本发明专利技术是将具有直线偏振板的光学膜作为被检查物的上述直线偏振板的缺陷检查方法，上述光学膜依次具有剥离膜、上述直线偏振板和防护膜，上述缺陷检查方法具有配置工序：沿着光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、第1相位差补偿板、上述光学膜、第2相位差补偿板和具有第2偏振片的第2滤光片，并且以上述剥离膜侧的表面与上述相位差补偿板对置的朝向配置上述光学膜，上述第1相位差补偿板补偿上述剥离膜所具有的双折射，上述第2相位差补偿板补偿上述防护膜所具有的双折射。上述防护膜所具有的双折射。上述防护膜所具有的双折射。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】缺陷检查方法和缺陷检查装置
[0001]本专利技术涉及将光学膜作为被检查物的直线偏振板的缺陷检查方法和缺陷检查装置。
技术介绍
[0002]液晶显示装置、有机EL显示装置等显示装置中使用的偏振板通常是将偏振片夹在2片保护膜中而构成的。对于偏振板而言，为了贴合于显示装置，有时在一个保护膜上层叠粘合剂层，在另一个保护膜上层叠用于防止流通时在该保护膜的表面等产生损伤等的防护膜。粘合剂层上通常层叠有剥离膜。作为偏振片的具体例，可举出碘、二色性染料等二色性色素吸附取向于经单轴拉伸的聚乙烯醇系(PVA系)树脂膜而成的PVA系偏振膜、由包含聚合性液晶化合物的聚合物和二色性色素的液晶固化层形成的偏振片(以下，也称为“液晶偏振片”)等。液晶偏振片通常通过将包含聚合性液晶化合物的组合物涂布于基材膜上并使其固化而形成，具有能够制造薄的偏振片的优点。这样的PVA系偏振膜、液晶偏振片如后所述，具有使特定的振动面的直线偏振光通过的作用，被称为“直线偏振片”。另外，在该直线偏振片的单面或两面具有保护膜的部件通常被称为“直线偏振板”。
[0003]偏振板、偏振片有时在其制造阶段产生缺陷。例如，有时产生在偏振片与保护膜之间混入异物、或残留气泡的缺陷。另外，液晶偏振片有时因制造时的涂布不均而在偏振板的光学特性上产生不均。
[0004]因此，在将偏振板组装到显示装置之前的阶段，进行用于检测偏振板的缺陷的检查。该缺陷的检查如日本特开平9
‑
229817号公报(专利文献1)所示，在作为被检查物的偏振板与光源之间设置偏振滤光片之后，使该偏振板或偏振滤光片在平面方向上旋转，将它们各自的偏振轴方向设为特定的关系。在偏振轴方向彼此正交的情况下(即，在构成正交尼科尔棱镜的配置的情况下)，通过偏振滤光片的直线偏振光不透射偏振板。然而，如果在偏振板存在缺陷，则在该部位直线偏振光会透射，因此通过检测该光来判明缺陷的存在。
[0005]另一方面，在偏振板与偏振滤光片的偏振轴方向彼此平行的情况下，通过偏振滤光片的直线偏振光透射偏振板。然而，如果在偏振板存在缺陷，则在该部位直线偏振光被遮断，因此通过检测不到该光而判明缺陷的存在。
[0006]检查者通过目视来检测透射偏振板的光，或者通过将CCD相机与图像处理装置组合而成的图像解析处理值来自动检测透射偏振板的光，由此能够进行偏振板有无缺陷的检查。
[0007]现有技术文献
[0008]专利文献
[0009]专利文献1：日本特开平9
‑
229817号公报
技术实现思路
[0010]专利技术要解决的课题
[0011]根据专利文献1所记载的方法，虽然能够检测出像异物、气泡的混入那样在光学特性上与周围的差异较大的局部缺陷，但难以检测出光学特性的不均。
[0012]另外，在层叠有防护膜和剥离膜的状态下，由于防护膜和剥离膜的双折射的影响而难以检测偏振板的缺陷。
[0013]本专利技术的目的在于，提供一种在将在直线偏振板上层叠有防护膜和剥离膜的光学膜作为被检查物的情况下，能够检测直线偏振板的光学特性的不均的缺陷检查方法和缺陷检查装置。
[0014]用于解决课题的手段
[0015]本专利技术提供以下所示的缺陷检查方法和缺陷检查装置。
[0016]〔1〕一种缺陷检查方法，其是将具有直线偏振板的光学膜作为被检查物的上述直线偏振板的缺陷检查方法，
[0017]上述光学膜依次具有剥离膜、上述直线偏振板和防护膜，
[0018]上述缺陷检查方法具有：
[0019]配置工序，沿着光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、第1相位差补偿板、上述光学膜、第2相位差补偿板和具有第2偏振片的第2滤光片，并且以上述剥离膜侧的表面与上述第1相位差补偿板对置的朝向配置上述光学膜；
[0020]检测工序，从上述第1滤光片侧和上述第2滤光片侧中的任一侧沿着上述光轴入射光，并检测从另一侧射出的光；以及
[0021]判断工序，基于上述检测工序中的检测结果来判断上述光学膜的缺陷，
