一种辐照下面阵CCD的在线测试方法及测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种辐射效应测试系统及方法，具体涉及一种辐照下面阵CCD的在线测试方法及测试系统，解决在开展面阵CCD辐射损伤效应地面模拟实验时，无法在线实时反馈面阵面阵CCD的工作情况以及辐照过程中性能参数实时变化规律的技术问题。该辐照下面阵CCD的在线测试方法，能够解决在开展CCD辐射损伤效应地面模拟实验时测试繁琐的问题，提高了实验效率，并且能获取辐照过程中的面阵CCD性能参数，本发明专利技术系统包括设置于辐照室内的辐射源、光源、驱动控制器、辐射板及设置于辐照室外且与驱动控制器连接的采集处理器；辐射板上设置有CCD驱动电路；辐射源和光源的出射光路上用于设置待辐照CCD器件，且CCD驱动电路与待辐照CCD器件连接。连接。连接。

【技术实现步骤摘要】
一种辐照下面阵CCD的在线测试方法及测试系统


[0001]本专利技术涉及一种辐射效应测试系统及方法，具体涉及一种辐照下面阵CCD的在线测试方法及测试系统。

技术介绍

[0002]电荷耦合器件(charge
‑
coupled device，CCD)作为一种以光注入或电子注入的方式产生电荷、通过在器件栅极加偏压以存储电荷，并运用耗尽层耦合原理与输出放大器进行电荷的传递与输出的光电图像传感器，有小尺寸、轻质量、低功耗、高量子效率、高图像分辨率和动态范围宽的优点，被广泛应用于航天探测、空间扫描以及卫星观测等领域。然而，由于空间环境的特殊性，当CCD应用于在轨卫星或航天成像系统中时，CCD会产生由辐照损伤引起的性能退化甚至是功能失效现象。CCD的辐射损伤效应一般包括总剂量效应、位移效应和单粒子瞬态效应。
[0003]空间环境中的高能粒子如质子、电子、重离子等均会诱发CCD的辐射损伤效应，导致CCD性能参数退化，进而影响CCD正常工作甚至损坏CCD内部结构。因此开展CCD辐射损伤效应地面模拟实验对研究CCD辐射损伤机理以及CCD抗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐照下面阵CCD的在线测试方法，其特征在于，包括以下步骤：1)试验前准备1.1、将待辐照CCD器件设置于辐射源(1)的出射路线上；1.2、设定实验环境温度；1.3、在实验环境内搭建光源(2)，使待辐照CCD器件感光面位于光源(2)出射光路上；2)测试待辐照CCD器件辐照前的性能参数2.1、设置待辐照CCD器件的积分时间，开启光源(2)，采集N次待辐照CCD器件辐照前的第一参数，并保存；N为大于1的整数；所述第一参数包括线性饱和输出和总增益；2.2、剔除每次采集的第一参数中所有像素的极值后再求平均值，获得辐照前性能参数变化曲线；2.3、根据辐照前性能参数变化曲线是否平稳判断待辐照CCD器件是否工作稳定；若待辐照CCD器件工作稳定，则关闭光源(2)，记录光源(2)强度，执行步骤3)；若待辐照CCD器件工作不稳定，则调整待辐照CCD器件的积分时间，返回步骤2.1；3)测试待辐照CCD器件的辐照下的性能参数3.1、开启辐射源(1)和辐照前等强度的光源(2)，并采集n次待辐照CCD器件的辐照后的第二参数，并保存；n为大于1的整数；所述第二参数包括线性饱和输出和总增益；3.2、剔除辐照后的第二参数中所有像素的极值后求平均值，获得待辐照CCD器件辐照后性能参数变化曲线；3.3、根据辐照后性能参数变化曲线是否平稳判断待辐照CCD器件是否损坏；若待辐照CCD器件损坏，则关闭辐射源(1)和光源(2)，标记该待辐照CCD器件损坏，返回步骤1)，继续进行后续工作；若待辐照CCD器件未损坏，则保存该待辐照CCD器件辐照后性能参数，完成辐照下面阵CCD的在线测试。2.根据权利要求1所述的一种辐照下面阵CCD的在线测试方法，其特征在于，还包括步骤4)：将辐照后性能参数变化曲线与辐照前性能参数变化曲线进行对比，获得辐照对待辐照CCD器件性能参数的影响。3.根据权利要求2所述的一种辐照下面阵CCD的在线测试方法，其特征在于：步骤2.1中，通过上位机设置待辐照CCD器件的积分时间。4.根据权利要求3所述的一种辐照下面阵CCD的在线测试方法，其特征在于，步骤1.1具体为：将待辐照CCD器件感光面擦拭干净后，设置辐射源(1)的束流方向与待辐照CCD器件的感光面垂直。5.根据权利要求4所述的一种辐照下面阵CCD的在线测试方法，其特征在于，步骤1.3具体为：在实验环境内搭建光源(2)，使待辐照CCD器件感光面与光源(2)出射光路垂直。6.根据权利要求5所述的一种辐照下面阵CCD的在线测试方法，其特征在于：步骤2.3中，所述根据辐照前性能参数变化曲线是否平稳具体为：判断每次采集的线性饱和输出...

【专利技术属性】
技术研发人员：王祖军，黄港，聂栩，赖善坤，薛院院，马武英，何宝平，缑石龙，盛江坤，姚志斌，
申请(专利权)人：西北核技术研究所，
类型：发明
国别省市：