【技术实现步骤摘要】
一种振膜材料、制备方法及声波传感器
[0001]本专利技术涉及材料领域,特别涉及一种振膜材料、制备方法及声波传感器。
技术介绍
[0002]声波传感器被应用于多个学科领域,包括能源部门(如石油和天然气开采)、医疗装置(如磁共振和超声成像)、水下通信、地震研究(如水下测量)、无损检测(如大型结构监测)和军事应用(如空中,地面和水下监视)等。不同学科领域对声波传感器的性能要求差别很大,但通常都希望声波传感器具有相当低的最小可检测压力、宽的带宽(几赫兹到上万赫兹)和高动态范围(170dB的压力是常见的),可用于传统电声传感器难以正常工作的高温、高压、强腐蚀、强辐射等环境。
[0003]声波传感器的发展与轻量级膜片材料的研究具有密切的联系。传统的振膜材料的发展已经趋于瓶颈,无法满足高灵敏度、高声压级及宽频谱响应的工业、军事以及航天等严苛环境的声波探测领域实际需求。
[0004]硅是最重要的半导体材料之一,其热膨胀系数小、抗化学腐蚀能力强、无需预应力即可保持良好的振动性能。目前仅通过常规减薄工艺获得大面积的超薄硅薄膜材 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种振膜材料,其特征在于,包括硅膜和石墨烯膜;其中,所述石墨烯膜通过范德华力生长在所述硅膜上,形成石墨烯
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硅范德华异质结;所述硅膜的厚度在200纳米
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100微米之间;所述硅膜的表面粗糙度在0.0001微米
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0.01微米之间;所述石墨烯膜所包含的石墨烯层的层数小于或等于10层。2.一种振膜材料的制备方法,用于制备权利要求1所述的振膜材料,其特征在于,包括:在硅膜表面生长石墨烯膜,生成石墨烯
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硅范德华异质结;将石墨烯
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硅范德华异质结中的硅膜的厚度减小至第一预设值,将所述硅膜的表面粗糙度降低至第二预设值,得到振膜材料。3.根据权利要求2所述的振膜材料的制备方法,其特征在于,所述将石墨烯
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硅范德华异质结中的硅膜的厚度减小至第一预设值,将所述硅膜的表面粗糙度降低至第二预设值,得到振膜材料,包括:根据硅膜的原始厚度与第一预设值,确定刻蚀速率与刻蚀时间;根据所述刻蚀速率,确定刻蚀液与刻蚀温度;其中,所述刻蚀液包含有低界面张力的活性剂;在已确定的刻蚀温度下,在所述刻蚀时间内通过刻蚀液刻蚀石...
【专利技术属性】
技术研发人员:王慧慧,关宝璐,汪威,惠鸢飞,
申请(专利权)人:北京工业大学,
类型:发明
国别省市:
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