一种有序的杂波图恒虚警检测算法制造技术

本发明专利技术主要关于一种有序的杂波图恒虚警检测算法，涉及雷达检测算法技术领域，首先以OS

【技术实现步骤摘要】
一种有序的杂波图恒虚警检测算法


[0001]本专利技术主要关于雷达检测算法
，特别是关于一种有序的杂波图恒虚警检测算法。

技术介绍

[0002]雷达技术中，在复杂的电磁回波信号中对目标信号与杂波信号(包含接收机噪声)进行区分判别是必要的，在雷达科学发展早期，目标检测是由专门的雷达操作员进行回波视频信号监视并根据历史经验进行目标真伪判别，该方法耗费人力物力，且受到人为主观因素影响较大。后续发展出固定门限检测，该方法根据精确已知的背景杂波统计数据和相关虚警概率计算固定数值的检测门限进行目标判别，但是在实际应用中杂波功率是变化的，因而该方法的虚警概率波动较大，严重影响雷达系统性能。恒虚警检测(Constant False Alarm Rate,CFAR)是现代雷达进行目标检测的主流方法，该方法可以在保持一定虚警概率的同时获得随杂波数据变化而变化的检测门限，大大降低了虚警和漏报的产生，在目标检测领域有着重要地位。
[0003]现有的恒虚警检测算法也被迁移应用于外辐射源雷达系统中使用，这些算法属于通用型的算法，没有针对外辐射源雷达系统的一些本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种有序的杂波图恒虚警检测算法，其特征在于：以OS
‑
CFAR算法对雷达扫描数据进行处理，计算获得待检测单元；以CM
‑
CFAR算法进行处理得到背景杂波功率水平估计，利用标称因子计算检测门限；将检测门限与待检测单元幅值进行比较完成恒虚警检测。2.根据权利要求1所述的有序的杂波图恒虚警检测算法，其特征在于：所述有序的杂波图恒虚警检测算法适用于均匀、多目标以及杂波边缘环境的至少一种环境。3.根据权利要求1或2所述的有序的杂波图恒虚警检测算法，其特征在于：具体包括：S1、通过OS
‑
CFAR算法对雷达扫描数据进行处理计算待检测门限；S2、将待检测门限与标称因子的倒数相乘得到待检测单元；S3、利用CM
‑
CFAR算法进行处理得到背景杂波功率水平估计，利用标称因子计算检测门限T；S4、将检测门限T与待检测单元的幅值d进行比较，若待检测单元的幅值大于检测门限，则待检测单元中存在目标回波能量，完成恒虚警检测。4.根据权利要求3所述的有序的杂波图恒虚警检测算法，其特征在于：所述检测门限T的计算公式为：T＝Y*α其中，Y为第t雷达扫描周期时刻的参考值；α为标称因子；Y＝w*d(t)+(1
‑
w)*Y(t
‑
1)其中，w为遗忘因子；d(t)为第t雷达扫描周期时刻的待检测单元回波幅值；Y(t
‑
1)为第t
‑
1雷达扫描周期时刻的参考值。5.根据权利要求3所述的有序的杂波图恒虚警检测算法，其特征在于：所述步骤S3中计算检测门限T时需迭代计算完成检测门限T。6.根据权利要求3所述的有序的杂波图恒虚警检测算法，其特征在于：将检测门限与待检测单元幅值d进行比较，以判断目标有无，当待检测单元幅值大于检测门限时，假设H1成立，待检测单元中存在目标回波能量；否则，假设H0成立，待检测单元中没有目标回波能量。7.一种有序的杂波图恒...

【专利技术属性】
技术研发人员：张福旺，
申请(专利权)人：北京盛安同力科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：