本实用新型专利技术公开了恒压源性能测试装置及系统，其装置包括：用于与待测恒压源的输出端并联连接的第一接口单元、用于调节所述待测恒压源的输出电流的电子负载仪，与所述第一接口单元的输出端连接、用于与所述待测恒压源的输出端并联连接的第二接口单元和用于采集所述待测恒压源的输出电压的第一电压采集单元；本实用新型专利技术通过建立两路测试通道分别对待测恒压源的输出电流和输出电压进行采集，使得输出电流和输出电压的检测互不干扰，以避免输出电压的检测受到待测恒压源与电子负载仪之间的线路压降影响，进而提高待测恒压源的性能评估准确性。准确性。准确性。
【技术实现步骤摘要】
恒压源性能测试装置及系统
[0001]本技术涉及恒压电源
，尤其涉及一种恒压源性能测试装置及系统。
技术介绍
[0002]对于恒压电源(下文简称恒压源)，恒压源的输出电压是产品的重要电性参数，输出电压的稳定性是判断恒压电源产品的重要标准，因此测试输出电压参数是恒压电源产品的必需测试项目。
[0003]恒压源在测试输出电压，一般包括空载测试、轻载测试、重载测试和满载测试，测试方法是电源的输出端连接电子负载仪，使电子负载仪工作在恒流模式下，通过设置恒压源输出不同电流下，并测量恒压源的输出电压，以此实现空载测试、轻载测试、重载测试和满载测试。
[0004]但在重载测试或满载测试中，因为恒压源连接电子负载仪的线路必然存在内阻，当连接的线路越长或输出电流越大，那么在恒压源和电子负载仪之间的线路压降就越大，导致电子负载仪测到的电压就会比恒压源实际的输出电源电压偏小。而且该线路内阻还会随其温度的增加而变化，最终导致恒压源的性能测试的准确性降低。
技术实现思路
[0005]本技术要解决的技术问题在于，提供一种恒压源性能测试装置及系统。
[0006]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种恒压源性能测试装置，包括：
[0007]第一接口单元，其输入端用于与待测恒压源的输出端并联连接；
[0008]电子负载仪，与所述第一接口单元的输出端连接，用于调节所述待测恒压源的输出电流；
[0009]第二接口单元，其输入端用于与所述待测恒压源的输出端并联连接；
[0010]第一电压采集单元，与所述第二接口单元的输出端连接，用于采集所述待测恒压源的输出电压。
[0011]在其中一个实施例中，所述第一接口单元包括第一探针和第二探针；
[0012]所述第一探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出正端，所述第一探针的尾部连接所述电子负载仪的输入正端；
[0013]所述第二探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出负端，所述第二探针的尾部连接所述电子负载仪的输入负端；
[0014]所述第二接口单元包括第三探针和第四探针；
[0015]所述第三探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出正端，所述第三探针的尾部连接所述第一电压采集单元的输入正端；
[0016]所述第四探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出负端，所述第四探针的尾部连接所述第一电压采集单元的输入负端。
[0017]在其中一个实施例中，所述第一探针与所述第二探针的尺寸相同，所述第三探针和所述第四探针的尺寸相同，且所述第一探针的尺寸比所述第三探针大。
[0018]在其中一个实施例中，所述第一探针、所述第二探针、所述第三探针和所述第四探针为弹性探针。
[0019]在其中一个实施例中，所述恒压源性能测试装置还包括探针固定件；所述第一探针、所述第二探针、所述第三探针和所述第四探针分别贯穿并固定在所述探针固定件上，且所述第一探针、所述第二探针、所述第三探针和所述第四探针的触头部位于所述探针固定件的第一侧面。
[0020]在其中一个实施例中，所述恒压源性能测试装置还包括用于固定所述待测恒压源的电路板固定件；所述电路板固定件与所述第一侧面相对设置。
[0021]在其中一个实施例中，所述恒压源性能测试装置还包括两个用于连接所述第一接口单元的输入端的第一测试点和两个用于连接所述第二接口单元的输入端的第二测试点；
[0022]各所述第一测试点和各所述第二测试点设于所述待测恒压源的电路板上；
[0023]一所述第一测试点和一所述第二测试点连接所述待测恒压源的输出正端，另一所述第一测试点和另一所述第二测试点连接所述待测恒压源的输出负端。
[0024]在其中一个实施例中，各所述第一测试点和各所述第二测试点为焊盘，且所述第一测试点的焊盘面积比所述第二测试点的焊盘面积大。
[0025]在其中一个实施例中，所述第一电压采集单元为电压表或万用表。
[0026]本技术还构造了一种恒压源性能测试系统，包括恒压源，以及本技术实施例提供的所述恒压源性能测试装置。
