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用于插接连接器导通测试的测试设备的单个接触装置以及测试设备制造方法及图纸

技术编号:38537056 阅读:9 留言:0更新日期:2023-08-19 17:07
本发明专利技术涉及一种用于插接连接器(200)的导通测试的测试设备(500)的单个接触装置(100),该单个接触装置(100)具有用于放置在插接连接器(200)所要接触的接触元件(400)上的接触销(102)和用于接触销(102)的突出的辅助对中装置(104),接触销(102)是导电的并且在放置方向由弹簧支承,并且辅助对中装置(104)以可相对于接触销(102)同轴移动的方式由弹簧支承。于接触销(102)同轴移动的方式由弹簧支承。于接触销(102)同轴移动的方式由弹簧支承。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于插接连接器导通测试的测试设备的单个接触装置以及测试设备


[0001]本专利技术涉及一种用于插接连接器导通测试的测试设备的单个接触装置,以及具有至少一个这种单个接触装置的测试设备。

技术介绍

[0002]下面主要结合用于车载电网的插接连接器来描述本专利技术。然而,本专利技术也可用于任何需要对插接连接器进行电气测试的应用中。
[0003]插接连接器可以有两个基本相对的部件。所述部件可以有至少一个公接触元件。另一个部件可以有至少一个母接触元件。每个部件可以有多个接触元件。特别是,母接触元件可以被放置在部件的壳体内。接触元件可与壳体的凹缺相对应地配设。接触元件彼此之间的横向距离可能非常小。因此,壳体中的凹缺也可能具有狭窄的网格。
[0004]接触元件可以是片状触点。母接触元件有一对片状物,由两个紧密间隔的片状物组成。公接触元件具有单个片状物,其插入母接触元件的一对片状物之间,以建立导电的连接。特别是在带有片状触点的插接连接器的情况下,可能需要进行无侵入性的电气测试,以排除片状触点因测试而产生的变形。
[0005]为此,对于每个接触元件,可以使用带有接触销的单个接触装置。接触销可以插入壳体的凹缺中,并在壳体内以规定的力压向片状物的上边缘,以建立与片状物的导电接触。
[0006]接触销或单个接触装置可以是测试设备的一部分。测试设备可以具有非常多精确排列的接触销,以测试具有多个接触元件的插接连接器。即使一个接触销不能插入壳体的预定凹缺中,插接连接器也不能被完全测试。

