本申请涉及光谱分析仪技术领域，更具体地涉及一种光电直读光谱分析仪，包括：一激发台、一分光室和一数据室，所述激发台包括一支承板，所述支承板安装在所述分光室上，且所述激发台与所述分光室之间具有一光传递通道，所述分光室与所述数据室电连接，所述支承板具有一激发腔和一凹槽，所述凹槽位于所述激发腔的一侧，所述激发腔内设有一集尘杯，所述激发台还包括一样品台，所述样品台的一端转动安装在所述凹槽内，在所述样品台转动预定角度后，所述样品台封闭或打开所述激发腔的腔口，本实用新型专利技术通过样品台转动预定角度并打开所述激发腔的腔口，以取出置于所述激发腔内的所述集尘杯实现便于清理集尘杯内颗粒的优势。实现便于清理集尘杯内颗粒的优势。实现便于清理集尘杯内颗粒的优势。
【技术实现步骤摘要】
一种光电直读光谱分析仪
[0001]本申请涉及光谱分析仪
，更具体地涉及一种光电直读光谱分析仪。
技术介绍
[0002]光电直读光谱仪主要运用于金属材料的炉前快速分析以及产品成分定量分析，具有分析速度快、准确度高等优点，广泛应用于冶金工业、机械工业及其他工业部门中。
[0003]现有一种光电直读光谱分析仪，如图1所示，包括一激发台90和一分光室，所述激发台90上具有一凹腔（图中未标出），所述凹腔内设有一集尘杯91，所述集尘杯91的杯口设有一样品台92，所述样品台92与所述激发台90螺纹连接并封闭所述凹腔的腔口，所述样品台92的中心具有一贯通的激发孔93，所述激发孔93的下方具有一第一导电针（图中未标出），所述激发孔93的上方具有一第二导电针（图中未标出），待测金属样品置于所述激发孔93上，且所述第二导电针与待测金属样品抵靠，当所述第一导电针与所述第二导电针通电后，所述第一导电针与待测金属样品之间产生火花，火花光源射入分光室内并经过处理后得到该待测金属样品中各元素的成分比例。当所述第一导电针与待测金属样品之间产生火花时，待测金属样品表面被烧蚀并产生烧蚀颗粒，烧蚀颗粒落入所述集尘杯91内，试验人员需定期清理所述集尘杯91的烧蚀颗粒。但是：为取出所述激发腔内的所述集尘杯91，需拆下所述样品台92，但由于所述样品台92与所述激发台90为螺纹连接，试验人员需拆下所述样品台92上的若干个螺钉，将螺钉收集整理至一处，拿出所述样品台92，再取出所述集尘杯91并进行清理，在将清理后的所述集尘杯91重新放入所述凹腔后，试验人员需要将所述样品台92重新放在所述凹腔的腔口处，并将每一螺钉均拧回原来位置，在大批量测试场合中，因待测金属样品的数量多，试验人员需频繁对所述集尘杯91进行清理，但因所述样品台92与所述激发台90为螺纹连接，清理所述集尘杯91较为不便。
[0004]因此提供一种便于清理集尘杯内颗粒、便于拆装样品台的光电直读光谱分析仪的需求是存在的。
技术实现思路
[0005]本申请主要目的在于提供一种光电直读光谱分析仪，其中，包括一激发台、一分光室和一数据室，所述激发台包括一支承板，所述支承板安装在所述分光室上，且所述激发台与所述分光室之间具有一光传递通道，所述分光室与所述数据室电连接，所述支承板具有一激发腔和一凹槽，所述凹槽位于所述激发腔的一侧，所述激发腔内设有一集尘杯，所述激发台还包括一样品台，所述样品台的一端转动安装在所述凹槽内，在所述样品台转动预定角度后，所述样品台封闭或打开所述激发腔的腔口，清理所述集尘杯时，试验人员令所述样品台转动预定角度并打开所述激发腔的腔口，以取出置于所述激发腔内的所述集尘杯，实现便于清理集尘杯内颗粒的优势。
[0006]本申请的另一目的在于提供一种光电直读光谱分析仪，其中，所述凹槽的槽底具有一容置槽，所述容置槽自所述凹槽靠近所述激发腔的一侧壁向所述激发腔方向延伸预定
距离，所述容置槽连通所述凹槽，所述样品台的一端具有一转动部，所述转动部穿过所述凹槽并转动安装在所述容置槽内，所述凹槽和所述容置槽的连接处具有一弹片，所述弹片背离所述激发腔的一端与所述凹槽的底璧固定连接，所述转动部在所述容置槽内转动，在拆下所述样品台时，令所述转动部自所述容置槽穿过所述弹片并进入所述凹槽，并被取出外界，在安装所述样品台时，令所述转动部伸入所述凹槽内并与所述凹槽的底壁抵靠，令所述转动部向所述容置槽方向移动，穿过所述弹片后置于所述容置槽内，通过弹片对所述转动部起到限位作用，通过将所述转动部设于所述容置槽内实现便于拆装样品台的优势。
[0007]本申请的另一目的在于提供一种光电直读光谱分析仪，其中，所述集尘杯的杯口具有一握持部，所述集尘杯的杯口口沿向所述电极件方向弯折预定角度形成所述握持部，通过设置所述握持部以便于取出所述集尘杯。
[0008]本申请的另一目的在于提供一种光电直读光谱分析仪，其中，所述光电直读光谱分析仪结构简单、操作便捷，不涉及复杂的制造工艺和昂贵的材料，具有较高的经济性，易于推广和使用。
[0009]为了实现上述至少一专利技术目的，本申请提供了一种光电直读光谱分析仪，包括一激发台、一分光室和一数据室，所述激发台包括一支承板，所述支承板安装在所述分光室上，且所述激发台与所述分光室之间具有一光传递通道，所述分光室与所述数据室电连接，其中所述光电直读光谱分析仪，包括：