[0022]在上述配置工序中，以满足下述条件a和条件b的方式进行配置：
[0023](a)上述第1偏振片的吸收轴与上述直线偏振板的吸收轴所成的角度在90
°±5°
的范围内；
[0024](b)上述第2偏振片的吸收轴与上述直线偏振板的吸收轴所成的角度在90
°±
30
°
的范围内，
[0025]在上述检测工序中，
[0026]上述第1相位差补偿板补偿上述剥离膜所具有的双折射，上述第2相位差补偿板补偿上述防护膜所具有的双折射。
[0027]〔2〕根据〔1〕中记载的缺陷检查方法，其中，上述剥离膜包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂。
[0028]〔3〕根据〔1〕或〔2〕中记载的缺陷检查方法，其中，上述防护膜包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂。
[0029]〔4〕根据〔1〕～〔3〕中任一项记载的缺陷检查方法，其中，上述直线偏振板具有包含聚合性液晶化合物的固化物的偏振片。
[0030]〔5〕根据〔1〕～〔4〕中任一项记载的缺陷检查方法，其中，上述光学膜在上述直线偏振板与上述剥离膜之间还具有λ/4相位差层，
[0031]在上述配置工序中，在上述第1滤光片与上述第1相位差补偿板之间配置λ/4相位差板。
[0032]〔6〕一种缺陷检查装置，其是将具有直线偏振板的光学膜作为被检查物的上述直线偏振板的缺陷检查装置，
[0033]上述光学膜依次具有剥离膜、上述直线偏振板和防护膜，
[0034]上述缺陷检查装置沿着光轴依次具有：具有第1偏振片的第1滤光片、能够补偿上述剥离膜所具有的双折射的第1相位差补偿板、能够补偿上述防护膜所具有的双折射的第2相位差补偿板、以及具有第2偏振片的第2滤光片，此外，还具有能够从上述第1滤光片侧或上述第2滤光片侧沿着上述光轴照射光的光源，在以上述剥离膜侧的表面与上述第1相位差补偿板对置的朝向配置上述光学膜的配置工序之后进行缺陷检查，
[0035]在上述配置工序中，以满足下述条件a和条件b的方式进行配置：
[0036](a)上述第1偏振片的吸收轴与上述直线偏振板的吸收轴所成的角度在90
°±5°
的范围内；
[0037](b)上述第2偏振片的吸收轴与上述直线偏振板的吸收轴所成的角度在90
°±
30
°
的范围内。
[0038]专利技术效果
[0039]根据本专利技术的缺陷检查方法和缺陷检查装置，在将在直线偏振板的两面分别层叠有防护膜和剥离膜的光学膜作为被检查物的情况下，能够检测上述直线偏振板的光学特性的不均。
附图说明
[0040]图1是示意性地表示作为本实施方式的被检查物的一个例子的光学膜的截面图。
[0041]图2是本实施方式的缺陷检查装置的示意图。
[0042]图3是表示光学膜中的缺陷区域的一个例子的图本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种缺陷检查方法，其是将具有直线偏振板的光学膜作为被检查物的所述直线偏振板的缺陷检查方法，所述光学膜依次具有剥离膜、所述直线偏振板和防护膜，所述缺陷检查方法具有：配置工序，沿着光轴依次配置具有第1偏振片的第1滤光片、第1相位差补偿板、所述光学膜、第2相位差补偿板和具有第2偏振片的第2滤光片，并且以所述剥离膜侧的表面与所述第1相位差补偿板对置的朝向配置所述光学膜；检测工序，从所述第1滤光片侧和所述第2滤光片侧中的任一侧沿着所述光轴入射光，并检测从另一侧射出的光；以及判断工序，基于所述检测工序中的检测结果来判断所述光学膜的缺陷，在所述配置工序中，以满足下述条件a和条件b的方式进行配置：(a)所述第1偏振片的吸收轴与所述直线偏振板的吸收轴所成的角度在90
°±5°
的范围内；(b)所述第2偏振片的吸收轴与所述直线偏振板的吸收轴所成的角度在90
°±
30
°
的范围内，在所述检测工序中，所述第1相位差补偿板补偿所述剥离膜所具有的双折射，所述第2相位差补偿板补偿所述防护膜所具有的双折射。2.根据权利要求1所述的缺陷检查方法，其中，所述剥离膜包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂。3.根据权利要求1或2所述的缺陷检查方法，其中，所述防护膜包含聚对苯二甲酸乙二醇酯系树脂。4.根据权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：小林信次，松田俊介，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：
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