一种智能阻抗分析式回收数据的方法以及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种智能阻抗分析式回收数据的方法以及系统，包括：设置一阻抗测试指令；将阻抗测试指令通过以太网收发器传输至FPGA中，控制FPGA进行阻抗测试；将测试阻抗指令输入阻抗测试模中；根据正向和反向测试指令控制阻抗测试电路对负载进行智能正向、反向电阻测试，直至达到预设精度值正向电阻值和反向电阻值；判断正向电阻值和反向电阻值是否满足正常阻抗范围；若不满足，则FPGA反馈异常；若满足，则设置数据回读指令传输至所述FPGA中，触发数据回读指令读取待测负载的数据，并根据读取数据指令读取待测负载的数据，本发明专利技术将智能阻抗测试与数据回读结合起来，在检测时先进行阻抗分析，对硬件保护，提高工作效率以及稳定性。提高工作效率以及稳定性。提高工作效率以及稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种智能阻抗分析式回收数据的方法以及系统


[0001]本专利技术涉及一种数据回读领域，特别是涉及一种智能阻抗分析式回收数据的方法以及系统。

技术介绍

[0002]弹载飞行结束后，有效信息存放于存储器内。通常情况下，存储器的落地环境都比较恶劣。如果不对存储器进行高效快速的系统阻抗分析，就贸然给存储器加电直接进行读数操作。读数过程中的操作风险极大，可能会导致不可逆的硬件损坏甚至造成数据的永久性丢失。
[0003]以太网硬件系统跨时钟域架构的设计，导致在线速条件下长时间的测试会出现丢包现象。针对该现象，在标准UDP协议的基础上加入了重传机制，实现对以太网链路的优化，增强读数系统的可靠性。
[0004]目前，市面上存在大量阻抗测试设备。比如，南京邮电大学陈禹，渠吉庆等人研究的网络阻抗测试仪，能够在误差2％之内测出负载的阻抗模值。但是，类似的阻抗测试设备仅能实现单路的负载阻抗测试，而存储器系统的阻抗测试负载工作量大，单一阻抗测试耗费周期长、系统智能化程度低。需要有专门的航天配套设备，针对特定的存储器硬件电路，设计出配套的智能阻抗测试设备，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种智能阻抗分析式回收数据的方法，其特征在于，包括：设置一阻抗测试指令；将所述阻抗测试指令通过以太网收发器传输至FPGA中，控制所述FPGA进行阻抗测试；将所述测试阻抗指令输入阻抗测试模块中，激活正向和反向测试指令；根据所述正向和反向测试指令控制阻抗测试电路对待测负载进行智能正向、反向电阻测试，直至达到预设精度值的正向电阻值和反向电阻值；判断所述正向电阻值和所述反向电阻值是否满足正常阻抗范围；若不满足，则所述FPGA反馈所述待测负载异常；若满足，则设置数据回读指令传输至所述FPGA中，并根据所述数据回读指令读取所述待测负载的数据。2.如权利要求1所述的智能阻抗分析式回收数据的方法，其特征在于，所述根据所述正向和反向测试指令控制阻抗测试电路对待测负载进行智能正向、反向电阻测试，直至达到预设精度值的正向电阻值和反向电阻值包括：S1：利用所述阻抗测试电路的最低量程对所述待测负载进行正反向电阻测试，得到正向和反向电阻值；S2：判断所述正向和反向电阻值的精度是否满足预设精度；S3：若不满足，则增加所述阻抗测试电路的测量量程，重新进行正向、反向电阻测试，将测试结果返回步骤S2中进行重新判断；S4：若满足，则将所述正向电阻值和所述反向电阻值反馈至所述FPGA。3.如权利要求1所述的智能阻抗分析式回收数据的方法，其特征在于，所述判断所述正向电阻值和所述反向电阻值是否满足正常范围包括：将所述正向电阻值和所述反向电阻值上传至所述FPGA中，通过分压法计算得到待测负载的阻抗值；将所述待测负载的阻抗值反馈，并判断所述待测负载的阻抗值是否满足正常阻抗范围。4.如权利要求3所述的智能阻抗分析式回收数据的方法，其特征在于，所述设置数据回读指令传输至所述FPGA中，并根据所述数据回读指令读取所述待测负载的数据包括：当所述待测负载的阻抗值满足所述正常阻抗范围时；控制所述FPGA给所述待测负载供电，并设置所述数据回读指令通过所述FPGA发送至所述待测负载；提取所述待测负载的数据至所述FPGA；控制所述FPGA通过所述以太网收发器上传所述待测负载的数据。5.如权利要求4所述的智能阻抗分析式回收数据的方法，其特征在于，所述控制所述FPGA通过所述以太网收发器上传所述待测负载的数据包括：控制所述FPGA中的FIFO模块读取所述待测负载的数据；通过所述以太网收发器将所述待测负载的...

【专利技术属性】
技术研发人员：任勇峰，刘东海，贾兴中，王淑琴，韩雨龙，栗媛，
申请(专利权)人：太原市华纳方盛科技有限公司，
类型：发明
国别省市：