产品理化成分探测装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种产品理化成分探测装置，包括：激光光源，用于发射第一激光；分离器，用于将第一激光分离为第二激光和第三激光；第一延时模块，用于对第二激光进行延时处理；太赫兹发射器，用于利用第一延时激光产生第一太赫兹波，以及将第一太赫兹波照射至被测样品后产生第二太赫兹波；第二延时模块，用于对第三激光进行延时处理；汇聚模块，位于第二延时激光的传播路径和第二太赫兹波的传播路径的相交位置，用于汇聚第二延时激光和第二太赫兹波，得到目标激光；太赫兹探测器，位于目标激光的传播路径中，用于基于目标激光生成太赫兹时域信号。本发明专利技术提供的探测装置具有结构简单、故障率低、检测精度以及检测效率高的技术效果。检测精度以及检测效率高的技术效果。检测精度以及检测效率高的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
产品理化成分探测装置


[0001]本专利技术涉及太赫兹波检测领域，具体涉及一种产品理化成分探测装置。

技术介绍

[0002]在食品饮料、母婴产品、美妆个护、居家用品等产品的实时理化成分检测过程中，一般会采用太赫兹探测方法，对液体、固体、气体产品进行检测，例如连续波太赫兹成像(CW THz)、脉冲太赫兹成像(THz
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TDS)、傅里叶变换光谱(FTS)等。应用上述太赫兹探测方法的产品理化成分探测装置由于其内部需要大量光学设备对光路进行调整，致使其装置内部庞大且复杂，容易出现故障，造成测量数据误差大的问题。
[0003]在利用上述产品理化成分探测装置进行成分检测的过程中，存在由于其装置结构复杂，故障率高，造成极大的测量误差的问题。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要提供一种结构简单、不易出现故障的产品理化成分探测装置，避免造成较大测量误差的出现，以提高被测样品的检测精度和检测效率。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术实施例的第一方面，提供一种产品理化成分探测装置，包括：
[0006]激光光源，用于发射第一激光；
[0007]分离器，位于所述第一激光的传播路径中，用于将所述第一激光分离为第二激光和第三激光；
[0008]第一延时模块，位于所述第二激光的传播路径中，用于对所述第二激光进行延时处理；
[0009]太赫兹发射器，位于第一延时激光的传播路径中，所述第一延时激光为延时处理后的第二激光；所述太赫兹发射器用于利用所述第一延时激光产生第一太赫兹波，以及将所述第一太赫兹波照射至被测样品后产生第二太赫兹波；
[0010]第二延时模块，位于所述第三激光的传播路径中，用于对所述第三激光进行延时处理；
[0011]汇聚模块，位于第二延时激光的传播路径和第二太赫兹波的传播路径的相交位置，所述第二延时激光为延时处理后的第三激光，所述汇聚模块用于汇聚所述第二延时激光和所述第二太赫兹波，得到目标激光；
[0012]太赫兹探测器，位于所述目标激光的传播路径中，用于基于目标激光生成太赫兹时域信号。
[0013]本专利技术提供的产品理化成分探测装置，通过激光光源、分离器、第一延时模块、第二延时模块、汇聚模块、太赫兹发射器以及太赫兹探测器，能够具备结构简单、故障率低、检测精度以及检测效率高的优点。
[0014]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述第一延时模块包括一个或多个
第一反射镜，用于通过所述一个或多个第一反射镜改变所述第二激光的传播距离，进而调整所述第二激光的传播时间。
[0015]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述多个第一反射镜包括第一子反射镜、第二子反射镜和第三子反射镜；
[0016]其中，所述第一子反射镜与所述第二子反射镜平行设置，并且所述第一子反射镜与所述第二子反射镜位于同一水平方向；
[0017]所述第二子反射镜与所述第三子反射镜相对设置，并且所述第二子反射镜与所述第三子反射镜位于同一竖直方向。
[0018]本专利技术提供的产品理化成分探测装置，通过设置第一延时模块中第一反射镜的数量，能够改变第二激光的传播距离，从而有效调整第二激光的传播时间，进而对第二激光和第三激光的延迟时间进行调整，能够保证在不同延迟时间下测量被测样品的透过率。
[0019]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述第二延时模块包括一个或多个第二反射镜，用于通过所述一个或多个第二反射镜改变所述第三激光的传播距离，进而调整所述第三激光的传播时间；
[0020]其中，所述第一反射镜与所述第二反射镜的设置数量与所述第二激光和所述第三激光之间的延时时间有关。
[0021]本专利技术提供的产品理化成分探测装置，通过设置第二延时模块中反射镜的数量，能够改变第三激光的传播距离，从而有效调整第三激光的传播时间，进而对第二激光和第三激光的延迟时间进行调整，能够保证在不同延迟时间下测量被测样品的透过率。
