一种复杂场景的缺陷在线检测方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种复杂场景的缺陷在线检测方法及系统，涉及缺陷检测技术领域，该方法包括：启动第一光学检测仪器对第一待检目标进行图像数据采集，得到第一目标图像；对所述第一目标图像进行超像素分割，获取第一分割结果，所述第一分割结果包括N个超像素图像；对所述N个超像素图像进行特征提取，获取图像特征矩阵；将所述图像特征矩阵输入缺陷检测模型，输出目标缺陷图像；通过预设优化方案对所述目标缺陷图像进行图像优化，得到在线检测结果，解决了现有技术中存在对于图像的处理效果不佳，进而导致缺陷检测效果不佳的技术问题，达到降低环境对缺陷检测的影响度，提升缺陷检测效果的技术效果。效果的技术效果。效果的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
一种复杂场景的缺陷在线检测方法及系统


[0001]本专利技术涉及缺陷检测
，具体涉及一种复杂场景的缺陷在线检测方法及系统。

技术介绍

[0002]缺陷检测是进行日常设备维护的重要手段，及时发现表面缺陷能够有效延长设备的使用寿命，随着机器视觉技术的发展，对于背景单一、环境简单下的缺陷检测效果较好，可以准确、有效检测出表面缺陷。但是对于复杂场景下的表面缺陷检测，由于检测环境的复杂，导致获取的图像不够清晰，且含有阴影等干扰因素，增加了缺陷检测的难度。
[0003]综上，现有技术中存在由于对复杂场景下的图像采集过程设置不合理，且对于图像的处理效果不佳，进而导致缺陷检测效果不佳的技术问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种复杂场景的缺陷在线检测方法及系统，用以解决现有技术中存在由于对复杂场景下的图像采集过程设置不合理，且对于图像的处理效果不佳，进而导致缺陷检测效果不佳的技术问题。
[0005]根据本专利技术的第一方面，提供了一种复杂场景的缺陷在线检测方法，包括：启动第一光学检测仪器对第一待检目标进行图像本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复杂场景的缺陷在线检测方法，其特征在于，所述方法包括：启动第一光学检测仪器对第一待检目标进行图像数据采集，得到第一目标图像，其中，所述第一光学检测仪器包括多个光束发射源和多个摄像头；对所述第一目标图像进行超像素分割，获取第一分割结果，所述第一分割结果包括N个超像素图像，N是大于0的整数；对所述N个超像素图像进行特征提取，获取图像特征矩阵；将所述图像特征矩阵输入缺陷检测模型，输出目标缺陷图像；通过预设优化方案对所述目标缺陷图像进行图像优化，得到在线检测结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述启动第一光学检测仪器对第一待检目标进行图像数据采集，得到第一目标图像，包括：对所述第一待检目标进行实时光线强度信息采集；获取所述第一待检目标的表面材料信息，根据所述表面材料信息进行光照反射性分析，获得光照反射强度系数；获取所述第一待检目标的尺寸信息；根据所述实时光线强度信息、所述光照反射强度系数、所述尺寸信息对所述多个光束发射源和所述多个摄像头进行图像采集方案的确定；根据所述图像采集方案控制所述第一光学检测仪器进行图像数据采集，获取所述第一目标图像。3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述实时光线强度信息、所述光照反射强度系数、所述尺寸信息对所述多个光束发射源和所述多个摄像头进行图像采集方案的确定，包括：根据所述实时光线强度信息、所述光照反射强度系数对所述多个光束发射源进行光源强度和光源分布分析；以图像阴影度作为目标函数，对所述光源强度分析结果和光源分布分析结果进行优化，获得优化后的光源强度信息和光源分布信息；根据所述尺寸信息确定所述第一光学检测仪器的移动方向和移动速度；以所述光源强度信息、所述光源分布信息、所述移动方向和移动速度组成所述图像采集方案。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述第一目标图像进行超像素分割，获取第一分割结果，包括：对所述第一目标图像进行像素特征识别，获得像素识别结果；对所述像素识别结果进行特征聚类，得到所述N个超像素图像；将所述N个超像素图像作为所述第一分割结果。5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述N个超像素图像进行特征提取，获取图像特征矩阵，包括：从所述N个超像素图像中提取第一超像素图像，对所述第一超像素图像进行颜色特征提取，获取第一颜色特征，所述第一颜色特征包括RGB颜色特征和HSV颜色特征；对所述第一超像素图像进行滤波特征提取，获取第一图像纹理特...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐梦溪，韩磊，施建强，郑胜男，
申请(专利权)人：南京工程学院，
类型：发明
国别省市：