一种评估齿轮副接触斑的方法技术

一种评估齿轮副接触斑的方法，包括以下步骤：S1：建理论参数的三维模型，计算得到任意点的理论展开长度；S2：扫描实际齿轮齿廓，得到扫描线上任意点的实际展开长度；S3：作扫描线上各点的实际展开长度与理论展开长度之差，得到偏差值；S4：对偏差值使用拉格朗日的多项式插值法，得到齿轮齿廓任意点的偏差值；S5：选取不同齿向曲线，并对齿向曲线以及扫描线上所有点的偏差值识别，将相等偏差值连线，得到等高线图；S6：分别确定齿轮副的主、从动齿轮的齿向曲线，将齿轮副齿向曲线及扫描线相应位置的偏差值叠加，得到叠加值；S7：对叠加值进行识别，将相等的叠加值连接成等高线图，显示齿轮副接触斑；S8：根据S7得到的等高线图评估齿轮副情况。根据S7得到的等高线图评估齿轮副情况。根据S7得到的等高线图评估齿轮副情况。

【技术实现步骤摘要】
一种评估齿轮副接触斑的方法


[0001]本专利技术涉及齿轮传动领域，具体涉及一种评估齿轮副接触斑的方法。

技术介绍

[0002]齿轮形貌、装配啮合好坏对齿轮传动的可靠性、振动噪声均有直接的影响。
[0003]目前，如图7所示，齿轮评价方法是通过扫描探针沿着齿形路线11、12、13和沿着齿向路线14、15、16走针测量，得到齿轮实际的数模、轮廓、渐开线等参数的数值，再将这些参数的数值与国标规定参数数值进行比对，进行偏离评估。但是，这种方法仅针对单个齿轮测量进行质量好坏的评估，不能对齿轮副接触斑进行系统性的评价，功能较单一；扫描探针测量花费时间较多，扫描线设置较少，就会导致实际齿廓评估并不准确，评估效果差，若要得到较为准确的评估结果，只能设置更多条扫描线，这样又会花费更多的时间，而且现有技术中两种数值进行比较的评估方法涉及到几十组数据，工作人员需要仔细对比，导致评估效率低，也容易看错，更别说快速、直观地了解齿轮形貌和齿轮副的配合情况。如何解决这些问题需要一种准确快速、直观地评估齿轮副接触斑的方法。

技术实现思路
<br/>[0004]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种评估齿轮副接触斑的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：根据设计的齿轮齿廓形状，建立理论参数的三维模型，通过计算得到理论齿廓任意点的展开长度；S2：对加工出的实际齿轮齿廓进行扫描，扫描线为齿面上齿向方向的多条扫描线，得到扫描线上任意点的实际展开长度；S3：计算机接收扫描线上任意点的实际展开长度并对应到三维模型上，计算扫描线上各点的实际展开长度与理论展开长度之差，得到各点展开长度的偏差值且存储在计算机中；S4：对各扫描线上同一齿宽处点的展开长度偏差值使用拉格朗日的多项式插值法，得到齿轮齿廓任意点的展开长度偏差值；S5：按需求选取多条不同的齿向曲线，并对齿向曲线以及扫描线上所有点的展开长度偏差值进行识别，将相等的展开长度偏差值进行连线，得到等高线图；S6：用步骤S4分别得到齿轮副的主动齿轮、从动齿轮的任意点的展开长度偏差值并确定齿向曲线，将齿轮副齿向曲线及扫描线啮合对应位置的展开长度偏差值进行叠加，得到齿向曲线及扫描线上任意点的叠加值；S7：对叠加...

【专利技术属性】
技术研发人员：王洪，曹志强，王攀，廖浚杰，罗航，余九州，
申请(专利权)人：重庆青山工业有限责任公司，
类型：发明
国别省市：