[0022]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述探测装置还包括第一抛物面镜和第二抛物面镜；
[0023]所述第一抛物面镜和所述第二抛物面镜的镜面相对设置，所述第一抛物面镜和所述第二抛物面镜之间设置被测样品；
[0024]所述第一抛物面镜用于将接收到的第一太赫兹波反射聚焦至被测样品得到所述第二太赫兹波，以及将所述第二太赫兹波照射至所述第二抛物面镜；
[0025]所述第二抛物面镜用于将接收得到的第二太赫兹波反射至太赫兹探测器。
[0026]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述探测装置还包括第三抛物面镜、第四抛物面镜、第五抛物面镜和第六抛物面镜；
[0027]所述第三抛物面镜用于将第一太赫兹波反射至所述第四抛物面镜；
[0028]所述第四抛物面镜用于将接收到的第一太赫兹波反射聚焦至被测样品得到所述第二太赫兹波，以及将所述第二太赫兹波照射至所述第五抛物面镜；
[0029]所述第五抛物面镜用于将接收到的第二太赫兹波反射至第六抛物面镜；
[0030]所述第六抛物面镜用于将接收得到的第二太赫兹波反射至太赫兹探测器。
[0031]本专利技术提供的产品理化成分探测装置，通过在太赫兹发射器于太赫兹探测器之间设置多个抛物面镜，能够将第一太赫兹波有效聚焦至被测样品，以及将生成的第二太赫兹波准直地传输给太赫兹探测器，能够有效提高样品检测的检测精度以及检测效率。
[0032]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述汇聚模块为氧化铟锡玻璃。
[0033]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述装置还包括锁相放大器；
[0034]所述锁相放大器与所述太赫兹波探测器连接，用于对所述太赫兹时域信号进行放
大处理。
[0035]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述装置还包括处理模块，所述处理模块与所述锁相放大器连接；
[0036]所述处理模块，用于对放大后的太赫兹时域信号进行傅里叶变换处理，得到被测样品的太赫兹频域信息。
[0037]本专利技术提供的产品理化成分探测装置，通过在太赫兹波探测器后设置锁相放大器，能够从干扰性大的环境中准确分离出特定太赫兹时域信号；通过设置于锁相放大器相连接的处理模块，能够对放大后的太赫兹时域信号进行傅里叶变换处理，进而得到更加丰富的被测样品的太赫兹频域信息，进而提高检测精度。
[0038]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中,所述第二激光为泵浦光，所述第三激光为探测光。
附图说明
[0039]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1为本专利技术中产品理化成分探测装置的一种结构的示意图。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种产品理化成分探测装置，其特征在于，包括：激光光源，用于发射第一激光；分离器，位于所述第一激光的传播路径中，用于将所述第一激光分离为第二激光和第三激光；第一延时模块，位于所述第二激光的传播路径中，用于对所述第二激光进行延时处理；太赫兹发射器，位于第一延时激光的传播路径中，所述第一延时激光为延时处理后的第二激光；所述太赫兹发射器用于利用所述第一延时激光产生第一太赫兹波，以及将所述第一太赫兹波照射至被测样品后产生第二太赫兹波；第二延时模块，位于所述第三激光的传播路径中，用于对所述第三激光进行延时处理；汇聚模块，位于第二延时激光的传播路径和第二太赫兹波的传播路径的相交位置，所述第二延时激光为延时处理后的第三激光，所述汇聚模块用于汇聚所述第二延时激光和所述第二太赫兹波，得到目标激光；太赫兹探测器，位于所述目标激光的传播路径中，用于基于目标激光生成太赫兹时域信号。2.根据权利要求1所述的产品理化成分探测装置，其特征在于，所述第一延时模块包括一个或多个第一反射镜，用于通过所述一个或多个第一反射镜改变所述第二激光的传播距离，进而调整所述第二激光的传播时间。3.根据权利要求2所述的产品理化成分探测装置，其特征在于，所述多个第一反射镜包括第一子反射镜、第二子反射镜和第三子反射镜；其中，所述第一子反射镜与所述第二子反射镜平行设置，并且所述第一子反射镜与所述第二子反射镜位于同一水平方向；所述第二子反射镜与所述第三子反射镜相对设置，并且所述第二子反射镜与所述第三子反射镜位于同一竖直方向。4.根据权利要求2或3所述的产品理化成分探测装置，其特征在于，所述第二延时模块包括一个或多个第二反射镜，用于通过所述一个或多个第二反射镜改变所述第三激光的传播距离，进而调整所述第三激光的传播时间；其中，所述第一反射镜与所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：张培源，艾欣，吴峥，
申请(专利权)人：北京锦绣年华信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：