一种围尺制造技术

本申请公开了一种围尺，包括本体，本体上设有沿长度方向延伸的周长刻度，周长刻度包括原点和依次分布的周长刻度线，原点和周长刻度线分别位于本体的宽度两侧，原点用于在测量待测物的周长时，指示周长刻度线，周长刻度线与通过原点的直线之间的垂足相较于每一周长刻度线的距离F(L)按照公式逐一分布，其中，L为每一周长刻度的刻度线所标注的数值，x为本体的厚度中性层参数，当围尺用于测量外径时，x取正数，当围尺用于测量内径时，x取负数，t为本体的厚度，d为本体的宽度。d为本体的宽度。d为本体的宽度。

【技术实现步骤摘要】
一种围尺


[0001]本申请涉及一种围尺。

技术介绍

[0002]在林业行业中胸径测量是测树学中重要的基础数据，是森林资源调查的重要基础信息。高精度的胸径测量将对及时掌握树木生长情况，研究林木生长规律有重要意义。传统的直径测量通过围尺进行环绕测量周长间接转换得出，由于尺条宽度与厚度影响，使其测量精度变化不均，在利用传统围尺对小直径物品的直径进行测量时会存在偏差过大的问题，参考说明书附图1所示，围尺的宽度通常为15mm，当利用其对铅笔的直径进行测量时，首先采用高精度卡尺测量铅笔直径为标准值，如说明书附图2，铅笔的直径为7.18mm，当利用围尺对同样的铅笔测量直径时，参考说明书附图3可以看出，铅笔的直径为6mm，两者相差
‑
1.18mm，根据规定，Ⅰ级精度等级的卷尺，在示值刻度不高于1cm时，允许误差为
±
0.1mm，所以传统围尺在该小径范围测量直径时其误差远大于0.1mm。
[0003]可以看出，围尺的宽度会对小直径物品的测量造成较大偏差，同时，围尺的厚度同样会对直径物品的测量造成影响，一般围尺厚度是0.1～0.13mm,测量外径时会产生误差为0.3～0.4mm正误差，由于测量外径时宽度产生负误差，而厚度产生的是正误差，在一定范围内正负误差相抵后的精度能达到0.1mm左右，但是随量程增长，其厚度误差的作用逐步增大，在户外作业时，比如测量不同粗细的树直径周长或管道直径周长，往往无法同时携带不同类型的量具，例如，受到客观条件的限制，不便同时携带围尺和卡尺，因此，在利用传统的围尺在一定精度要求下对直径物品的直径或周长进行测量时，其适测范围较小，如超出范围则误差往往较大，精度较低。

