一种通过光纤测温监控的母线槽及组装方法技术

技术编号:38471145 阅读:31 留言:0更新日期:2023-08-11 14:47
本发明专利技术公开一种通过光纤测温监控的母线槽及组装方法,包括母线槽壳体,在母线槽壳体内部排列多个铜排,在所述母线槽壳体内所述铜排的四周安装有光纤测温组件;所述光纤测温组件包括四块首尾相接环绕于铜排四周的光纤测温块;每块光纤测温块中均设有测温光纤,利用激光在光纤中的散射随温度变化而变化的原理,监测母线槽的铜排在工作过程中的温度变化。本发明专利技术通过光纤测温组件中的光纤密布环绕铜排的四周并利用激光在光纤中的散射随温度变化而变化的原理,监测母线槽的铜排在工作过程中的温度变化,以解决目前温度传感器单点测温无法及时反馈温度异常,从而产生击穿短路或对地故障,极易引发事故的问题。极易引发事故的问题。极易引发事故的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种通过光纤测温监控的母线槽及组装方法


[0001]本专利技术涉及母线槽
,特别涉及一种通过光纤测温监控的母线槽及组装方法。

技术介绍

[0002]现有技术中母线槽通常采用侧板和盖板组成母线槽壳体,用于装设PE、L1、L2、L3、L4五相铜排,由于线路通电工作中,传统的母线槽结构其散热能力差,若铜排搭接部位由于螺栓未拧紧或过载运行的情况下易产生发热,若发热情况无法监测,会引起绝缘降低、载流量降低,甚至会产生击穿短路或对地故障,极易引发事故。
[0003]传统的母线槽温度监测一般采用在母线槽内部装设温度传感器再通过导线连接传输信号给控制单元,再通过控制单元显示或进行传输处理。温度传感器仅能实现单点测温,当故障点距离温度传感器的测温点距离较远时,温度传感器将无法及时反馈温度异常,从而产生击穿短路或对地故障,极易引发事故。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种通过光纤测温监控的母线槽,通过光纤测温组件中的光纤密布环绕铜排的四周并利用激光在光纤中的散射随温度变化而变化的原理,监测母线槽的铜排在工作过程中的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通过光纤测温监控的母线槽,包括母线槽壳体(1),在母线槽壳体(1)内部排列多个铜排(2),其特征在于,在所述母线槽壳体(1)内所述铜排(2)的四周安装有光纤测温组件(3);所述光纤测温组件(3)包括四块首尾相接环绕于铜排(2)四周的光纤测温块;每块光纤测温块中均设有测温光纤,利用激光在光纤中的散射随温度变化而变化的原理,监测母线槽的铜排(2)在工作过程中的温度变化。2.如权利要求1所述的一种通过光纤测温监控的母线槽,其特征在于,所述四块光纤测温块包括两块间隔设置的第一光纤测温块(301)以及两块位于第一光纤测温块(301)两侧的第二光纤测温块(302),使得四块光纤测温块相互拼接形成矩形框环绕于所述铜排(2)的四周。3.如权利要求2所述的一种通过光纤测温监控的母线槽,其特征在于,所述第一光纤测温块(301)和所述第二光纤测温块(302)的长度大于或等于所述母线槽壳体(1)的长度,所述第一光纤测温块(301)的宽度大于或等于铜排(2)的宽度,所述第二光纤测温块(302)的宽度大于或等于多个铜排(2)叠加的厚度。4.如权利要求2所述的一种通过光纤测温监控的母线槽,其特征在于,所述第一光纤测温块(301)和所述第二光纤测温块(302)两侧均加工有45度的安装斜面,相邻的所述第一光纤测温块(301)和所述第二光纤测温块(302)侧面通过斜面拼接。5.如权利要求4所述的一种通过光纤测温监控的母线槽,其特征在于,在所述第一光纤测温块(301)或所述第二光纤测温块(302)边缘贯穿开设有沉头螺栓孔,通过螺栓将相邻的所述第一光纤测温块(301)和所述第二光纤测温块(302)连接。6.如权利要求2所述的一种通过光纤测温监控的母线槽,其特征在于,所述第一光纤测温块(301)包括测温框架(3011),在所述测温框架(3011)中内沿长度方向间隔分布有多根测温光纤(3012),且相邻两根测温光纤(3012)之间的间距小于等于光纤的有效散射距离。7.如权利要求6所述的一种通过光纤测温监控的母线槽,其特征在于,在所述测温框架(3011)长度方向的两侧设有多个U型管(3013),一根测温光纤(3012)依次穿过多个U型管(3013),使得所述测温光纤(3012)在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭春松王俊吴进新
申请(专利权)人:镇江西杰电气有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1