本发明专利技术涉及调试技术领域，公开了一种芯片调试方法、装置、系统及芯片，所述方法包括：获取调试任务；基于所述调试任务中调试子任务的任务类型进行任务划分，得到与所述任务类型对应的调试子任务；基于所述调试子任务的任务类型，将所述调试子任务分配至对应的调试通道；获取每个所述调试通道对应的调试子任务的数量，并基于所述数量对所述调试通道对应的缓存空间进行调整；通过调整后的缓存空间对所述调试通道的调试子任务进行处理，以获得芯片的调试结果。本发明专利技术能够解决芯片调试效率较低的问题。题。题。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片调试方法、装置、系统及芯片
[0001]本专利技术涉及调试
，具体涉及一种芯片调试方法、装置、系统及芯片。
技术介绍
[0002]近年来，随着半导体技术的飞速发展，越来越多的电子设备上使用到了IC芯片，同时伴随着芯片技术的快速发展，芯片的体积也越来越小，功能也越来越复杂。目前主要采用边界扫描机制来调试芯片的电路系统，即，通过在IC芯片的输入输出引脚与内核电路之间设置边界扫描结构，在芯片的外部引脚上对芯片内部进行调试。但是，这种调试方式在实际调试过程中，其调试速度会受到芯片与调试工具之间SWD或JTAG通信协议的限制，且，同一时间只能有一条调试通路与外部调试工具进行数据交互，因此，极大地限制了芯片的调试速度，造成芯片的调试效率较低。
技术实现思路
[0003]有鉴于此，本专利技术提供了一种芯片调试方法、装置、系统及芯片，以解决芯片调试效率较低的问题。
[0004]第一方面，本专利技术提供了一种芯片调试方法，所述方法包括：
[0005]获取调试任务；
[0006]基于所述调试任务中调试子任务的任务类型进行任务划分，得到与所述任务类型对应的调试子任务；
[0007]基于所述调试子任务的任务类型，将所述调试子任务分配至对应的调试通道；
[0008]获取每个所述调试通道对应的调试子任务的数量，并基于所述数量对所述调试通道对应的缓存空间进行调整；
[0009]通过调整后的缓存空间对所述调试通道的调试子任务进行处理，以获得芯片的调试结果。
[0010]在该方式中，通过将调试任务划分为不同任务类型的调试子任务，并分配至对应的调试通道进行处理，因此，能够多调试通道对调试子任务并行处理，以提高芯片的调试效率。同时，基于每个调试通道分配到的调试子任务数量对调试通道对应的缓存空间进行调整，能够实现缓存空间的高效率利用。
[0011]在一种可选的实施方式中，所述通过调整后的缓存空间对所述调试通道的调试子任务进行处理，以获得芯片的调试结果，包括：
[0012]根据所述调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间，以获得所述芯片的调试结果；其中，所述调试数据包括写入所述芯片内存的数据和/或读取所述芯片内存的数据。
[0013]在该方式中，在根据调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试时，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间。因此，能够充分利用缓存访问数据快的特性，以进一步提高芯片的调试效率。
[0014]在一种可选的实施方式中，所述根据所述调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间，以获得所述芯片的调试结果，包括：
[0015]当所述调试子任务为读取任务时，根据所述调试通道的调试子任务读取所述芯片内存的数据；
[0016]将读取到的数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间中；
[0017]若所述调试通道对应的调试子任务处理完成，则向外部调试工具发送读取消息，以从所述调试通道对应的缓存空间中读取数据。
[0018]在该方式中，一方面通过多调试通道并行读取芯片内存的数据，以提高芯片的调试效率；另一方面，将读取到的芯片数据分别保存至调试通道对应的缓存空间中，然后由外部调试工具从缓存空间中读取数据，从而能够实现缓存的高效率利用，以充分利用缓存数据访问效率更高的特性，提高芯片与外部调试工具的数据传输速度，进而提高芯片的调试效率。
[0019]在一种可选的实施方式中，所述根据所述调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间，以获得所述芯片的调试结果，还包括：
[0020]当所述调试子任务为写入任务时，根据所述调试通道的调试子任务，将其对应的缓存空间内的数据写入至所述芯片内存；
[0021]获取每个所述调试子任务对应的数据写入状态，并将每个所述调试子任务对应的数据写入状态反馈至外部调试工具。
[0022]在该方式中，由于调试子任务对应写入所述芯片内存的数据已预先缓存在相应的缓存空间内，因此，能够多调试通道并行，将其对应的缓存空间内的数据写入至所述芯片内存，以进一步提高芯片的调试效率。
