元件发光。子像素中器件是否存在缺陷直接影响发光元件的发光效果，从而影响显示面板的显示效果。
[0004]因此，提供一种能够实现对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，有利于提高产品质量和产品良率，是本领域技术人员亟待解决的技术问
技术实现思路
[0005]有鉴于此，本专利技术提供了一种显示面板及其检测方法、显示装置，可实现对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，有利于提高产品质量和产品良率。
[0006]本专利技术提供一种显示面板，包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个子像素包括至少一个待检测元件，至少一个待检测元件与至少一条第一检测线电连接；非显示区包括至少一个检测焊盘，第一检测线与检测焊盘电连接。
[0007]基于同一思想，本专利技术还提供了一种显示面板的检测方法，显示面板包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个子像素包括至少一个待检测元件，至少一个待检测元件与至少一条第一检测线电连接；非显示区包括至少一个检测焊盘，第一检测线与检测焊盘电连接；检测方法包括：根据检测焊盘的信号确定第一检测线上的电流信号；根据电流信号判断待检测元件所在子像素内器件是否存在缺陷。
[0008]基于同一思想，本专利技术还提供了一种显示装置，包括本专利技术提供的显示面板。
[0009]与现有技术相比，本专利技术提供的显示面板及其检测方法、显示装置，至少实现了如下的有益效果：
[0010]本专利技术提供的显示面板中，显示区内至少一个子像素包括至少一个待检测元件，待检测元件与第一检测线电连接，第一检测线与检测焊盘电连接，即检测焊盘作为测试端使用，子像素中待检测元件上的电流信号可通过第一检测线传输至检测焊盘，可根据检测焊盘的信号确定与其电连接的第一检测线上的电流信号，根据电流信号可判断与该第一检测线电连接的待检测元件所在子像素内器件是否存在缺陷，即可根据电流信号对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，从而后续可根据检测结果以排除不良品，避免不良品流
出，影响产品良率。本实施例提供的显示面板检测结构简单，可直接测得显示区内子像素中器件是否有问题，有利于实现面板内部子像素中器件的检测，提高产品质量和产品良率，降低成本。
[0011]当然，实施本专利技术的任一产品不必特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。
[0012]通过以下参照附图对本专利技术的示例性实施例的详细描述，本专利技术的其它特征及其优点将会变得清楚。
附图说明
[0013]被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本专利技术的实施例，并且连同其说明一起用于解释本专利技术的原理。
[0014]图1是本专利技术提供的一种显示面板的平面结构示意图；
[0015]图2是本专利技术提供的显示面板的一种局部结构示意图；
[0016]图3是本专利技术提供的另一种显示面板的平面结构示意图；
[0017]图4是本专利技术提供的显示面板的一种膜层示意图；
[0018]图5是本专利技术提供的又一种显示面板的平面结构示意图；
[0019]图6是本专利技术提供的又一种显示面板的结构示意图；
[0020]图7是图6所述的显示面板中A部的一种结构示意图；
[0021]图8是本专利技术提供的一种像素电路的电路图；
[0022]图9是本专利技术提供的另一种显示面板的局部电路版图；
[0023]图10是本专利技术提供的又一种显示面板的结构示意图；
[0024]图11是本专利技术提供的显示面板的另一种局部结构示意图；
[0025]图12是本专利技术提供的又一种显示面板的结构示意图；
[0026]图13是本专利技术提供的一种检测方法的流程图；
[0027]图14是本专利技术提供的另一种检测方法的流程图；
[0028]图15是本专利技术提供的又一种检测方法的流程图；
[0029]图16是本专利技术提供的一种显示装置的平面示意图。
具体实施方式
[0030]现在将参照附图来详细描述本专利技术的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本专利技术的范围。
[0031]以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本专利技术及其应用或使用的任何限制。
[0032]对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。
[0033]在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。
[0034]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。
[0035]图1是本专利技术提供的一种显示面板的平面结构示意图，参考图1，本实施例提供一种显示面板，显示面板包括显示区AA和围绕显示区AA的非显示区NA；
[0036]显示区AA包括多个子像素P和至少一条第一检测线10，至少一个子像素P包括至少一个待检测元件20，至少一个待检测元件20与至少一条第一检测线10电连接；
[0037]非显示区NA包括至少一个检测焊盘31，第一检测线10与检测焊盘31电连接。
[0038]具体的，本实施例提供的显示面板包括显示区AA和围绕显示区AA设置的非显示区NA，显示区AA内一般可以包括能够实现显示功能的子像素、扫描线、信号线、像素电极等，或者当显示面板还具有触控功能时，显示区AA内还可以包括触控电极、触控信号线等；非显示区NA可以理解为显示面板的边框区，显示面板的非显示区NA内可以设置一些驱动电路如扫描驱动电路等，本实施例的显示面板包括但不局限于上述结构，对于显示面板的结构本实施例在此不作具体限定，具体可参考相关技术中显示面板的结构进行理解。
[0039]本实施例提供的显示面板可以为有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode，OLED)显示面板，显示面板包括多个子像素P，子像素P位于显示区AA。可选的，多个子像素P可以包括多种不同颜色，如至少可以包括红色子像素、绿色子像素、蓝色子像素，还可以包括白色子像素等。多个子像素P在显示面板上可以呈阵列排布，或本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区；所述显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个所述子像素包括至少一个待检测元件，至少一个所述待检测元件与至少一条所述第一检测线电连接；所述非显示区包括至少一个检测焊盘，所述第一检测线与所述检测焊盘电连接。2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一检测线与所述待检测元件位于不同膜层。3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括多条数据线和至少一条数据连接线，至少一条所述数据线与所述数据连接线电连接，所述数据连接线位于所述显示区；所述显示面板还包括衬底基板、第一金属层和第二金属层，所述第一金属层位于所述衬底基板和所述第二金属层之间，所述数据线位于所述第一金属层，所述数据连接线至少部分位于所述第二金属层；所述第一检测线至少部分位于所述第二金属层。4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括功能器件区，所述显示区围绕所述功能器件区；所述数据线包括第一数据线，所述第一数据线包括第一数据段和第二数据段，所述第一数据段和所述第二数据段沿第一方向位于所述功能器件区的两侧，所述第一方向与所述显示面板所在平面相平行；所述数据连接线电连接所述第一数据段和所述第二数据段。5.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，所述数据线包括第二数据线，所述第二数据线通过所述数据连接线与数据焊盘电连接。6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素包括像素电路和与所述像素电路电连接的发光元件；所述像素电路包括多个晶体管，至少一个所述像素电路中至少一个晶体管为第一晶体管；至少一个所述待检测元件包括第一待检测元件，所述第一待检测元件包括所述第一晶体管。7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一晶体管与两条所述第一检测线电连接，其中，一条所述第一检测线电连接所述第一晶体管的源极信号，另一条所述第一检测线电连接所述第一晶体管的漏极信号。8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，所述第一晶体管包括源极、漏极、栅极和有源层，所述有源层包括源极区、漏极区和沟道区，所述源极区与所述源极电连接，所述漏极区与所述漏极电连接，沿垂直于所述显示面板所在平面，所述沟道区与所述栅极至少部分交叠；与所述第一晶体管电连接的两条所述第一检测线中，一条所述第一检测线与所述源极区电连接，另一条所述第一检测线与所述漏极区电连接。9.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，所述第一晶体管为驱动晶体管。
10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述子像素包括像素电路和与所述像素电路的发光元件；至少一个所述子像素中发光元件为第一发光元件；至少一个所述待检测元件包括第二...
【专利技术属性】
技术研发人员：靳春明，
申请(专利权)人：武汉天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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