基准部件以及谷粒辨别器制造技术

本发明专利技术提供一种基准部件，其具备用于修正由谷粒辨别器取得的图像的修正区域，从外部插入到谷粒辨别器，并设置于试样皿的设置位置。并设置于试样皿的设置位置。并设置于试样皿的设置位置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基准部件以及谷粒辨别器


[0001]本公开涉及一种基准部件以及谷粒辨别器。

技术介绍

[0002]已知一种利用传感器接收照射到谷粒的光的透射光或反射光，并基于传感器接收到的光的光量等来检测谷粒有无破裂等的谷粒辨别器。另外，还已知一种基于由传感器取得的谷粒的图像来辨别谷粒的品质的谷粒辨别器。
[0003]为了在谷粒辨别器中高精度地保持传感器的检测精度，需要进行传感器的校正。例如，在专利文献1中记载有一种使用由颜色的浓淡互不相同的多个板构成的基准板来校正传感器的谷粒辨别器。在该谷粒辨别器中，使用马达使传感器在谷粒的检测位置与基准板的检测位置之间移动，进行谷粒的检测以及传感器的校正。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2016
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125867号公报

技术实现思路

[0007]专利技术所要解决的课题
[0008]但是，在使用马达来使传感器移动的情况下，需要用于使马达的动力向传感器传递的动力传递机构等。另外，在将基准板收纳于谷粒辨别器的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种基准部件，具备用于修正由谷粒辨别器取得的图像的修正区域，其特征在于，从外部插入到上述谷粒辨别器，并设置在试样皿的设置位置。2.根据权利要求1所述的基准部件，其特征在于，上述修正区域包括像差修正区域，该像差修正区域用于修正由像差引起的上述图像的失真。3.根据权利要求2所述的基准部件，其特征在于，上述修正区域还包括颜色修正区域，该颜色修正区域用于修正上述图像的颜色。4.根据权利要求2或3所述的基准部件，其特征在于，上述修正区域还包括明度修正区域，该明度修正区域用于修正上述图像的明度。5.根据权利要求2～4中任一项所述的基准部件，其特征在于，上述像差修正区域包括描绘以共同点为中心的大小不同的多个圆的线上的区域。6.根据权利要求2～4中任一项所述的基准部件，其特征在于，上述像差修正区域包括相互正交的线上的区域。7....

【专利技术属性】
技术研发人员：池田学，
申请(专利权)人：株式会社佐竹，
类型：发明
国别省市：