PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质，涉及图像显示领域，基于对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；响应于接收到对全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在预览界面的第二显示区域生成目标颗粒局部对齐的局部预览图像；响应于接收到对局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在第二显示区域中动态调整和显示局部预览图像的目标预览区域，以显示出目标颗粒在目标预览区域的轮廓对齐效果。该方案可以同步显示全景预览和局部预览，在局域预览的区域进行图像放大缩小和移动操作，提高缺陷检测效率。提高缺陷检测效率。提高缺陷检测效率。

【技术实现步骤摘要】
PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请实施例涉及AOI图像检测领域，特别涉及一种PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]PCB又称印刷电路板，是电子元器件进行电气连接的载体，PCB生产过程是基于元件轮廓母版全景图，在PNL基板上通过数控定位冲压形成各种特定形状的Pcs颗粒板，Pcs是组成PCB的最小组成颗粒或最小组成单位，该区域中包括若干电子元器件，一个完整的PNL基板上通常设置有若干Pcs。在PNL基板上冲压生成后，需要对PNL基板进行扫描，然后对扫描的全景图像上的PNL物料进行缺陷检测。
[0003]在相关技术中PNL物料时，需要将扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行对齐，也即将实物的扫描图像映射到母版全景图中，生成预览画面。由于基板上的PNL物料密集、扫描图像的像素极大、且Pcs数量较多，图片预览需要逐级放大电子元器件进行位置偏移检测。若将所有PNL物料整体对齐预览显示就需要为计算机提供更多的算力，且这种对齐和预览需要很长的加载时间。若采用单个局部Pcs对齐预览显示的方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PNL物料对齐预览显示方法，其特征在于，所述方法包括：响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于所述对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；响应于接收到对所述全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在所述预览界面的第二显示区域生成所述目标颗粒局部对齐的局部预览图像；响应于接收到对所述局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在所述第二显示区域中动态调整和显示所述局部预览图像的目标预览区域，以显示出所述目标颗粒在所述目标预览区域的轮廓对齐效果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述全景预览图像中显示有若干颗粒，当其中一个颗粒被选择为候选颗粒时，在所述候选颗粒所处的图像区域生成遮罩层。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，每个颗粒的图像区域显示有对应的颗粒物料和外围线框，所述外围线框包围颗粒的结构边缘，所述遮罩层基于所述外围线框包围的图像区域生成。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述候选颗粒被确定为所述目标颗粒时，读取所述目标颗粒图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据和扫描图像数据，并根据所述对齐特征点在所述第二显示区域生成局部对齐的所述局部预览图像。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述候选颗粒被确定为所述目标颗粒时，基于所述目标颗粒的尺寸形状框选局部预览区，读取所述局部预览区中包含的所有扫描图像数据以及所述目标颗粒图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据；其中，所述目标颗粒位于框选的所述局部预览区中；根据所述对齐特征点在所述第二显示区域生成局部对齐的所述局部预览图像。6.根据权利要求4所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱磊，侯晓峰，张弛，
申请(专利权)人：上海感图网络科技有限公司，
类型：发明
国别省市：