内核性能验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例提供一种内核性能验证方法、装置、电子设备及存储介质，其中，所述方法，包括：获取用目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值；元数据与内核性能验证需求相关；基于目标测试用例组的元数据和性能配置值，确定目标测试用例组的目标理论值；根据目标理论值和目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取目标测量值；对目标理论值和目标测量值进行比较，得到内核性能验证结果。本发明专利技术实施例所提供的技术方案，通过基于测试用例与内核性能验证进行分层处理，可以系统化验证芯片设计的内核性能，提升内核性能验证的准确性和便捷性。升内核性能验证的准确性和便捷性。升内核性能验证的准确性和便捷性。

【技术实现步骤摘要】
内核性能验证方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请实施例涉及芯片设计验证
，具体涉及一种内核性能验证方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]性能验证在芯片设计的前端验证中占据很重要的地位。性能验证通过计算芯片设计的理论性能值，并将计算得到的理论值与基于芯片设计的仿真测试结果中提取到的相对应的测量值进行对比来实现。芯片设计的内核(core)是芯片设计处理数据的核心，因此如何提供技术方案，以系统化验证芯片设计的内核性能，提升内核性能验证的准确性和便捷性，成为了本领域技术人员亟需解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种内核性能验证方法、装置、电子设备及存储介质，以系统化验证芯片设计的内核性能，提升内核性能验证的准确性和便捷性。
[0004]为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种内核性能验证方法，包括：
[0006]获取目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值；所述目标测试用例组的元数据与内核性能验证需求相关；
[0007]基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，确定所述目标测试用例组的各个测试用例的目标理论值；以及，根据所述目标理论值和所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取各个测试用例的目标测量值；
[0008]对所述目标理论值和所述目标测量值进行比较，得到所述目标测试用例组的各个测试用例的内核性能验证结果。
[0009]第二方面，本专利技术实施例提供一种内核性能验证装置，包括：
[0010]测试用例性能模块，用于获取目标测试用例组的元数据；所述目标测试用例组的元数据与内核性能验证需求相关；
[0011]内核性能模块，包括理论值确定模块、测量值获取模块和性能验证模块；其中，所述理论值确定模块，用于基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，确定所述目标测试用例组的各个测试用例的目标理论值；
[0012]所述测量值获取模块，用于根据所述目标理论值和所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取各个测试用例的目标测量值；
[0013]所述性能验证模块，用于对所述目标理论值和所述目标测量值进行比较，得到所述目标测试用例组的各个测试用例的内核性能验证结果。
[0014]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述处理器调用所述存储器中存储的程序，执行如第一方面所述的内核性能验证方法。
[0015]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被执行时实现如第一方面所述的内核性能验证方法。
[0016]本专利技术实施例提供了一种内核性能验证方法，包括：获取目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值执行内核性能验证处理，得到内核性能验证结果；所述目标测试用例组的元数据与内核性能验证需求相关；所述内核性能验证处理包括：基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，确定所述目标测试用例组的各个测试用例的目标理论值；以及，根据所述目标理论值和所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取各个测试用例的目标测量值；对所述目标理论值和所述目标测量值进行比较，得到所述目标测试用例组的各个测试用例的内核性能验证结果。在本专利技术实施例所提供的内核性能验证方法中，可以基于各个测试用例的性能配置值和各个测试用例的元数据，计算针对于内核性能验证的理论值和测量值；从而可以基于理论值和测量值的比较，得到内核性能验证结果，实现内核性能验证的系统化处理。可见，本专利技术实施例所提供的内核性能验证方法，针对于任一芯片设计的内核性能验证，都可以直接利用目标测试用例组的各个测试用例，获取各个测试用例的元数据和性能配置值，自动化系统化的完成内核性能验证，同时还可以将测试用例的性能配置值以及元数据的处理过程，与内核性能验证时理论值、测量值以及内核性能验证结果的计算过程进行分层实现，以便于根据不同的测试用例实现不同需求下的内核性能验证；可以系统化实现芯片设计的内核性能验证，同时提升内核性能验证的准确性和便捷性。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0018]图1是本专利技术实施例所提供的内核性能验证方法的一流程示意图；
[0019]图2是本专利技术实施例所提供的内核性能验证方法的另一流程示意图；
[0020]图3是本专利技术实施例所提供的内核性能验证装置的一框架示意图；
[0021]图4是利用本专利技术实施例所提供的内核性能验证方法获得的目标理论值的一结果示意图；
[0022]图5是利用本专利技术实施例所提供的内核性能验证方法获得的内核性能验证的一结果示意图。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]由于在芯片设计的定义过程中，对于芯片设计的运算和数据传输都有要求，如果
