频谱测试分析、频谱测试波生成方法和相关系统、装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种频谱测试分析、频谱测试波生成方法和相关系统、装置。包括：若所需扫描频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和参数；获取波形发生器根据波形种类和参数生成的发射信号，及采集发射信号经过被测器件的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果；若不在工作频率范围内，根据频谱扫描参数确定变频参数、及每个波形发生器的波形种类和参数；获取至少两个波形发生器分别根据波形种类和波形参数生成的发射子信号与根据变频参数生成的本振信号进行混频得到的发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果。能够实现快速、多频点的频谱测试分析。的频谱测试分析。的频谱测试分析。

【技术实现步骤摘要】
频谱测试分析、频谱测试波生成方法和相关系统、装置


[0001]本专利技术涉及频谱分析
，特别涉及一种频谱测试分析、频谱测试波生成方法和相关系统、装置。

技术介绍

[0002]目前，常用的频谱测试分析方法一般采用单频率点扫描的频谱测试方法，其采用的设备以矢量网络分析仪为例，向被测器件(Device Under Test，DUT)发射出一个单频的正弦波信号，逐渐改变发射信号的频率，通过测试接收到的信号信息，来得到整个关心频域的频谱测试结果，这个结果包含频率，强度和相位乃至时延。其原理参见图1所示，横轴表示频率，纵轴表示输入到输入的频率响应，如图中的S21表示输入/输出的大小的比值取对数后的数值，即电路的增益，，通过输入和输出端在各频点的幅度及相位的差值，从而得到DUT被测通道的频率响应特征曲线。通过逐点改变发射信号的频率，来得到DUT和被测系统的整体频率响应。

