基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法技术

本发明专利技术涉及继电器技术领域，公开了一种基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，用于提高对继电器的动作时间进行分析时的准确率。该方法包括：对目标继电器以及高速图像采集装置进行同步触发处理；通过高速图像采集装置对目标继电器进行动作图像采集，获得动作图像集合；对动作图像集合进行滤波处理，得到滤波图像集合；对每一滤波图像进行动触点分析，确定滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据；对每一滤波图像进行静触点分析，确定每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度；通过每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据以及每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据对目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合。确定目标动作时间集合。确定目标动作时间集合。

【技术实现步骤摘要】
基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法


[0001]本专利技术涉及继电器
，尤其涉及一种基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法。

技术介绍

[0002]继电器是一种电气开关，它可以通过电磁力作用来控制电路的开关状态。继电器的专利技术和应用，极大地推动了电气自动化技术的发展。在过去的几十年中，随着工业自动化和信息技术的迅速发展，继电器技术也得到了广泛的应用和发展。继电器的吸合和释放时间是指继电器在接收到控制信号后，从接通状态到完全吸合所需要的时间，以及从控制信号消失到继电器完全释放所需要的时间。这个时间对于继电器的应用非常重要。对于一些需要高速响应的应用，例如自动化生产线、机器人等，继电器的吸合和释放时间需要非常短。如果继电器的吸合和释放时间过长，就会导致控制信号的延迟，从而影响设备的响应速度和工作效率。
[0003]现有的继电器吸合释放时间的测量方法主要是通过人工观测或电流计算，人工观测的方法精度很低，而且效率和成本很高，尤其是对于精密控制场合，依靠人工根本无法观测；电流计算的方法是目前较为常用的方法，精确度相对较高，但是需要连接专用的测量电路，对继电器电路和工作影响较大。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，解决了对继电器的动作时间分析时的准确率较低的技术问题。
[0005]本专利技术提供了一种基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，包括：通过同步时序控制器对目标继电器以及高速图像采集装置进行同步触发处理；通过所述高速图像采集装置对所述目标继电器进行动作图像采集，获得动作图像集合；对所述动作图像集合进行滤波处理，得到滤波图像集合；对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行动触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据；对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行静触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度；通过所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据以及所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据对所述目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合。
[0006]在本专利技术中，所述对所述动作图像集合进行滤波处理，得到滤波图像集合步骤，包括：对所述动作图像集合进行图像特征分析，确定目标图像特征；通过所述目标图像特征进行卷积核参数分析，确定目标卷积核参数；基于所述目标卷积核参数，对所述动作图像集合中每一动作图像进行卷积操作，得到像素值集合；通过所述像素值集合对所述动作图像集合进行归一化处理，得到滤波图像集合。
[0007]在本专利技术中，所述对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行动触点分析，确定所
述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据步骤，包括：对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行圆形检测，确定每一滤波图像中的目标圆形区域；通过每一滤波图像中的目标圆形区域对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行动触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据。
[0008]在本专利技术中，所述对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行静触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度步骤，包括：对所述滤波图像集合进行时序分类，初始帧图像以及非初始帧图像集合；通过目标检测算法对所述初始帧图像进行静触点区域分析，确定目标静触点区域；通过所述目标静触点区域对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行静触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度。
[0009]在本专利技术中，所述通过所述目标静触点区域对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行静触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度步骤，包括：通过目标检测算法对所述目标静触点区域进行特征点提取，确定目标特征点；通过所述目标特征点对所述初始帧图像进行静触点分析，确定所述初始帧图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度；通过所述目标特征点对所述非初始帧图像集合中每一非初始帧图像进行静触点分析，确定每一非初始帧图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度；基于所述初始帧图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度以及每一非初始帧图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度，生成所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度。
[0010]在本专利技术中，所述通过所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据以及所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据对所述目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合步骤，包括：对所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据进行圆形区域分析，确定待分析圆形区域集合；对所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据进行举行区域分析，确定待分析矩形区域集合；通过所述待分析圆形区域集合以及所述待分析矩形区域集合对所述目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合。
[0011]在本专利技术中，所述通过所述待分析圆形区域集合以及所述待分析矩形区域集合对所述目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合步骤，包括：对所述待分析圆形区域集合以及所述待分析矩形区域集合进行配对处理，确定多组待分析区域图像；通过所述多组待分析区域图像对所述目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合。
[0012]本专利技术中，对目标继电器以及高速图像采集装置进行同步触发处理；通过高速图像采集装置对目标继电器进行动作图像采集，获得动作图像集合；对动作图像集合进行滤波处理，得到滤波图像集合；对每一滤波图像进行动触点分析，确定滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据；对每一滤波图像进行静触点分析，确定每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度；通过每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据以及每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据对目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合，本专利技术中，能够以10000帧/s的速度采集目标继电器动作过程中动静触点的图像，测量的吸合、释放时间的精度能够达到0.1ms；本专利技术通过旋转目标跟踪算法对目标继电器的吸合、释放时间进行测量，能够对目标继电器动作过程中的静触点进行跟踪，并且得
到其角度变化，进而可以准确判断目标继电器动静触点的位置状态和接触时刻，测量的准确度大大高于目前其他的测量方法，通过同步时序控制实现对于目标继电器和相机的同步触发，可以将二者同步在同一时间轴上，既减少了图片的数量，提高处理速度，又可以将图像和通断电时间结合起来进行分析，使结果更加准确。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0014]图1为本专利技术实施例中基于旋转目标跟踪的继电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，其特征在于，方法包括：通过同步时序控制器对目标继电器以及高速图像采集装置进行同步触发处理；通过所述高速图像采集装置对所述目标继电器进行动作图像采集，获得动作图像集合；对所述动作图像集合进行滤波处理，得到滤波图像集合；对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行动触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据；对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行静触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度；通过所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据以及所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据对所述目标继电器进行动作时间分析，确定目标动作时间集合。2.根据权利要求1所述的基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，其特征在于，所述对所述动作图像集合进行滤波处理，得到滤波图像集合步骤，包括：对所述动作图像集合进行图像特征分析，确定目标图像特征；通过所述目标图像特征进行卷积核参数分析，确定目标卷积核参数；基于所述目标卷积核参数，对所述动作图像集合中每一动作图像进行卷积操作，得到像素值集合；通过所述像素值集合对所述动作图像集合进行归一化处理，得到滤波图像集合。3.根据权利要求1所述的基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，其特征在于，所述对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行动触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据步骤，包括：对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行圆形检测，确定每一滤波图像中的目标圆形区域；通过每一滤波图像中的目标圆形区域对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行动触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的动触点中心坐标数据。4.根据权利要求1所述的基于旋转目标跟踪的继电器动作时间测量方法，其特征在于，所述对所述滤波图像集合中每一滤波图像进行静触点分析，确定所述滤波图像集合中每一滤波图像对应的静触点中心坐标数据及倾斜角度步骤，包括：对所述滤波图像集合进行时序分类，初始帧图像以及非初始帧图像集合；通过目标检测算法对所述初始帧图像进行静触点区域分析，确定目标...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵文泽，李文华，杨兴林，徐诚，王伟铭，阎嘉兴，
申请(专利权)人：河北工业大学，
类型：发明
国别省市：