一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏；该光学测量系统能够对各种投影仪画质进行光学测量，通过显示器查看数据，并且测量效率高，保证了产品合格率。产品合格率。产品合格率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统


[0001]本技术涉及光学自动化检测行业，具体涉及一种适合于投影仪画质测量的光学自动测量系统。

技术介绍

[0002]目前的投影仪都是使用照度计进行传统的亮度测量，由于投影仪使用场景不断地扩大，投影尺寸也各有不同，投影仪的画质效果直接影响用户的体验，大规模的量产，传统的测试方法已经不能符合当今投影仪质量的标准，无法满足投影仪厂商的生产效益。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术目的是提供一种能够对投影仪画质进行二维光学测量，并且测量效率高，保证了产品合格率的投影仪光学测量系统。
[0004]为了解决上述技术问题，本技术的技术方案是：一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，所述机架内包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏；该光学测量系统能够对各种投影仪画质本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统，其特征在于：所述一种基于成像式对投影仪画质测量的光学测量系统包括二维成像色度计、投影仪、显示器、平移架、投影屏、测试台、外框，所述二维成像色度计固定安装在外框外部；所述投影仪固定设置在测试台中间，并与二维成像色度计垂直；所述显示器安装在外框右侧；所述平移架设置在外框内部，并且可以平行移动；所述平移架固定设置有投影屏。2.如权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：梁田喜，
申请(专利权)人：东莞雷云光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：