[0027]实施本技术的技术方案，通过电子负载仪调节并采集待测恒压源的输出电流，通过第一电压采集单元采集待测恒压源的输出电压，建立了两路测试通道分别对待测恒压源的输出电流和输出电压进行采集，使得输出电流和输出电压的检测互不干扰，以避免输出电压的检测受到待测恒压源与电子负载仪之间的线路压降影响，进而提高待测恒压源的性能评估准确性。
附图说明
[0028]下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中：
[0029]图1是本技术一些实施例中恒压源性能测试装置的结构示意图。
具体实施方式
[0030]为了对本技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本技术的具体实施方式。
[0031]以下描述中，需要理解的是，“前”、“后”、“上”、“下”、“左”、“右”、“纵”、“横”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“头”、“尾”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系、以特定的方位构造和操作，仅是为了便于描述本技术方案，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位，因此不能理解为对本技术的限制。
[0032]参见图1所示，是技术提供的恒压源性能测试装置，用于测试恒压源的性能，该恒压源性能测试装置包括第一接口单元1、电子负载仪2、第二接口单元3和第一电压采集
单元4。
[0033]其中，第一接口单元1的输入端用于与待测恒压源的输出端并联连接；电子负载仪2与第一接口单元1的输出端连接，电子负载仪2用于调节待测恒压源的输出电流；第二接口单元3的输入端用于与待测恒压源的输出端并联连接；第一电压采集单元4与第二接口单元3的输出端连接，第一电压采集单元4用于采集待测恒压源的输出电压。
[0034]在该实施例中，通过电子负载仪调节并采集待测恒压源的输出电流，通过第一电压采集单元4采集待测恒压源的输出电压，即建立了两路测试通道分别对待测恒压源的输出电流和输出电压进行采集，使得输出电流和输出电压的检测互不干扰，以避免输出电压的检测受到待测恒压源与电子负载仪之间的线路压降影响，进而提高待测恒压源的性能评估准确性。另外，待测恒压源的性能是基于待测恒压源的输出电流和输出电压进行评估的；而电子负载仪可以为现有技术中常用的仪器或电路。
[0035]在一个实施例中，如图1所示，第一接口单元1包括第一探针11和第二探针12。第一探针11的触头部用于连接待测恒压源的输出正端，第一探针11的尾部连接电子负载仪2的输入正端；第二探针12的触头部用于连接待测恒压源的输出负端，第二探针12的尾部连接电子负载仪2的输入负端。其中，第一接口单元1的输入端包括第一探针11的触头部和第二探针12的触头部。
[0036]在该实施例中，第一探针11和第二探针12可以由本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种恒压源性能测试装置，其特征在于，包括：第一接口单元，其输入端用于与待测恒压源的输出端并联连接；电子负载仪，与所述第一接口单元的输出端连接，用于调节所述待测恒压源的输出电流；第二接口单元，其输入端用于与所述待测恒压源的输出端并联连接；第一电压采集单元，与所述第二接口单元的输出端连接，用于采集所述待测恒压源的输出电压。2.根据权利要求1所述的恒压源性能测试装置，其特征在于，所述第一接口单元包括第一探针和第二探针；所述第一探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出正端，所述第一探针的尾部连接所述电子负载仪的输入正端；所述第二探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出负端，所述第二探针的尾部连接所述电子负载仪的输入负端；所述第二接口单元包括第三探针和第四探针；所述第三探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出正端，所述第三探针的尾部连接所述第一电压采集单元的输入正端；所述第四探针的触头部用于连接所述待测恒压源的输出负端，所述第四探针的尾部连接所述第一电压采集单元的输入负端。3.根据权利要求2所述的恒压源性能测试装置，其特征在于，所述第一探针与所述第二探针的尺寸相同，所述第三探针和所述第四探针的尺寸相同，且所述第一探针的尺寸比所述第三探针大。4.根据权利要求2所述的恒压源性能测试装置，其特征在于，所述第一探针、所述第二探针、所述第三探针和所述第四探...
【专利技术属性】
技术研发人员：梁伟波，
申请(专利权)人：深圳市欧瑞博科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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