电抗器的温度上升试验方法技术

电抗器的温度上升试验方法包括将具有试验频率及试验电流值的试验电流通入电抗器的步骤，所述试验电流带来基于基波电流通电时的铜损(Wcu21)及高次谐波电流通电时的铜损(Wcu22)的目标铜损(Wcut)、以及基于基波电流通电时的铁损(Wfe21)及高次谐波电流通电时的铁损(Wfe22)的目标铁损(Wfet)。铁损(Wfe22)的目标铁损(Wfet)。铁损(Wfe22)的目标铁损(Wfet)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】电抗器的温度上升试验方法


[0001]本专利技术涉及一种流入多个频率的电流的电抗器的温度上升试验方法。

技术介绍

[0002]作为对电抗器的性能进行试验的方法有各种方法。其中，在非专利文献1中记载了对使用时的电抗器的温度上升进行试验的温度上升试验方法。在非专利文献1中，作为对高次谐波电流叠加到基波电流而流入的情况进行模拟的试验，规定进行以下的(1)或(2)的条件下的通电。
[0003]在此，例示容许电流类别I的情况。(1)将基波电流比35％的五次谐波含有率的五次谐波电流叠加到额定频率的额定电流而连续地通入电抗器(以下，称为以往试验X)。(2)将电抗器的损耗与后述的合计损耗等价的基波电流连续地通入电抗器(以下，称为以往试验Y)。所述合计损耗是额定频率的额定电流通电时的电抗器的实测损耗与基波电流比35％的五次谐波电流通电时的电抗器的实测损耗之和。
[0004]现有技术文献
[0005]非专利文献
[0006]非专利文献1：日本产业标准调查会“日本工业标准(Japanese Industrial Standards，J本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种电抗器的温度上升试验方法，包括：基于规定的电流值的基波电流通电时的铜损、以及各个规定的电流值的规定次数的高次谐波电流通电时的各自的铜损，算出目标铜损的步骤；基于所述基波电流通电时的铁损、以及各个所述高次谐波电流通电时的铁损，算出目标铁损的步骤；将带来所述目标铜损及所述目标铁损的电流的频率及电流值分别作为试验频率、试验电流值来算出的步骤；以及将具有所述试验频率、所述试验电流值的试验电流通入所述电抗器，通至所述电抗器的规定部位的温度成为恒定为止的步骤。2.根据权利要求1所述的电抗器的温度上升试验方法，其中通过计算而预先求出所述基波电流通电时的铜损、及各个所述高次谐波电流通电时的铜损。3.根据权利要求2所述的电抗器的温度上升试验方法，还包括：将规定的电流值的基波电流通入所述电抗器，并测定所述基波电流通电时的损耗的步骤；以及将各个规定的电流值的所述规定次数的高次谐波电流分别通入所述电抗器，并测定各个所述高次谐波电流通电时的损耗的步骤，所述基波电流通电时的铁损是自所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：前地洋明，桑田稔，
申请(专利权)人：日新电机株式会社，
类型：发明
国别省市：