一种颅形测量尺制造技术

本实用新型专利技术公开了一种颅形测量尺，包括测量主尺、第一测量杆、第二测量杆；所述第一测量杆与所述第二测量尺相互平行、且均与所述测量主尺垂直相接；所述第一测量杆一端与所述测量主尺的一端固定相接；所述第二测量杆一端与所述测量主尺尺身活动相接；所述第一测量杆内侧设有第一凹面，所述第二测量杆内侧设有第二凹面，所述第一凹面与所述第二凹面开口方向相对设置。本实用新型专利技术所述测量尺操作简单，仅需要调节第二测量杆，软垫保护不会伤害到婴儿，测量主尺上的角度刻度线方便测量时调整测量角度。所述量测尺测量安全、快捷，有助于尽早判断婴儿头颅形状问题，帮助婴儿及时矫正，减少未来的治疗成本。来的治疗成本。来的治疗成本。

【技术实现步骤摘要】
一种颅形测量尺


[0001]本技术属于医疗
，具体为一种颅形测量尺。

技术介绍

[0002]由于我国经济的高速发展和国民生活水平和质量提高，家长对孩子颅形美观的要求越来越高。北京市卫生局与北京市妇幼保健院联合下发的《北京市婴幼儿体检项目一览表》已将“头型*(试点)舟状头及短头：长宽比，斜头：对角线差”作为列项。目前针对异常婴儿颅形的筛查和判断已经成为儿童健康查体必要的一项检查项目。
[0003]颅形异常为婴儿头部形状不对称，颅顶、头颅高度与前后左右宽度不对称，比例异常或伴有不正常样貌。任何颅骨生长的限制都会导致其他部位的代偿性过度生长。颅形异常的分类：斜头异常：不对称颅骨，会伴有耳朵、眼眶、脸颊和下巴的不对称。短头异常：颅骨长度不正常导致头部过宽。在严重时，中央枕骨扁平伴随着头顶尖突和前额突出。舟状头异常：头部长而窄，这种窄度与头部比例不相称。婴儿颅形发育异常的发生率在欧美国家约是6％，造成颅形异常原因主要是早产和睡姿不正确。其中早产儿颅骨钙化水平低于足月儿，由于长期住院治疗睡姿持续不变，从而加剧头部形状异常。如果正常足月儿不能经常变换睡姿，在重力作用下，也可导致颅形异常。通常婴儿头部在生后6周内会变得对称且比例适合。如果头形在生后6周出现异常，应开始矫正计划或治疗以改善头形。一旦婴儿可以自己滚动并改变自身位置，婴儿的颅形异常将不再容易通过睡姿矫正。所以做到早发现、早治疗是有效预防婴儿早期的颅形异常的关键。测定头颅不对称问题，可以通过头颅定点位置的距离，然后带入公式进行计算判断。如头颅不对称指数(cranial vault asymmetry index,CVAI)是指测量在面积最大的横截面上中线向左和右各30
°
横截面前后的垂直距离(这两个距离分别为A和B，CVAI＝(A
‑
B)/A
×
100，其中A＞B，其可以诊断斜头异常并对其严重程度进行分级。CVAI：<3.5为正常；3.5～6.25为轻度斜头异常；6.25～8.75为中度斜头异常；8.75～11.0为重度斜头异常；>11.0为极重度斜头异常。又如经颅斜径差(cranial vault asymmetry,CVA)为头颅两侧斜径的差值,按Wilbrand的标准化方案测量，所有颅型数据均测量3次取平均值，具体方法如下:使用弯脚规测量眉间点到颅后最远点的距离为最大前后径测量线必须与Frankfurt线平行，Frankfurt线即眶下缘中点至外耳孔上缘的连线。以耳上附着点以上1cm为测量点，两侧测量点之间的直线距离为最大横径。头颅斜径为额骨颞脊的中点到对侧人字缝内缘点的距离，长径为DA，短径为DB，根据测量值进行衍生值计算:记为DA
‑
DB，以cm为单位,CVA≥0.3cm为斜头异常,其中0.3cm≤CVA＜1cm为轻度斜头异常,1cm≤CVA＜1.2cm为中度斜头异常，CVA≥1.2cm为重度斜头异常。再如头颅比率(cephalic ratio,CR)，CR是指在面积最大的横截面上宽度与长度之比，它是诊断短头异常和舟状头异常的重要指标。头颅比率(CR)＝头颅左右径/头颅前后径，CR＜75％为舟状头异常，CR≥82％为短头异常，其中82％≤CR＜90％为轻度短头异常，90％≤CR＜100％为中度短头异常，CR≥82％为重度短头异常。
[0004]但是目前测量颅形或者是头颅外形观察或者在专门机构应用激光扫描数据获取
系统，通过不触碰式婴儿三维扫描仪，准确收集婴儿头颅的三维立体数据信息。但是在没有条件开展激光扫描的基层医院，没法通过较为准确地测量患儿头颅的头颅不对称指数和头颅比率从而判断患儿颅形异常的种类和程度。

