一种谷物检测数据处理仪制造技术

本发明专利技术属于谷物检测设备技术领域，特指一种谷物检测数据处理仪，一种谷物检测数据处理仪，包括有仪器主体，仪器主体上设有控制面板、电子秤、以及与控制面板、电子秤电性连接的控制总成，控制面板上设有一个以上的谷物项目选项，每一谷物项目选项均包括有一个以上的检测项目选项，每一检测项目选项均包括有一个以上的称重项目，控制总成内设有与检测项目选项一一对应的处理公式，且每一处理公式均包含有对应检测项目选项中的称重项目。本发明专利技术集称重、计算为一体，借助控制面板确定所要检测的谷物项目及其检测项目，由电子秤逐一称取相应谷物样品，并通过控制总成根据对应处理公式自动换算以获得检测数据，有效提高检测人员的工作效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种谷物检测数据处理仪

：
[0001]本专利技术属于谷物检测设备
，特指一种谷物检测数据处理仪。

技术介绍
：
[0002]谷物品质优劣的衡量，需要对谷物进行各项专业的检测分析，以获得能够反应谷物品质的评价指标，这些评价指标有杂质率、不完善粒率、霉变粒率、碎米率、互混率等等。而这些评价指标类型较多，每一评价指标都需要由检测人员一一进行人工称重、记录并换算，且每一评价指标所对应的公式换算也都不同，故检测人员在数据处理过程中都较为费劲、容易出错并效率较低。