可以在芯片设计的实现阶段尽早地得出一些基本数据，为硅后测试测算出一些性能数据，可以帮助提前指明芯片设计的实际性能是否满足设计需求。在一些情况下对于可以进行后续调整的芯片设计还可以做出完善芯片性能的修改，同时，在芯片设计最终完成之前提前进行性能测试的方式也可以使得硅前验证与硅后测试使用的性能测试用例保持一致，进而得出有帮助的性能数据。
[0025]性能验证用来衡量一个芯片设计(例如深度计算单元)在特定的工作负载下的响应能力和稳定性，同时通过性能报告也可以用来分析和优化芯片设计的质量标准，例如可靠性和资源使用能力。因此，在前端的芯片设计的验证中性能验证占据很重要的地位。
[0026]性能验证是具有一套有别于功能验证和功耗验证等的验证方法，它主要通过计算内核性能的理论值，并将理论值与测试结果文件中提取的相对应的测量值进行对比来工作。性能验证是一门实用的计算机科学工程方法，且在软件工程测试中分类较多，譬如有负载测试(load testing)、压力测试(stress testing)、浸泡测试(soak testing)、尖峰冲击测试(spike testing)、配置测试(configuration testing)、隔断测试(isolation testing)等。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种内核性能验证方法，其特征在于，包括：获取目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值；所述目标测试用例组的元数据与内核性能验证需求相关；基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，确定所述目标测试用例组的各个测试用例的目标理论值；以及，根据所述目标理论值和所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取各个测试用例的目标测量值；对所述目标理论值和所述目标测量值进行比较，得到所述目标测试用例组的各个测试用例的内核性能验证结果。2.如权利要求1所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，确定所述目标测试用例组的各个测试用例的目标理论值，包括：基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，获取所述目标测试用例组的各个测试用例中，各个子对象所对应的性能值；所述子对象基于设置测试用例组时对应的内核功能确定；在各个所述性能值中确定目标性能值为所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的目标理论值。3.如权利要求2所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述根据所述目标理论值和所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取各个测试用例的目标测量值，包括：获取所述目标理论值对应的子对象，得到瓶颈值；根据所述瓶颈值确定针对于所述子对象的测试用例所对应的测试结果文件，得到目标测试结果文件；基于所述目标测试结果文件获取目标测量值。4.如权利要求3所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述基于所述目标测试结果文件获取目标测量值，包括：获取所述目标测试结果文件对应的至少一个测量算法；基于设定算法标识在至少一个所述测量算法中确定目标测量算法，利用所述目标测量算法对所述目标测试结果文件进行计算，得到所述目标测量值。5.如权利要求4所述的内核性能验证方法，其特征在于，在所述获取所述目标测试结果文件对应的至少一个测量算法的步骤之后，还包括：利用各个所述测量算法对所述目标测试结果文件进行计算，得到多个测量值，并将多个所述测量值进行展示。6.如权利要求5所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述对所述目标理论值和所述目标测量值进行比较，得到所述目标测试用例组的各个测试用例的内核性能验证结果，包括：当所述目标测量值与所述目标理论值的比值达到设定百分比时，得到所述目标测试用例组的各个测试用例的内核性能验证结果为测试通过；所述设定百分比基于所述目标测量值和所述目标理论值对应的测试用例的类型确定。7.如权利要求1
‑
6任一项所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述获取所述目标测
试用例组的性能配置值，包括：获取根据所述内核对应的芯片的设计需求设置的项目配置文件，所述项目配置文件所记录的项目名称与所述测试用例组的名称对应，所述芯片的设计需求包含内核功能；根据所述项目配置文件获取所述目标测试用例组的性能配置值。8.如权利要求7所述的内核性能验证方法，其特征在于，还包括：获取根据所述内核对应的芯片验证需求建立的应用集；根据所述应用集获取测量算法，以对测试结果文件进行计算；所述芯片验证需求包括性能验证需求和功能验证需求，所述性能验证需求包括所述内核性能验证需求。9.如权利要求1
‑
6任一项所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述目标测试用例组的各个测试用例基于内核性能验证需求对应的内核功能进行设置。10.如权利要求9所述的内核性能验证方法，其特征在于，所述获取目标测试用例组的元数据和目标测试用例组的性能配置值的步骤之前，还包括：获取测试用例组列表，所述测试用例组列表包含各个所述测试用例组，用于提供目标测试用例组。11.如权利要求10所述的内核性能验证方法，其特征在于，还包括：根据设定范围从所述测试用例组列表中确定多个目标测试用例组，以形成目标测试用例组集合；所述设定范围利用正则表达方法进行定义；针对所述目标测试用例组集合中的任一目标测试用例组，执行所述获取目标测试用例组的元数据和目标测试用例组的性能配置值的步骤。12.一种内核性能验证装置，其特征在于，包括：测试用例性能模块，用于获取目标测试用例组的元数据；所述目标测试用例组的元数据与内核性能验证需求相关；内核性能模块，包括理论值确定模块、测量值获取模块和性能验证模块；其中，所述理论值确定模块，用于基于所述目标测试用例组的元数据和所述目标测试用例组的性能配置值，确定所述目标测试用例组的各个测试用例的目标理论值；所述测量值获取模块，用于根据所述目标理论值和所述目标测试用例组的各个测试用例所对应的测试结果文件，获取各个测试用例的目标测量值；所述性能验证模块，用于对...

【专利技术属性】
技术研发人员：李力昭，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：