[0023]在一种可选的实施方式中，所述基于所述调试子任务的任务类型，将所述调试子任务分配至对应的调试通道，包括：
[0024]确定与所述调试子任务的任务类型对应的调试通道；
[0025]当与所述任务类型对应的调试通道的数量为1时，将所述调试子任务分配至所述调试通道；
[0026]当与所述任务类型对应的调试通道的数量不为1时，基于所述调试通道的数据处理速度或者优先级配置，将所述调试子任务分配至对应的调试通道。
[0027]在该方式中，首先根据调试子任务的任务类型，将调试子任务分配至对应的调试通道，若该任务类型对应的调试通道不为1，则进一步根据调试通道的数据处理速度或者优先级配置，将调试子任务分配至对应的调试通道。因此，能够在多调试通道并行处理的基础上，使数据处理速度更快或者优先级配置更高的调试通道处理更多的调试子任务，以进一步提高芯片的调试效率。
[0028]在一种可选的实施方式中，所述基于所述数量对所述调试通道对应的缓存空间进行调整，包括：
[0029]计算各个所述调试通道之间调试子任务的数量比值；
[0030]根据所述调试通道对应的数量比值，调整所述调试通道对应的缓存空间大小。
[0031]在该方式中，根据调试通道之间分配到的调试子任务的数量比值，调整所述调试通道对应的缓存空间大小。因此，能够实现缓存的高效率利用。
[0032]在一种可选的实施方式中，所述方法还包括：
[0033]当所述调试通道对应的缓存空间满足预设的缓存阈值条件时，向外部调试工具发送缓存状态信息，以使所述外部调试工具从所述调试通道对应的缓存空间中读取数据或者暂停向所述调试通道对应的缓存空间写入数据。
[0034]在该方式中，当所述调试通道对应的缓存空间满足预设的缓存阈值条件时，通知外部调试工具从缓存空间中读取数据或者暂停向缓存空间写入数据，从而能够避免缓存空间出现数据溢出，造成芯片调试报错。
[0035]第二方面，本专利技术提供了一种芯片调试装置，所述装置包括：
[0036]数据接收模块，用于获取调试任务；
[0037]任务划分模块，用于基于所述调试任务中调试子任务的任务类型进行任务划分，得到与所述任务类型对应的调试子任务；
[0038]任务分配模块，用于基于所述调试子任务的任务类型，将所述调试子任务分配至对应的调试通道；
[0039]缓存分配模块，用于获取每个所述调试通道对应的调试子任务的数量，并基于所述数量对所述调试通道对应的缓存空间进行调整；
[0040]任务处理模块，用于通过调整后的缓存空间对所述调试通道的调试子任务进行处理，以获得芯片的调试结果
[0041本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片调试方法，其特征在于，所述方法包括：获取调试任务；基于所述调试任务中调试子任务的任务类型进行任务划分，得到与所述任务类型对应的调试子任务；基于所述调试子任务的任务类型，将所述调试子任务分配至对应的调试通道；获取每个所述调试通道对应的调试子任务的数量，并基于所述数量对所述调试通道对应的缓存空间进行调整；通过调整后的缓存空间对所述调试通道的调试子任务进行处理，以获得芯片的调试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过调整后的缓存空间对所述调试通道的调试子任务进行处理，以获得芯片的调试结果，包括：根据所述调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间，以获得所述芯片的调试结果；其中，所述调试数据包括写入所述芯片内存的数据和/或读取所述芯片内存的数据。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间，以获得所述芯片的调试结果，包括：当所述调试子任务为读取任务时，根据所述调试通道的调试子任务读取所述芯片内存的数据；将读取到的数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间中；若所述调试通道对应的调试子任务处理完成，则向外部调试工具发送读取消息，以从所述调试通道对应的缓存空间中读取数据。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述调试通道的调试子任务对所述芯片进行调试，将调试过程中的调试数据缓存至所述调试通道对应的缓存空间，以获得所述芯片的调试结果，还包括：当所述调试子任务为写入任务时，根据所述调试通道的调试子任务，将其对应的缓存空间内的数据写入至所述芯片内存；获取每个所述调试子任务对应的数据写入状态，并将每个所述调试子任务对应的数据写入状态反馈至外部调试工具。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述调试子任务的任...
【专利技术属性】
技术研发人员：王语鑫，宁宁，
申请(专利权)人：山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司，
类型：发明
国别省市：
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