[0010]所述支承板具有一激发腔和一凹槽，所述凹槽位于所述激发腔的一侧，所述激发腔内设有一集尘杯，所述激发台还包括一样品台，所述样品台的一端转动安装在所述凹槽内，在所述样品台转动预定角度后，所述样品台封闭或打开所述激发腔的腔口。
[0011]在本申请一个或多个实施例中，所述凹槽的槽底具有一容置槽，所述容置槽自所述凹槽靠近所述激发腔的一侧壁向所述激发腔方向延伸预定距离，所述容置槽连通所述凹槽，所述样品台的一端具有一转动部，所述转动部穿过所述凹槽并转动安装在所述容置槽内。
[0012]在本申请一个或多个实施例中，所述凹槽和所述容置槽的连接处具有一弹片，所述弹片背离所述激发腔的一端与所述凹槽的底璧固定连接。
[0013]在本申请一个或多个实施例中，所述激发腔背离所述凹槽的一侧还具有一按压组件，所述按压组件包括一按压件，所述按压件的一端具有一按压部，所述按压件的另一端设有一弹性件，所述按压部和所述弹性件之间设有一凸起，所述凸起与所述支承板固定连接，所述按压件与所述凸起铰接，所述弹性件的两端分别与所述按压件和所述支承板连接，当所述按压部与所述样品台抵靠时，所述弹性件呈压缩状态。
[0014]在本申请一个或多个实施例中，所述激发腔内设有一电极件，所述电极件安装在所述支承板上，且所述电极件穿设所述集尘杯，所述样品台具有一贯通的激发孔，所述激发孔正对于所述电极件，所述支承板上转动安装有一导电针，当所述导电针转动预定角度后，所述导电针正对于所述激发孔。
[0015]在本申请一个或多个实施例中，所述激发台还包括一调节组件，所述调节组件包括一立杆、一移动件、一铰接件和一转动件，所述立杆设于所述支承板上，所述移动件滑动设置在所述立杆上，所述移动件背离所述立杆的一端具有一贯穿孔，所述铰接件穿设所述贯穿孔，所述转动件转动安装在所述铰接件上，所述导电针设于所述转动件上，且所述导电
针与所述转动件固定连接。
[0016]在本申请一个或多个实施例中，所述激发腔的底璧具有一进气口和一出气口，所述电极件位于所述进气口和所述出气口之间，所述光电直读光谱分析仪还包括一气源室，所述气源室包括一氩气腔和一废气腔，所述氩气腔内设有一第一气瓶，所述第一气瓶的输出端与所述进气口连通，所述出气口与所述废气腔连通，所述集尘杯具有一容置腔，所述进气口和所述出气口均与所述容置腔连通。
[0017]在本申请一个或多个实施例中，所述集尘杯的杯口具有一握持部，所述集尘杯的杯口口沿向所述电极件方向弯折预定角度形成所述握持部。
[0018]在本申请一个或多个实施例中，所述支承板的两侧分别设有一魔术贴公本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光电直读光谱分析仪，包括一激发台、一分光室和一数据室，所述激发台包括一支承板，所述支承板安装在所述分光室上，且所述激发台与所述分光室之间具有一光传递通道，所述分光室与所述数据室电连接，其特征在于：所述支承板具有一激发腔和一凹槽，所述凹槽位于所述激发腔的一侧，所述激发腔内设有一集尘杯，所述激发台还包括一样品台，所述样品台的一端转动安装在所述凹槽内，在所述样品台转动预定角度后，所述样品台封闭或打开所述激发腔的腔口。2.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪，其特征在于：所述凹槽的槽底具有一容置槽，所述容置槽自所述凹槽靠近所述激发腔的一侧壁向所述激发腔方向延伸预定距离，所述容置槽连通所述凹槽，所述样品台的一端具有一转动部，所述转动部穿过所述凹槽并转动安装在所述容置槽内。3.根据权利要求2所述的光电直读光谱分析仪，其特征在于：所述凹槽和所述容置槽的连接处具有一弹片，所述弹片背离所述激发腔的一端与所述凹槽的底璧固定连接。4.根据权利要求1所述的光电直读光谱分析仪，其特征在于：所述激发腔背离所述凹槽的一侧还具有一按压组件，所述按压组件包括一按压件，所述按压件的一端具有一按压部，所述按压件的另一端设有一弹性件，所述按压部和所述弹性件之间设有一凸起，所述凸起与所述支承板固定连接，所述按压件与所述凸起铰接，所述弹性件的两端分别与所述按压件和所述支承板连接，当所述按压部与所述样品台抵靠时，所述弹性件呈压缩状态。5.根据权利要求4所述的光电直读光谱分析仪，其特征在于：所述激发腔内设有一电极件，所述电极件安装在所述支承板上，且所述电极件穿设所述集尘杯，所述样品台具有一贯通的激发孔，所述激发孔正对于所述电极件，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：祝华，
申请(专利权)人：宁波津准检测技术服务有限公司，
类型：新型
国别省市：
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