一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统及方法技术方案

技术编号:38651175 阅读:13 留言:0更新日期:2023-09-02 22:40
本发明专利技术涉及自动光学检测技术领域,具体涉及一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统及方法。该方法为线阵相机与线阵光源以预定的角度布置于工作台;工作台运送玻璃至传感器感应位置,即到检测位;线阵相机扫描待测玻璃,以取得实际的扫描图像;线阵相机上传扫描图像至上位机;上位机接收扫描图像,并进行图像拼接、图像增强、特征抽取、图像识别,以确定是否存在微缺陷;控制台根据上位机检测结果,将OK品及NG品输送至不同位置。本发明专利技术增强了对微弱划痕的成像,提高了对微弱划痕的兼容性以及检测效率,降低了漏检率,能够解决现有技术中检测系统结构复杂并且检测效率低下的问题。统结构复杂并且检测效率低下的问题。统结构复杂并且检测效率低下的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统及方法


[0001]本专利技术属于自动光学检测
,尤其涉及一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统及方法。

技术介绍

[0002]玻璃盖板由于导入了更多更复杂的工序以及最终客户对外观要求的不断提高,在生产过程中无可避免的会产生各种各样类特征不同的缺陷,常见的有划痕、凹坑、丝印不良、杂质、异色等外观缺陷。划痕的存在一方面会影响产品性能,如显示效果变差或影响成像效果等,另一方面影响产品的美观度,因此,是产品质量控制的重要环节。
[0003]由于手机玻璃盖板产品的表面缺陷检测,是产品品质控制的关键。但传统地玻璃盖板划痕缺陷检测是通过人工用眼睛和手感去评定,而人工检测往往出错率较高,且每个人对缺陷的定义程度可能存在偏差。常规的表面划痕检测,通常是靠人工目检,这种方式不仅效率低下,人力成本高,而且对于许多细小划痕很容易漏检。
[0004]随着工业自动化水平的不断提高,基于机器视觉的检测设备已越来越多,使检测效率大大提高,可检测的最小划痕可达到微米级。然而,由于表面划痕的不规则性,其形状、方向和尺寸都存在很大的随机性,往往对于微弱划痕的宽容性较低,会出现微弱划痕成像弱或无法成像问题。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的上述问题,本专利技术提供了一种表面微弱划痕检测系统及方法,能够解决现有技术中检测系统结构复杂并且检测效率低下的问题,降低漏检率,提高检测效率。
[0006]为实现上述目的,本专利技术实施例提供了如下的技术方案:
[0007]第一方面,在本专利技术提供的一个实施例中,提供了一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统,该系统包括上位机、两个线阵光源、线阵相机、具有传感器的工作台组件、控制系统;
[0008]在所述工作台的上方,位于所述工作台传送方向的两侧以V型布置两个线阵光源;所述线阵相机设置于两个线阵光源之间非中间位置,所述传感器用于对移动到感应位置的待测玻璃盖板检测,向所述线阵相机反馈触发信号并触发线阵相机拍照,得到线阵相机采集的玻璃盖板图像;
[0009]所述上位机用于接收所述线阵相机采集的玻璃盖板图像,对所述玻璃盖板图像进行图像处理和划痕提取,获取到线阵相机采集的图像中存在的划痕信息并判断待测玻璃盖板中的划痕是否构成NG。
[0010]作为本专利技术的进一步方案,所述线阵光源发出的光线及线阵相机检测区域交汇到于同一区域。
[0011]作为本专利技术的进一步方案,两个线阵光源中的一个线阵光源与线阵相机异侧,用
于在线阵相机的检测区域形成暗场环境,另一个线阵光源与线阵相机同侧,用于向检测区域补光。
[0012]作为本专利技术的进一步方案,所述线阵光源与水平面的夹角在25
°‑
65
°
之间,所述线阵相机与水平面的夹角在45
°‑
75
°
之间。
[0013]作为本专利技术的进一步方案,所述线阵光源及相机安装在角度调节支架上,待测玻璃盖板放置在所述工作台组件的运动平台上,所述运动平台用于带动待测玻璃盖板移动至所述传感器的感应位置。
[0014]作为本专利技术的进一步方案,向所述线阵相机反馈触发信号并触发线阵相机拍照,得到的线阵相机采集的玻璃盖板图像是由线阵相机采集的待测玻璃盖板在检测区域时两个线阵光源分别在线阵相机两侧照射下拍摄的图像。
[0015]第二方面,在本专利技术提供的一个实施例中,提供了一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测方法,该方法包括以下步骤:
[0016]线阵相机与线阵光源以预定的角度布置于工作台;
[0017]工作台运送玻璃至传感器感应位置,即到检测位;
[0018]线阵相机扫描待测玻璃,以取得实际的扫描图像;
[0019]线阵相机上传扫描图像至上位机;
[0020]上位机接收扫描图像,并进行图像拼接、图像增强、特征抽取、图像识别,以确定是否存在微缺陷;
