无线终端的发射天线切换性能测试方法及装置制造方法及图纸

技术编号:38465035 阅读:13 留言:0更新日期:2023-08-11 14:41
本发明专利技术提出了一种无线终端的发射天线切换性能测试方法及装置,涉及通信设备性能测试技术领域,该方法包括:关闭发射天线切换功能;分别测量主天线的EIRP方向图及分集天线的EIRP方向图根据预设的交换概率,随机交换测得的主天线EIRP方向图与分集天线EIRP方向图中的EIRP值,得到组合EIRP方向图进一步计算组合EIRP方向图的TRP值TRP

【技术实现步骤摘要】
无线终端的发射天线切换性能测试方法及装置


[0001]本专利技术涉及通信设备性能测试
,尤指一种无线终端的发射天线切换性能测试方法及装置。

技术介绍

[0002]本部分旨在为权利要求书中陈述的本专利技术实施例提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是现有技术。
[0003]发射天线切换,或者智能天线切换的功能被称为TAS(Transmit Antenna Selection)或者ASDiV(Antenna Switch to Diversity),是指发射天线可以在主天线与分集天线之间实现自动切换。在使用过程中,智能手机因为握持、放置的原因,天线性能很容易受到影响。当一根天线由于手握或者遮挡的影响出现性能下降时,手机信号就可以自动切换到另外一根天线进行发射。该功能有效地解决了手握、遮挡天线所带来的信号阻塞困扰,能够实现更快的数据连接及传输速度,从而为用户提供更为可靠的移动连接体验。随着无线通信技术的飞速发展及通信能力的快速提升,发射天线切换技术已经成为智能手机、笔记本电脑等无线通信终端的必须技术。
[0004]为了保证无线通信终端发射天线切换性能的可靠性及可用性,必须有一套严格的测试流程。目前,行业内对于多天线无线通信终端发射性能的测试,主要基于主天线及分集天线发射性能的分别测试:在关闭发射天线切换功能的前提下,分别锁定主天线及分集天线作为唯一发射天线,并针对该锁定的发射天线,完成TRP性能的测试。也即,当前业内尚无能够准确评估无线通信终端发射天线切换性能的有效方案。主要原因在于:
[0005]1、发射天线切换算法是各终端设备厂商的私有算法。不同厂商触发发射天线切换的条件及机制各不相同,包括:基站控制、用户控制及接收信号电平等来自外部控制源的特定的输入触发,以及自身传感器(根据与人体及其它物体的接近程度)输出的内部触发。在目前现有的OTA测试系统中,很难模拟不同的发射天线切换触发条件;
[0006]2、开启发射天线切换功能并按照现有无线终端发射性能测试方法进行测试,在某一空间测试点位,如果触发发射天线切换,可能导致该点处测得的两个极化分量来自于不同的发射天线,从而导致错误的测量结果;
[0007]3、发射天线切换性能测试结果与暗室布局息息相关,包括转台及夹具,以及通信天线与待测终端的相对位置。因此,相同的待测设备在不同暗室中测试,可能会呈现截然不同的发射天线切换性能测试结果;
[0008]4、发射天线切换条件的触发具有一定的随机性,因此,即便同一台待测终端在相同的测试系统中进行重复测试,测试结果也会因为该随机性而存在差异。
[0009]综上来看,亟需一种可以克服上述缺陷,能够实现准确高效的无线终端发射天线切换性能测试的技术方案。

技术实现思路

[0010]为解决现有技术存在的问题,本专利技术提出了一种无线终端的发射天线切换性能测试方法及装置。
[0011]在本专利技术实施例的第一方面,提出了一种无线终端的发射天线切换性能测试方法,所述方法包括:
[0012]关闭发射天线切换功能;
[0013]分别测量主天线的EIRP方向图及分集天线的EIRP方向图
[0014]根据预设的交换概率,随机交换测得的主天线EIRP方向图与分集天线EIRP方向图中的EIRP值,得到组合EIRP方向图进一步计算组合EIRP方向图的TRP值TRP
comb

[0015]重复上一步骤的过程,得到一定数量的TRP
comb
样本,计算TRP
comb
样本的统计分布参数值;
[0016]根据预设的判别指标,判断所述TRP
comb
样本的统计分布参数值是否符合判别指标,得到发射天线切换性能测试结果。
[0017]在本专利技术实施例的第二方面,提出了一种无线终端的发射天线切换性能测试装置,所述装置包括:
[0018]天线控制模块,用于关闭发射天线切换功能;
[0019]测量模块,用于分别测量主天线的EIRP方向图及分集天线的EIRP方向图
[0020]计算模块,用于根据预设的交换概率,随机交换测得的主天线的EIRP方向图与分集天线的EIRP方向图中的EIRP值,得到组合EIRP方向图进一步计算组合EIRP方向图的TRP值TRP
comb

