颗粒粒径分布的测量方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请的实施例提供了一种颗粒粒径分布的测量方法、装置、存储介质及电子设备，所述方法包括：对获得的待测量颗粒图像进行颗粒轮廓提取以得到待分割图像，所述待测量颗粒图像中包含标尺信息；从所述待分割图像中识别满足预设要求的轮廓区域，作为大颗粒区域，并对所述大颗粒区域进行标记；对所述待分割图像中未被标记的轮廓区域进行轮廓分割以得到颗粒轮廓图像；基于所述标尺信息和所述颗粒轮廓图像测量颗粒的粒径分布。本申请的实施例提供的技术方案能提高测量颗粒粒径分布的准确度。方案能提高测量颗粒粒径分布的准确度。方案能提高测量颗粒粒径分布的准确度。

【技术实现步骤摘要】
颗粒粒径分布的测量方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及图像处理
，具体而言，涉及一种颗粒粒径分布的测量方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]影响颗粒材料(比如球形氧化铝，颗粒活性炭，厌氧颗粒污泥)的物理机械性能的主要因素是颗粒的粒径分布，一般而言，粒径越小，材料的抗张强度和抗撕强度越好，并且粒径分布还对颗粒材料的特定性能产生一定影响，比如，球形氧化铝的粒径大小直接影响其作为阻燃剂的阻燃性能。
[0003]传统对颗粒粒径分分布的测量方法为沉降法和筛分法，可以理解，沉降法和筛分法虽然方法简单易操作，但是存在测量范围窄，测量时间长，结果受环境因素和人为因素影响大等缺陷。
[0004]随着智能化发展，目前通常会采用图像法和激光法对颗粒粒径分布进行测量，CN 115683962A中公开了一种用于选煤厂矿浆跑粗监测的矿浆粒度分析方法，但是该专利技术无法自动识别图像标尺，粒度分析根据图像灰度值，利用阈值进行颗粒分割，对光源、检测样品要求高，无法准确识别灰度值小的颗粒，粒度统计信息误差大。CN 2184本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种颗粒粒径分布的测量方法，其特征在于，所述方法包括：对获得的待测量颗粒图像进行颗粒轮廓提取以得到待分割图像，所述待测量颗粒图像中包含标尺信息；从所述待分割图像中识别满足预设要求的轮廓区域，作为大颗粒区域，并对所述大颗粒区域进行标记；对所述待分割图像中未被标记的轮廓区域进行轮廓分割以得到颗粒轮廓图像；基于所述标尺信息和所述颗粒轮廓图像测量颗粒的粒径分布。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对获得的待测量颗粒图像进行颗粒轮廓提取以得到待分割图像之前，所述方法还包括：获取待标定颗粒图像；对所述待标定颗粒图像进行标尺信息提取以得到标定颗粒图像；去除所述标定颗粒图像中的底色背景以得到待测量颗粒图像。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取待标定颗粒图像，包括：获取原始颗粒图像；将所述原始颗粒图像转换为单通道灰度图像，作为待标定颗粒图像。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述待标定颗粒图像进行标尺信息提取以得到标定颗粒图像，包括：识别所述待标定颗粒图像中的字符区域；对所述字符区域中存在的字符进行提取和识别以得到所述待标定颗粒图像的标尺信息；将得到标尺信息的待标定颗粒图像作为标定颗粒图像。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对获得的待测量颗粒图像进行颗粒轮廓提取以得到待分割图像，包括：对获得的待测量颗粒图像进行去噪处理以得到第一颗粒图像；采用递归实现的滤波器对所述第一颗粒图像进行轮廓提取以得到第二颗粒图像；依次对所述第二颗粒图像进行噪点去除和开闭运算以得到待分割图像...

【专利技术属性】
技术研发人员：张世超，魏青，吴军，
申请(专利权)人：中铝郑州有色金属研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：