[0021]控制台根据上位机检测结果,将OK品及NG品输送至不同位置。
[0022]本专利技术提供的技术方案与现有技术方案相比,具有如下有益效果:
[0023]本专利技术提供的一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统及方法,基于机器视觉检测,通过两个超高亮线阵光源分别在线阵相机两侧按照预定的角度照射下对划痕进行成像,增强了对微弱划痕的成像,提高了对微弱划痕的兼容性以及检测效率,降低了漏检率,能够解决现有技术中检测系统结构复杂并且检测效率低下的问题。
[0024]本专利技术的这些方面或其他方面在以下实施例的描述中会更加简明易懂。应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本专利技术。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例。在附图中:
[0026]图1为本专利技术一个实施例的一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统的结构框图。
[0027]图2为本专利技术一个实施例的一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统的架设结构示意图。
[0028]图3为本专利技术一个实施例的一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统进行检测时NG划痕成像效果图。
[0029]图4为本专利技术一个实施例的一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测方法的流程图。
具体实施方式
[0030]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。
[0031]在本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的描述的一些流程中,包含了按照特定顺序出现的多个操作,但是应该清楚了解,这些操作可以不按照其在本文中出现的顺序来执行或并行执行,操作的序号如101、102等,仅仅是用于区分开各个不同的操作,序号本身不代表任何的执行顺序。另外,这些流程可以包括更多或更少的操作,并且这些操作可以按顺序执行或并行执行。需要说明的是,本文中的“第一”、“第二”等描述,是用于区分不同的消息、设备、模块等,不代表先后顺序,也不限定“第一”和“第二”是不同的类型。
[0032]下面将结合本专利技术示例性实施例中的附图,对本专利技术示例性实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的示例性实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0033]由于产品由于表面划痕的不规则性,其形状、方向和尺寸都存在很大的随机性,往往对于微弱划痕的宽容性较低,会出现微弱划痕成像弱或无法成像问题。有鉴于此,本专利技术提供的一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统及方法,能够解决现有技术中检测系统结构复杂并且检测效率低下的问题,降低漏检率,提高检测效率。
[00本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统,其特征在于,该系统包括上位机、两个线阵光源、线阵相机、具有传感器的工作台组件、控制系统;在所述工作台的上方,位于所述工作台传送方向的两侧以V型布置两个线阵光源;所述线阵相机设置于两个线阵光源之间非中间位置,所述传感器用于对移动到感应位置的待测玻璃盖板检测,向所述线阵相机反馈触发信号并触发线阵相机拍照,得到线阵相机采集的玻璃盖板图像;所述上位机用于接收所述线阵相机采集的玻璃盖板图像,对所述玻璃盖板图像进行图像处理和划痕提取,获取到线阵相机采集的图像中存在的划痕信息并判断待测玻璃盖板中的划痕是否构成NG。2.如权利要求1所述的透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统,其特征在于,所述线阵光源发出的光线及线阵相机检测区域交汇到于同一区域。3.如权利要求2所述的透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统,其特征在于,两个线阵光源中的一个线阵光源与线阵相机异侧,用于在线阵相机的检测区域形成暗场环境,另一个线阵光源与线阵相机同侧,用于向检测区域补光。4.如权利要求3所述的透明玻璃盖板2D轻微划痕缺陷检测系统,其特征在于,所述线阵光源与水平面的夹角在25
°‑

【专利技术属性】
技术研发人员:施桂森
申请(专利权)人:厦门微亚智能科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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