技术实现思路

>[0007]因此,本专利技术所要解决的技术问题是使用在设计上尽可能简单的手段,提供一种改进的单个接触装置和改进的测试设备。
[0008]该技术问题通过独立权利要求的主题得到解决。本专利技术的有利的进一步实施方案在从属权利要求、说明书和附图中指出。特别是,一个权利要求类别的独立权利要求也可以与另一个权利要求类别的从属权利要求类似地进一步扩展。
[0009]这里介绍的方案可以确保,在接触销落入凹缺以接触插接连接器的接触元件之前,接触销自动对准插接连接器壳体的凹缺。接触元件也可以在不侵入的情况下被接触。
[0010]本专利技术提出了一种用于用于插接连接器导通测试的测试设备的单个接触装置,其中,该单个接触装置具有用于放置在插接连接器所要接触的接触元件上的接触销和用于接触销的突出的辅助对中装置,其中,接触销是导电的,并在放置方向上由弹簧支承,并且辅助对中装置以可相对于接触销同轴移动的方式由弹簧支承。单个接触装置优选设计成这样,即在接触过程中,辅助对中装置首先放置在插接连接器的壳体上,在壳体上对中并且在此过程中,使接触销与壳体中的凹缺对齐,其中,在接触过程的另一进程中,辅助对中装置
相对于接触销同轴地弹性收缩(einfedern),直到接触销与所要接触的接触元件相抵靠。
[0011]此外,提出了一种用于电测试插接连接器的测试设备,其中,根据此处所提方案,该测试设备包括至少一个单个接触装置,优选具有多个并排排列的单个接触装置。
[0012]单个接触装置被设计用来与插接连接器的单一导电接触元件进行电接触。特别是,被布置在插接连接器壳体内的接触元件可以被接触。该接触元件可以是公接触元件或母接触元件。为了进行接触,单个接触装置的接触销可以引入壳体的凹缺中,直到接触销靠在接触元件上。接触销引入壳体的方向可称为放置方向。放置方向可以对应于接触元件的插接方向。接触销的方向可以使它不侵入接触元件。然后,接触销可以被取向为不侵入地靠在接触元件上。特别是,接触销可以横向于接触元件地定向。替代的是,接触销可以侵入接触元件以建立导电接触。接触销可以被压在接触元件上,直到接触销以确定的接触力压到接触元件上。当接触销被压在接触元件上时,接触销可以弹性收缩。
[0013]辅助对中装置可以在相对于放置方向弹性伸展的位置上伸出接触销之外。辅助对中装置和接触销可以在轴向方向上彼此相对移动。在辅助对中装置的弹性收缩位置,接触销可以在与放置方向相反的方向上突伸出辅助对中装置。辅助对中装置可以是电绝缘的。特别是,辅助对中装置可以由塑料材料制成,例如聚合物。另外,辅助对中装置也可以由金属材料制成。辅助对中装置可以接触壳体的外表面,并在接触销接触壳体之前将自己在壳体的轮廓上对中。如果辅助对中装置与轮廓线有侧向偏移和/或角度偏移,当辅助对中装置放在壳体上时,侧向力横向作用于辅助对中装置。侧向力移动和/或旋转辅助对中装置,直到它在轮廓上对中。在侧向移动和/或旋转的过程中,辅助对中装置带着接触销一起,从而使其与轮廓对齐。换句话说,辅助对中装置相对于接触销被固定和引导为使得它可以相对于接触销在轴向上弹性地移动,但相对于接触销在横向被牢牢固定。在对准的位置,接触销正好位于凹缺的前面,因此可以插入凹缺中,特别是不会接触到凹缺的边缘。
[0014]放在接触元件上后,接触销可以弹性回缩预定的距离,以达到预定的接触压力。弹性回缩补偿了接触元件的公差,从而使插接连接器的所有接触元件都能可靠地进行电接触。
[0015]辅助对中工具的突出端部可以具有对中斜面。突出端部可以是尖的。由于对中斜面的存在,突出端部的尖端可以比壳体的凹缺有更小的尺寸。由于对中斜面的存在,突出端部也可以在无引导斜面的情况下在凹缺中对中。
[0016]辅助对中装置可以在突出端部具有对中轮廓。对中轮廓可以至少部分反转地(negativ)映射出壳体的插接轮廓。插接轮廓可以有助于其他接触元件侵入到壳体中。插接轮廓可以有引导斜面。引导斜面可以是漏斗状的。在片状触点的情况下,插接轮廓的形状尤其可以是与片状触点平行的缝隙,并带有引导斜面。插接轮廓的反转形式可以具有与插接轮廓类似的坡度和比例,但被设计成凸起。
[0017]单个接触装置可以具有与接触销和/或辅助对中装置同轴的套筒。支撑辅助对中装置的弹簧可以布置在套筒内。套筒可以是一段管。套筒可以具有圆形的横截面。套筒可以侧向支撑弹簧,防止弹簧在压缩过程中侧向偏移。套筒也可以作为辅助对中装置的导向元件。
[0018]接触销可以具有扁平的头部区域。辅助对中装置可以具有相对于头部区域侧向偏移的对中区域。对中区域可以与头部区域相抵靠,并形成突出端部。头部可以具有与壳体的
凹缺的横截面积相似地形成的横截面积。对中区域可以与凹缺附近的壳体轮廓相适应。
[0019]辅助对中装置可以在弹性伸展的位置抵靠在头部区域的止挡表面上。止挡表面可以横向于放置方向地取向。止挡表面可以定义一个距离,辅助对中装置以这个距离突出接触销。头部区域可以在至少一侧侧向凸出接触销的柄部。凸出部分可以形成止挡表面。辅助对中装置可以具有相应的止挡表面。
[0020]头部区域可以至少部分地布置在对中区域的沟槽中。沟槽将辅助对中装置固定在接触销上,防止接触销扭转。沟槽至少在横向于沟槽的方向上引导头部区域。通过沟槽,对中区域可以在接触销的三面接触壳体。例如,对中区域可以放置在壳体的围绕凹缺的引导斜面上。
[0021]头部区域和对中区域可以彼此呈T字形排列。壳本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于插接连接器(200)导通测试的测试设备(500)的单个接触装置(100),其中,所述单个接触装置(100)具有接触销(102)以及用于所述接触销(102)的突出的辅助对中装置(104),所述接触销用于放置在所述插接连接器(200)所要接触的接触元件(400)上,其中,所述触点销(102)是导电的并且在放置方向上由弹簧支承,并且所述辅助对中装置(104)以可相对于触点销(102)同轴移动的方式由弹簧支承。2.根据权利要求1所述的单个接触装置(100),其中,所述辅助对中装置(104)的突出端部(106)具有对中斜面(110)。3.根据前述权利要求中任一项所述的单个接触装置(100),其中,所述辅助对中装置(104)在突出端部(106)处具有对中轮廓(112),其中,所述对中轮廓(112)至少局部地与插接连接器(200)的插接轮廓互补地形成。4.根据前述权利要求中任一项所述的单个接触装置(100),所述单个接触装置具有与所述接触销(102)和/或所述辅助对中装置(104)同轴布置的套筒(120),其中,支撑所述辅助对中装置(104)的弹簧被布置在所述套筒(120)内。5.根据前述权利要求中任一项所述的单个...

【专利技术属性】
技术研发人员:玛格达莱娜
申请(专利权)人:利萨
类型:发明
国别省市:

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