技术实现思路

[0003]本申请专利技术人发现，现有技术中的单频点扫描的频谱测试分析方法，优点是信噪比相对比较高，但是这种方法一次只能扫描一个频点，无法满足实时并行系统多频点扫描的需求，而且其频率扫描速度慢，扫描时间长，无法满足实时并行系统快速测试的需求。
[0004]鉴于上述问题，提出了本专利技术以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种频谱测试分析、频谱测试波生成方法和相关系统、装置。
[0005]本专利技术实施例提供一种频谱测试分析方法，包括：
[0006]若被测器件所需的扫描频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和波形参数提供给波形发生器；获取波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的发射信号，以及采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果；
[0007]若被测器件所需的扫描频率范围不在波形发生器的工作频率范围内，根据所述频谱扫描参数确定变频参数、及每个波形发生器的波形种类和波形参数提供给至少两个波形发生器；获取至少两个波形发生器分别根据所述波形种类和波形参数生成的发射子信号与根据所述变频参数生成的本振信号进行混频得到的发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果。
[0008]在一些可选的实施例中，上述方法还包括：
[0009]根据被测器件的频谱扫描参数中包括的频率范围，判断被测器件所需的扫描频率范围是否在波形发生器的工作频率范围内。
[0010]在一些可选的实施例中，所述获取波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的发射信号，以及采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果，包括：
[0011]任意波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成发射信号提供给被测器件；
[0012]采集发射信号经过被测器件后的输出信号，对输出信号进行模数转换；
[0013]根据模数转换后的输出信号的频谱特征和所述发射信号的频谱特征，得到被测器件的频率响应特征。
[0014]在一些可选的实施例中，若所述波形类型为正弦波，根据正弦波的频率、幅值和相位使用任意波形发生器生成发射信号；
[0015]若所述波形类型为方波，根据方波的频率、幅值和占空比使用任意波形发生器生成发射信号。
[0016]在一些可选的实施例中，任意波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成发射信号，包括：
[0017]任意波形发生器生成不同频率指定占空比的方波作为发射信号；或
[0018]任意波形发生器生成不同频率不同占空比的至少两个方波，对至少两个方波进行叠加后得到发射信号。
[0019]在一些可选的实施例中，获取至少两个波形发生器分别根据所述波形种类和波形参数生成的发射子信号与根据所述变频参数生成的本振信号进行混频得到的发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果，包括：
[0020]每个任意波形发生器根据一个波形种类和波形参数生成发射子信号；
[0021]对至少两个发射子信号进行叠加，得到叠加信号，基于根据所述变频参数生成的本振信号对叠加信号进行上变频处理，得到发射信号提供给被测器件；或根据所述变频参数分别对至少两个发射子信号进行上变频，得到变频后的发射子信号，对至少两个变频后的发射子信号进行得加，得到发射信号提供给被测器件；
[0022]采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据所述变频参数对输出信号进行下变频处理，得到变频后的输出信号，并对变频后的输出信号进行模数转换；
[0023]根据模数转换后的变频后的输出信号的频谱特征和发射信号的频谱特征，得到被测器件的频率响应特征。
[0024]在一些可选的实施例中，上述方法还包括：
[0025]根据噪声模拟参数，生成噪声模拟信号，在发射信号或混频发射信号增加噪声模拟信号。
[0026]本专利技术实施例还提供一种频谱测试波生成方法，包括：
[0027]若被测器件所需的频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和波形参数提供给波形发生器，以便波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的提供给被测器件的发射信号；
[0028]若被测器件所需的频率范围不在波形发生器的工作频率范围内，根据所述频谱扫描参数确定变频参数、及每个波形发生器的波形种类和波形参数提供给至少两个波形发生器；以便至少两个波形发生器分别根据所述波形种类和波形参数生成发射子信号，将至少两个发射子信号与根据所述变频参数生成的本振信号进行混频得到提供给被测器件的发射信号。
[0029]本专利技术实施例还提供一种频谱测试分析装置，包括：
[0030]判断模块，用于判断被测器件所需的频率范围是否在波形发生器的工作频率范围
内；
[0031]第一测试分析模块，用于若被测器件所需的扫描频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和波形参数提供给波形发生器；获取波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的发射信号，以及采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果；
[0032]第二测试分析模块，用于若被测器件所需的扫描频率范围不在波形发生器的工作频率范围内，根据所述频谱扫描参数确定变频参数、及每个波形发生器的波形种类和波形参数提供给至少两个波形发生器；获取至少两个波形发生器分别根据所述波形种类和波形参数生成的发射子信号与根据所述变频参数生成的本振信号进行混频得到的发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果。
[0033]本专利技术实施例还提供一种频谱测试波生成装置，包括：
[0034]判断模块，用于判断被测器件所需的频率范围是否在波形发生器的工作频率范围内；
[0035]第一控制模块，用于若被测器件所需的频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和波形参数提供给波形发生器本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种频谱测试分析方法，其特征在于，包括：若被测器件所需的扫描频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和波形参数提供给波形发生器；获取波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的发射信号，以及采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果；若被测器件所需的扫描频率范围不在波形发生器的工作频率范围内，根据所述频谱扫描参数确定变频参数、及每个波形发生器的波形种类和波形参数提供给至少两个波形发生器；获取至少两个波形发生器分别根据所述波形种类和波形参数生成的发射子信号与根据所述变频参数生成的本振信号进行混频得到的发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：根据被测器件的频谱扫描参数中包括的频率范围，判断被测器件所需的扫描频率范围是否在波形发生器的工作频率范围内。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的发射信号，以及采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果，包括：任意波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成发射信号提供给被测器件；采集发射信号经过被测器件后的输出信号，对输出信号进行模数转换；根据模数转换后的输出信号的频谱特征和所述发射信号的频谱特征，得到被测器件的频率响应特征。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，若所述波形类型为正弦波，根据正弦波的频率、幅值和相位使用任意波形发生器生成发射信号；若所述波形类型为方波，根据方波的频率、幅值和占空比使用任意波形发生器生成发射信号。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，任意波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成发射信号，包括：任意波形发生器生成不同频率指定占空比的方波作为发射信号；或任意波形发生器生成不同频率不同占空比的至少两个方波，对至少两个方波进行叠加后得到发射信号。6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，获取至少两个波形发生器分别根据所述波形种类和波形参数生成的发射子信号与根据所述变频参数生成的本振信号进行混频得到的发射信号经过被测器件后的输出信号，根据发射信号和输出信号得到频谱测试结果，包括：每个任意波形发生器根据一个波形种类和波形参数生成发射子信号；对至少两个发射子信号进行叠加，得到叠加信号，基于根据所述变频参数生成的本振信号对叠加信号进行上变频处理，得到发射信号提供给被测器件；或根据所述变频参数分别对至少两个发射子信号进行上变频，得到变频后的发射子信号，对至少两个变频后的发射子信号进行得加，得到发射信号提供给被测器件；采集发射信号经过被测器件后的输出信号，根据所述变频参数对输出信号进行下变频处理，得到变频后的输出信号，并对变频后的输出信号进行模数转换；
根据模数转换后的变频后的输出信号的频谱特征和发射信号的频谱特征，得到被测器件的频率响应特征。7.如权利要求1
‑
6任一所述的方法，其特征在于，还包括：根据噪声模拟参数，生成噪声模拟信号，在发射信号或混频发射信号增加噪声模拟信号。8.一种频谱测试波生成方法，其特征在于，包括：若被测器件所需的频率范围在波形发生器的工作频率范围内，根据被测器件的频谱扫描参数确定波形种类和波形参数提供给波形发生器，以便波形发生器根据所述波形种类和波形参数生成的提供给被测器件的发射信号；若被测器件所需的频率范围不在波形发生器的工作频率范围内，根据所述频谱扫描参数确定变频参数、及每个波形发生器的波形种类和波形参...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺建龙，邹宏洋，叶惺，孟铁军，项金根，
申请(专利权)人：深圳量旋科技有限公司，
类型：发明
国别省市：