一种柱面波一发多收一维稀疏线阵扫描的RCS精准测量方法技术

本发明专利技术提供一种柱面波一发多收一维稀疏线阵扫描的RCS精准测量方法，针对大型隐身轰炸机的RCS测试需求，采用柱面波平面扫描方式在近场开展RCS测试，通过基于平面波谱的方法利用近场测试数据进行RCS的反演，从而获得远场RCS。相比于室外场、紧缩场，本发明专利技术不需要模拟平面波，不受目标尺寸限制，对场地要求低，并且与紧缩场测量系统的精度相当，适合对全尺寸目标进行测试。目标进行测试。目标进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种柱面波一发多收一维稀疏线阵扫描的RCS精准测量方法


[0001]本专利技术属于近场RCS测量领域，具体涉及一种柱面波一发多收一维稀疏线阵扫描的RCS精准测量方法。

技术介绍

[0002]随着通信、雷达和国防等领域的发展，对飞机、卫星、舰船等大型目标的散射特性的测量需求不断增长，传统的远场和紧缩场测试很难满足测试距离条件，近场测量能够有效克服这个缺点，且具有高精度、高保密性、可全天候工作等独特的优越性。所以，对于大尺寸目标的RCS近场测量方法、测量精度以及近远场变换等问题是目前研究的重要课题。
[0003]雷达散射截面(Radar Cross Section，RCS)是反映目标电磁特性的重要特征参数，也是评价目标隐身性能的重要指标之一。研究目标RCS的方法主要包括理论分析和测量技术。其中，测量技术是最有效、快捷和准确的手段。通常情况下，远场测量的最小测试距离为R
min
＝2D2/λ，D为目标孔径的最大尺寸，λ是信号的波长。随着目标尺寸的增大和工作频率的提高，远场测量条件越来越难满足，要求的测试距离可能达到几千米甚至几本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种柱面波一发多收一维稀疏线阵扫描的RCS精准测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、设置接收天线阵列的宽度、接收天线阵列与发射天线的相对位置关系，确定扫描范围和扫描起始位置；步骤2、发射天线发射柱面波，稀疏的接收天线阵列同时接收散射回波信号；步骤3、待测目标保持静止，将发射天线和稀疏的接收天线阵列作为一个整体沿y轴平...

【专利技术属性】
技术研发人员：苗俊刚，杨宗凯，娄长玉，赵京城，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：