[0021]重复上述随机交换及计算组合EIRP方向图的TRP值TRP
comb
的过程,得到一定数量的TRP
comb
样本,计算TRP
comb
样本的统计分布参数值;
[0022]判断模块,用于根据预设的判别指标,判断所述TRP
comb
样本的统计分布参数值是否符合判别指标,得到发射天线切换性能测试结果。
[0023]在本专利技术实施例的第三方面,提出了一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现无线终端的发射天线切换性能测试方法。
[0024]在本专利技术实施例的第四方面,提出了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现无线终端的发射天线切换性能测试方法。
[0025]在本专利技术实施例的第五方面,提出了一种计算机程序产品,所述计算机程序产品包括计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现无线终端的发射天线切换性能测试方法。
[0026]本专利技术提出的无线终端的发射天线切换性能测试方法及装置能够排除测试系统
对于发射天线切换性能的影响,实现发射天线切换性能的准确测试;整体方案能够实现在保证测试精度的基础上大幅降低了测试时间,并提高了测试效率。
附图说明
[0027]为了更清楚地说明本申请实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0028]图1是本专利技术一实施例的无线终端的发射天线切换性能测试方法流程示意图。
[0029]图2是本专利技术一具体实施例的方法流程示意图。
[0030]图3是本专利技术一具体实施例的不同P
n
下TRP
comb
样本的最大值曲线示意图。
[0031]图4是本专利技术一实施例的无线终端的发射天线切换性能测试装置架构示意图。
[0032]图5是本专利技术一实施例的计算机设备结构示意图。
具体实施方式
[0033]下面将参考若干示例性实施方式来描述本专利技术的原理和精神。应当理解,给出这些实施方式仅仅是为了使本领域技术人员能够更好地理解进而实现本专利技术,而并非以任何方式限制本专利技术的范围。相反,提供这些实施方式是为了使本公开更加透彻和完整,并且能够将本公开的范围完整地传达给本领域的技术人员。
[0034]本本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无线终端的发射天线切换性能测试方法,其特征在于,所述方法包括:关闭发射天线切换功能;分别测量主天线的EIRP方向图及分集天线的EIRP方向图根据预设的交换概率,随机交换测得的主天线EIRP方向图与分集天线EIRP方向图中的EIRP值,得到组合EIRP方向图进一步计算组合EIRP方向图的TRP值TRP
comb
;重复上一步骤的过程,得到一定数量的TRP
comb
样本,计算TRP
comb
样本的统计分布参数值;根据预设的判别指标,判断所述TRP
comb
样本的统计分布参数值是否符合判别指标,得到待测无线终端发射天线切换性能测试结果。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设的交换概率为[0,1]区间等步长分布值;该方法还包括:对于每一交换概率P
n
,分别计算该交换概率P
n
对应的TRP
comb
样本的统计分布参数值。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据预设的交换概率,随机交换测得的主天线EIRP方向图与分集天线EIRP方向图中的EIRP值,得到组合EIRP方向图进一步计算组合EIRP方向图的TRP值TRP
comb
,包括:根据预设的交换概率P
n
,随机选择中占比为P
n
的EIRP值,替代中对应位置处的EIRP值,生成组合EIRP方向图并进一步计算该组合EIRP方向图的TRP值TRP
comb
;替代EIRP值的表达式为:其中,为组合EIRP方向图;为主天线EIRP方向图;为分集天线EIRP方向图;P
n
为交换概率。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据预设的判别指标,判断所述TRP
comb
样本的统计分布参数值是否符合判别指标,得到发射天线切换性能测试结果,包括:所述设定的判别指标为:选取一个或多个交换概率;若该交换概率对应的TRP
comb
样本的统计分布参数值大于等于设定的TRP限值,判定发射天线切换性能合格;否则,判定为不合格。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,根据预设的判别指标,判断所述TRP
comb
样本的统计分布参数值是否符合判别指标,得到发射天线切换性能测试结果,包括:所述设定的判别指标为:<...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙思扬王培华
申请(专利权)人:中国信息通信研究院
类型:发明
国别省市:

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