技术实现思路
：
[0003]本专利技术的目的是提供一种谷物检测数据处理仪，其根据所选检测项目由电子秤逐一称取对应谷物样品，通过控制总成自动换算获得检测数据，有效提高检测人员的工作效率。
[0004]本专利技术是这样实现的：
[0005]一种谷物检测数据处理仪，包括有仪器主体，所述仪器主体上设有控制面板、用于称量谷物样品的电子秤、以及与控制面板、电子秤电性连接的控制总成，控制面板上设有一个以上的谷物项目选项，每一谷物项目选项均包括有一个以上的检测项目选项，每一检测项目选项均包括有一个以上的称重项目，控制总成内设有与检测项目选项一一对应的处理公式，且每一处理公式均包含有对应检测项目选项中的称重项目，
[0006]检测处理步骤依次为：
[0007]步骤A、在控制面板上选取所需检测的谷物项目选项及其检测项目选项；
[0008]步骤B、根据步骤A中选取的检测项目选项的称重项目，由电子秤逐一称取与该称重项目所对应的谷物样品、以获得相应称重数据并传输至控制总成中；
[0009]步骤C、由控制总成根据与步骤A中选取的检测项目选项对应的处理公式对所接收的称重数据进行处理，以获得检测数据。
[0010]在上述的一种谷物检测数据处理仪中，其中一所述谷物项目选项为稻谷，稻谷的检测项目选项包括有杂质、谷外糙米率、出糙率、整精米率、碎米率、黄粒米率以及互混率，
[0011]杂质的称重项目包括有大样质量、大样杂质、小样质量以及小样杂质，与杂质对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；小样杂质率＝(小样杂质/小样质量)*(100
‑
大样杂质率)；杂质总量＝大样杂质率+小样杂质率；步骤C中控制总成获得的检测数据为大样杂质率、小样杂质率与杂质总量；
[0012]谷外糙米率的称重项目包括有试样质量、糙米质量、大样质量以及大样杂质，与谷外糙米率对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；谷外糙米率＝糙米质量/试样质量*(100
‑
大样杂质率)；步骤C中控制总成获得的检测数据为谷外糙米率；
[0013]出糙率的称重项目包括有试样质量、全部糙米以及不完善粒质量，与出糙率率对
应的处理公式为：出糙率＝(全部糙米
‑
0.5*不完善粒质量)/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为出糙率；
[0014]整精米率的称重项目包括有试样质量与整精米质量，与整精米率对应的处理公式为：整精米率＝整精米质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为整精米率；
[0015]碎米率的称重项目包括有试样质量、碎米质量以及小碎米质量，与碎米率对应的处理公式为：碎米率＝碎米质量/试样质量；小碎米率＝小碎米质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为碎米率与小碎米率；
[0016]黄粒米率的称重项目包括有试样质量与黄粒米质量，与黄粒米率对应的处理公式为：黄粒米率＝黄粒米质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为黄粒米率；
[0017]互混率的称重项目包括有试样质量与异种粮质量，与互混率对应的处理公式为：互混率＝异种粮质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为互混率。
[0018]在上述的一种谷物检测数据处理仪中，其中一所述谷物项目选项为小麦，小麦的检测项目选项包括有杂质、不完善粒率、矿物质含量、赤霉病粒以及面筋吸水率，
[0019]杂质的称重项目包括有大样质量、大样杂质、小样质量以及小样杂质，与杂质对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；小样杂质率＝(小样杂质/小样质量)*(100
‑
大样杂质率)；杂质总量＝大样杂质率+小样杂质率；步骤C中控制总成获得的检测数据为大样杂质率、小样杂质率与杂质总量；
[0020]不完善粒率的称重项目包括有小样质量、不完善粒质量、大样质量以及大样杂质，与不完善粒率对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；不完善粒率＝不完善粒质量/小样质量*(100
‑
大样杂质率)；步骤C中控制总成获得的检测数据为不完善粒率；
[0021]矿物质含量的称重项目包括有矿物质量、小样质量、大样质量以及大样杂质，与矿物质含量对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；矿物质含量＝(100
‑
大样杂质率)*(矿物质量/小样质量)；步骤C中控制总成获得的检测数据为矿物质含量；
[0022]赤霉病粒的称重项目包括有试样质量、赤霉病粒质量、大样质量以及大样杂质，与赤霉病粒对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；赤霉病粒＝(赤霉病粒质量/试样质量)*(100
‑
大样杂质率)；步骤C中控制总成获得的检测数据为赤霉病粒；
[0023]面筋吸水率的称重项目包括有湿面筋质量与干面筋质量，与面筋吸水率对应的处理公式为：面筋吸水率＝((湿面筋质量
‑
干面筋质量)/干面筋质量)*100；步骤C中控制总成获得的检测数据为面筋吸水率。
[0024]在上述的一种谷物检测数据处理仪中，其中一所述谷物项目选项为玉米，玉米的检测项目选项包括有杂质、不完善粒率、热损伤粒以及霉变粒，
[0025]杂质的称重项目包括有大样质量、大样杂质、小样质量以及小样杂质，与杂质对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；小样杂质率＝(小样杂质/小样质量)*(100
‑
大样杂质率)；杂质总量＝大样杂质率+小样杂质率；步骤C中控制总成获得的检测数据为大样杂质率、小样杂质率与杂质总量；
[0026]不完善粒率的称重项目包括有小样质量、不完善粒质量、大样质量以及大样杂质，与不完善粒率对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；不完善粒率＝
不完善粒质量/小样质量*(100
‑
大样杂质率)；步骤C中控制总成获得的检测数据为不完善粒率；
[0027]热损伤粒的称重项目包括有热损伤粒质量、小样质量、大样质量以及大样杂质，与热损伤粒对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；热损伤率＝(100
‑
大样杂质率)*(热损伤粒质量/小样质量)；步骤C中控制总成获得的检测数据为热损伤率；
[0028]霉变粒的称重项目包括有霉变粒质量、小样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种谷物检测数据处理仪，其特征在于：包括有仪器主体(1)，所述仪器主体(1)上设有控制面板(2)、用于称量谷物样品的电子秤(3)、以及与控制面板(2)、电子秤(3)电性连接的控制总成，控制面板(2)上设有一个以上的谷物项目选项，每一谷物项目选项均包括有一个以上的检测项目选项，每一检测项目选项均包括有一个以上的称重项目，控制总成内设有与检测项目选项一一对应的处理公式，且每一处理公式均包含有对应检测项目选项中的称重项目，检测处理步骤依次为：步骤A、在控制面板(2)上选取所需检测的谷物项目选项及其检测项目选项；步骤B、根据步骤A中选取的检测项目选项的称重项目，由电子秤(3)逐一称取与该称重项目所对应的谷物样品、以获得相应称重数据并传输至控制总成中；步骤C、由控制总成根据与步骤A中选取的检测项目选项对应的处理公式对所接收的称重数据进行处理，以获得检测数据。2.根据权利要求1所述的一种谷物检测数据处理仪，其特征在于：其中一所述谷物项目选项为稻谷，稻谷的检测项目选项包括有杂质、谷外糙米率、出糙率、整精米率、碎米率、黄粒米率以及互混率，杂质的称重项目包括有大样质量、大样杂质、小样质量以及小样杂质，与杂质对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；小样杂质率＝(小样杂质/小样质量)*(100
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大样杂质率)；杂质总量＝大样杂质率+小样杂质率；步骤C中控制总成获得的检测数据为大样杂质率、小样杂质率与杂质总量；谷外糙米率的称重项目包括有试样质量、糙米质量、大样质量以及大样杂质，与谷外糙米率对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；谷外糙米率＝糙米质量/试样质量*(100
‑
大样杂质率)；步骤C中控制总成获得的检测数据为谷外糙米率；出糙率的称重项目包括有试样质量、全部糙米以及不完善粒质量，与出糙率率对应的处理公式为：出糙率＝(全部糙米
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0.5*不完善粒质量)/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为出糙率；整精米率的称重项目包括有试样质量与整精米质量，与整精米率对应的处理公式为：整精米率＝整精米质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为整精米率；碎米率的称重项目包括有试样质量、碎米质量以及小碎米质量，与碎米率对应的处理公式为：碎米率＝碎米质量/试样质量；小碎米率＝小碎米质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为碎米率与小碎米率；黄粒米率的称重项目包括有试样质量与黄粒米质量，与黄粒米率对应的处理公式为：黄粒米率＝黄粒米质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为黄粒米率；互混率的称重项目包括有试样质量与异种粮质量，与互混率对应的处理公式为：互混率＝异种粮质量/试样质量；步骤C中控制总成获得的检测数据为互混率。3.根据权利要求1所述的一种谷物检测数据处理仪，其特征在于：其中一所述谷物项目选项为小麦，小麦的检测项目选项包括有杂质、不完善粒率、矿物质含量、赤霉病粒以及面筋吸水率，杂质的称重项目包括有大样质量、大样杂质、小样质量以及小样杂质，与杂质对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；小样杂质率＝(小样杂质/小样质量)*
(100
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大样杂质率)；杂质总量＝大样杂质率+小样杂质率；步骤C中控制总成获得的检测数据为大样杂质率、小样杂质率与杂质总量；不完善粒率的称重项目包括有小样质量、不完善粒质量、大样质量以及大样杂质，与不完善粒率对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；不完善粒率＝不完善粒质量/小样质量*(100
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大样杂质率)；步骤C中控制总成获得的检测数据为不完善粒率；矿物质含量的称重项目包括有矿物质量、小样质量、大样质量以及大样杂质，与矿物质含量对应的处理公式为：大样杂质率＝(大样杂质/大样质量)*100；矿物质含量＝(100

【专利技术属性】
技术研发人员：袁建，袁逸松，林新光，
申请(专利权)人：新检浙江自动化科技有限公司，
类型：发明
国别省市：