技术实现思路

[0004]本申请的目的是提供一种围尺，能够精确方便的测量出较小或较大直径物品的周长。
[0005]为实现上述目的，本申请提供一种围尺，包括本体，本体上设有沿长度方向延伸的周长刻度，周长刻度包括原点和依次分布的周长刻度线，原点和周长刻度线分别位于本体的宽度两侧，原点用于在测量待测物的周长时，指示周长刻度线，周长刻度线与通过原点的直线之间的垂足(B)相较于每一周长刻度线的距离F(L)按照公式逐一分布，其中，
[0006]L为每一周长刻度的刻度线所标注的数值，
[0007]x为本体的厚度中性层参数，当围尺用于测量外径时，x取正数，当围尺用于测量内径时，x取负数，
[0008]t为本体的厚度，
[0009]d为本体的宽度。
[0010]可选地，本体上还设有沿长度方向延伸的直径刻度，直径刻度和周长刻度两者对
应设置，且分别设置在本体的宽度两侧，直径刻度包括依次分布的直径刻度线，直径刻度线以原点为起始点和周长刻度同向分布，每一直径刻度的刻度线所标注的数值为R，L＝πR，L为每一周长刻度的刻度线所标注的数值，每一直径刻度线和原点的距离F(R)按照公式逐一分布，其中，
[0011]R为每一直径刻度的刻度线所标注的数值，
[0012]x为本体的厚度中性层参数，当围尺用于测量外径时，x取正数，当围尺用于测量内径时，x取负数，
[0013]t为本体的厚度，
[0014]d为本体的宽度。
[0015]可选地，
[0016]当r/t>7时，x取0.5，
[0017]其中，r为待测量物体的真实直径，t为本体的厚度。
[0018]可选地，周长刻度和直径刻度两者中的至少一者以原点为起始点朝向两侧延伸。
[0019]可选地，本体上设有沿长度方向延伸的长度刻度，每一长度刻度的刻度线和长度刻度的原点之间的距离为真实距离，周长刻度和长度刻度两者对应设置，且分别设置在本体的宽度两侧，每一周长刻度和对应的长度刻度之间通过弧线相连，弧线为：以朝向长度刻度的负值方向偏离长度刻度的原点tπ处为圆心、并且以L+tπ为半径的至少部分圆弧，当测量待测物的周长时，本体环绕待测物，以使周长刻度贴合圆心，圆心和周长刻度的刻度线相交得到的数值为周长数值，其中，L为每一周长刻度的刻度线所标注的数值，
[0020]t为本体的厚度。
[0021]可选地，圆心处设有指示标记。
[0022]可选地，本体包括：
[0023]内绳；
[0024]刻度层，设于内绳，且设有周长刻度；
[0025]外层护套，包覆内绳和刻度层，且呈透明状，用于显示周长刻度。
[0026]可选地，
[0027]刻度层打印于内绳，或者；
[0028]刻度层贴合于内绳，直径刻度和周长刻度打印于刻度层。
[0029]可选地，外层护套的直径为3
‑
5mm。
[0030]可选地，内绳具体为钢线。
[0031]相对于上述
技术介绍
，本申请提供的围尺，包括本体，在本体上设有沿长度方向延伸的周长刻度，周长刻度包括原点和依次分布的周长刻度线，原点和周长刻度线分别位于本体的宽度两侧，原点用于在测量待测物的周长时，指示周长刻度线，周长刻度线和通过原点的直线之间产生一个垂足，该垂足位于周长刻度线一侧，垂足和每一周长刻度线的距离F(L)按照公式逐一分布，其中，L为每一周长刻度的刻度线所标注的数值，x为本体的厚度中性层参数，当围尺用于测量外径时，x取正数，当围尺用于测量内径时，x取负数，t为本体的厚度，d为本体的宽度。
[0032]如此设置的围尺，每一周长刻度的刻度线距离垂足的距离F(L)并不是真实的实际
距离，而是经过校正的距离，即通过公式计算得到，根据L的取值不同，距离F(L)的数据相应变化，当需要测量小直径物品的周长时，利用围尺对物品进行围测，即可准确读取物品的周长，简单方便，无需携带其他类型的量具，提升了测量的可靠性和便捷性。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0034]图1为现有技术中围尺的结构示意图；
[0035]图2为利用卡尺测量铅笔直径的示意图；
[0036]图3为利用图1中围尺测量铅笔直径的示意图；
[0037]图4为本申请实施例所提供的一种围尺的结构示意图；
[0038]图5为图4中围尺刻度和现有技术中围尺刻度的对比图；
[0039]图6为图4中围尺刻度计算公式的示意图；
[0040]图7为图4中围尺在测量直径时的示意图；
[0041]图8为本申请实施例所提供的另一种围尺的结构示意图；
[0042]图9为本申请实施例所提供的再一种围尺的结构示意图；
[0043]图10为利用图8中围尺测量铅笔周长时的示意图；
[0044]图11为利用图8中围尺测量板材长度时的示意图；
[0045]其中：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种围尺，其特征在于，包括本体(10)，所述本体(10)上设有沿长度方向延伸的周长刻度(11)，所述周长刻度(11)包括原点和依次分布的周长刻度线，所述原点和所述周长刻度线分别位于所述本体(10)的宽度两侧，所述原点用于在测量待测物的周长时，指示所述周长刻度线，所述周长刻度线与通过所述原点的直线之间的垂足相较于每一所述周长刻度线的距离F(L)按照公式逐一分布，其中，L为每一所述周长刻度(11)的刻度线所标注的数值，x为所述本体(10)的厚度中性层参数，当所述围尺用于测量外径时，x取正数，当所述围尺用于测量内径时，x取负数，t为所述本体(10)的厚度，d为所述本体(10)的宽度。2.根据权利要求1所述的围尺，其特征在于，所述本体(10)上还设有沿长度方向延伸的直径刻度(12)，所述直径刻度(12)和所述周长刻度(11)两者对应设置，且分别设置在所述本体(10)的宽度两侧，所述直径刻度(12)包括依次分布的直径刻度线，所述直径刻度线以所述原点为起始点和所述周长刻度(11)同向分布，每一所述直径刻度(12)的刻度线所标注的数值为R，且L＝πR，L为每一所述周长刻度(11)的刻度线所标注的数值，每一所述直径刻度线和所述原点的距离F(R)按照公式逐一分布，其中，R为每一所述直径刻度(12)的刻度线所标注的数值，x为所述本体(10)的厚度中性层参数，当所述围尺用于测量外径时，x取正数，当所述围尺用于测量内径时，x取负数，t为所述本体(10)的厚度，d为所述本体(10)的宽度。3.根据权利要求1所述的围尺，其特征在于，当r/t>7时，x取0.5，其中，r为待测量物体的真实直径，t为所述本体(10)的厚度。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘建聪，
申请(专利权)人：刘建聪，
类型：发明
国别省市：