一种对光模块进行自动老化测试的测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种对光模块进行自动老化测试的测试系统，包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱；控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息，对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制，以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试；所述测试箱包括测试主板；所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板，控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块；所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。本发明专利技术能够提升光模块老化测试的测试效率和准确度，同时降低了人工干预的成本和风险。风险。风险。

【技术实现步骤摘要】
一种对光模块进行自动老化测试的测试系统


[0001]本专利技术涉及一种对光模块进行自动老化测试的测试系统。

技术介绍

[0002]光模块主要由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接受两部分，光模块的作用就是发送端把电信号转换成光信号，通过光纤传送后，接收端再把光信号转换成电信号，光模块是进行光电和电光转换的光电子器件，为保证光模块的产品质量，需要对光模块进行老化测试，如在测试箱中检测光模块在不同温度中的使用寿命。
[0003]传统的进行老化测试的测试箱，通常只是简单的提供测试箱供电和监控信息面板显示的功能，在老化测试中需要操作人员的大量参与，同时无法精确控制老化测试环境，对于大批量的光模块老化测试，难以满足效率和准确度的要求。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]鉴于现有技术的上述缺点、不足，本专利技术提供了一种对光模块进行自动老化测试的测试系统。
[0006](二)技术方案
[0007]为了达到上述目的，本专利技术采用的主要技术方案包括：
[0008]第一方面，本专利技术实施例提供一种对光模块进行自动老化测试的测试系统，包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱；
[0009]控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息，对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制，以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试；
[0010]所述测试箱包括：测试主板；
[0011]所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板，控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块；
[0012]所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。
[0013]可选地，所述测试主板包括层板和背板，
[0014]所述背板作为测试主板的支撑结构设置于测试箱的一侧面；
[0015]所述层板通过可拆卸插拔方式与背板电连接；
[0016]每一层板通过可插拔方式插接至少一个待测光模块。
[0017]可选地，所述散热结构为设置在测试箱一侧面且并排放置的多个散热风扇，每一散热风扇借助于支撑架固定在测试箱的侧面，且电连接测试主板；
[0018]所述测试箱为半封闭结构，利用待测光模块工作发热做热源，通过控制电脑获取待测光模块工作温度，并根据预设温度范围控制所述散热风扇转速，实现两侧对流散热达到恒温效果。
[0019]可选地，所述测试箱还包括DC程控电源，
[0020]所述DC程控电源与测试主板、散热结构电连接；
[0021]所述DC程控电源与控制电脑通信连接，接收控制信号对测试箱及待测光模块进行供电/断电。
[0022]可选地，所述DC程控电源与控制电脑通过串口通信连接。
[0023]可选地，所述控制电脑在测试过程中按照预设时间间隔获取待测光模块的状态信息并展示。
[0024]可选地，所述待测光模块的状态信息包括并不限于以下一种或多种：
[0025]光模块类型，电压，电流，温度，发射功率，接收功率，误码率。
[0026]第二方面，本专利技术提供一种对光模块进行自动老化测试的方法，包括：
[0027]S1，控制电脑端接收待测光模块的老化测试配置信息；
[0028]S2，根据老化测试配置信息，向连接的测试箱发送配置指令，以使测试箱基于配置指令进行自动化配置，并启动测试；
[0029]S3，控制电脑周期接收测试箱反馈的测试箱的光模块测试状态信息并展示。
[0030]可选地，所述配置指令包括温度范围，所述测试箱根据所述温度范围控制所述散热结构工作，使得待测光模块在所述温度范围内进行老化测试。
[0031]可选地，控制电脑在老化测试完成后，根据测试结果和预设报告模板自动生成测试报告。
[0032](三)有益效果
[0033]与现有技术相比，本专利技术的对光模块进行自动老化测试的测试系统，通过电脑控制进行测试箱自动化配置和测试管控，精确控制待老化光模块工作升温的散热效果，能够实现在恒温条件下老化测试，同时还能够监控产品测试状态，提升了光模块老化测试的测试效率和准确度。
[0034]同时，本专利技术还通过控制电脑实现自动化老化测试，提升了测试效率的同时降低了人工干预的成本和风险。
附图说明
[0035]图1为本专利技术一实施例光模块自动老化测试系统框图；
[0036]图2为本专利技术一实施例光模块自动老化测试方法流程图；
[0037]图3为本专利技术一实施例测试箱结构图。
具体实施方式
[0038]为了更好的理解上述技术方案，下面将参照附图更详细地描述本专利技术的示例性实施例。虽然附图中显示了本专利技术的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本专利技术而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更清楚、透彻地理解本专利技术，并且能够将本专利技术的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0039]实施例一
[0040]如图1所示，本实施例中的对光模块进行自动老化测试的测试系统，由测试箱和控制电脑构成。
[0041]测试箱包括散热结构、测试主板和DC程控电源，三者之间均电连接。
[0042]DC程控电源根据控制电脑的指令对测试箱及待测光模块供电，与控制电脑之间通过串口连接。
[0043]测试主板与控制电脑之间通过USB连接。
[0044]需要说明的是，控制电脑与测试主板之间的通信连接和与DC程控电源之间的通信连接是相互独立的，这样能够实现不依赖测试主板的独立电源控制操作，同时，上述本实施例中的通信方式不构成对本专利技术控制电脑与测试主板和DC程控电源连接方式的限制，在其他实施中，可以选择合适的通信方式建立连接。
[0045]在本实施例中，散热结构采用设置在测试箱一侧面且并排放置的多个散热风扇，每一散热风扇借助于支撑架固定在测试箱的侧面。
[0046]可以理解的是，散热结构也可以采用其他具有类似散热作用的设备。
[0047]如图3所示，本实施例中采用的用散热风扇作为散热结构的测试箱，其中散热风扇安装在箱壁一侧面，多个风扇并排放置，每一散热风扇借助于支撑架固定。
[0048]测试主板由背板和层板构成，背板作为测试主板的支撑结构设置于测试箱的一侧面，层板通过可拆卸插拔方式与背板电连接，每一层板通过可插拔方式插接至少一个待测光模块。
[0049]测试箱接收控制电脑下发的老化测试配置信息，并根据老化测试配置信息控制各个老化测试光模块的供电，以及根据配置信息中的预设温度范围值控制散热风扇使得测试箱在配置的温度范围内恒温工作，并向所述控制电脑返回老化测试光模块的状态信息。
[0050]其中，老化测试过程中待测光模块的状态信息包括并不限于以下内容：光模块类型，电压，电流，温度，发射功率，接收功率，误码率。
[0051]需要说明的是，传统的光模块老化测试箱，有些采用外部热源进行恒温控制，本专利技术中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对光模块进行自动老化测试的测试系统，其特征在于，包括控制电脑、承载待测光模块的测试箱；控制电脑基于预先定义的老化测试配置信息，对测试箱内的待测光模块和测试箱进行控制，以使测试箱基于预设温度范围对待测光模块进行老化测试；所述测试箱包括：测试主板；所述待测光模块进行分层放置且电连接测试主板，控制电脑通过测试主板控制每个待测光模块；所述测试箱的一侧面设置有用于对待测光模块进行散热且保持测试箱体内温度在预设范围内的散热结构。2.根据权利要求1的所述的测试系统，其特征在于，所述测试主板包括层板和背板，所述背板作为测试主板的支撑结构设置于测试箱的一侧面；所述层板通过可拆卸插拔方式与背板电连接；每一层板通过可插拔方式插接至少一个待测光模块。3.根据权利要求1的所述的测试系统，其特征在于，所述散热结构为设置在测试箱一侧面且并排放置的多个散热风扇，每一散热风扇借助于支撑架固定在测试箱的侧面，且电连接测试主板；所述测试箱为半封闭结构，利用待测光模块工作发热做热源，通过控制电脑获取待测光模块工作温度，并根据预设温度范围控制所述散热风扇转速，实现两侧对流散热达到恒温效果。4.根据权利要求1的所述的测试系统，其特征在于，所述测试箱还包括DC程控电源，所述DC程控电源与测试主板、散热结...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭利伟，李江华，杜光云，李连城，魏志坚，过开甲，郑波，
申请(专利权)人：江西迅特通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：