技术实现思路

[0005]为了解决上述问题，本技术提供了一种便于基层医院测量婴儿头颅异性的测量尺，所述测量尺操作简单，仅需要调节第二测量杆，软垫保护不会伤害到婴儿，测量主尺上的角度刻度线方便测量时调整测量角度。所述量测尺测量方式安全、快捷，有助于尽早判断婴儿头颅形状问题，帮助婴儿及时矫正，减少未来的治疗成本。
[0006]本技术的技术方案为：
[0007]一种颅形测量尺，包括测量主尺、第一测量杆、第二测量杆；所述第一测量杆与所述第二测量尺相互平行、且均与所述测量主尺垂直相接；
[0008]所述第一测量杆一端与所述测量主尺的一端固定相接；所述第二测量杆一端与所述测量主尺尺身活动相接；
[0009]所述第一测量杆内侧设有第一凹面，所述第二测量杆内侧设有第二凹面，所述第一凹面与所述第二凹面开口方向相对设置。
[0010]所述第二测量杆一端设有接头，所述接头上设有穿孔，所述穿孔内穿插有所述测量主尺尺身。
[0011]所述测量主尺尺身呈杆状，且沿杆状尺身方向设有线段刻度线。
[0012]所述第一凹面和第二凹面上分别设有软垫。
[0013]两所述软垫呈弧面状、且分别覆盖所述第一凹面和第二凹面。
[0014]所述线段刻度线起始线的延长线与所述第一凹面相切。
[0015]所述测量主尺上与所述第一测量杆相接的一端设有角度刻度线。
[0016]所述角度刻度线的0
°
线与所述第一测量杆2呈45
°
夹角，0
°
线两侧分别以15
°
为一格；所述角度刻度线夹角开口指向所述线段刻度线。
[0017]所述第一测量杆和所述第二测量杆的另一端均为圆弧状。
[0018]本技术的技术效果为：
[0019]本技术所述测量尺操作简单，定位稳定，仅需要调节第二测量杆，通过第一测量杆和第二测量杆上的软垫定位头颅位置，两个软垫之间的尺寸通过测量主尺上数据得到，测量时有软垫保护不会伤害到婴儿，测量主尺上的角度刻度线方便测量时调整测量角度。
[0020]所述测量尺通过测量婴儿头颅定点位置距离，得到不对称指数、经颅斜径差和头颅比率，客观性的评评估婴儿颅形异常。为基层医院儿童保健科开展更多的婴儿颅形评估及后期发育的指导。同时采集到的婴儿颅骨数据，可以为进一步的科研提供精确数据，造福更多的患儿。所述量测尺测量方式安全、快捷，有助于尽早判断婴儿头颅形状问题，帮助婴儿及时矫正，更好、更快、更有效地恢复，保证健康的头颅的发育，减少未来的治疗成本。
附图说明
[0021]图1为本技术实施例整体结构示意图。
[0022]图2为本技术实施例局部结构示意图。
[0023]图3为本技术实施例A局部结构放大示意图。
[0024]图中：测量主尺1；线段刻度线1.1；角度刻度线1.2；第一凹面2.1；第一测量杆2；第二测量杆3；第二凹面3.1；接头3.2；穿孔3.3；软垫4。
具体实施方式
[0025]以下结合实施例对本技术做进一步说明。
[0026]如图1
‑
图3所示，一种颅形测量尺，包括测量主尺1、第一测量杆2、第二测量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种颅形测量尺，其特征在于，包括测量主尺(1)、第一测量杆(2)、第二测量杆(3)；所述第一测量杆(2)与所述第二测量杆(3)相互平行、且均与所述测量主尺(1)垂直相接；所述第一测量杆(2)一端与所述测量主尺(1)的一端固定相接；所述第二测量杆(3)一端与所述测量主尺(1)尺身活动相接；所述第一测量杆(2)内侧设有第一凹面(2.1)，所述第二测量杆(3)内侧设有第二凹面(3.1)，所述第一凹面(2.1)与所述第二凹面(3.1)开口方向相对设置。2.根据权利要求1所述的一种颅形测量尺，其特征在于，所述第二测量杆(3)一端设有接头(3.2)，所述接头(3.2)上设有穿孔(3.3)，所述穿孔(3.3)内穿插有所述测量主尺(1)尺身。3.根据权利要求1所述的一种颅形测量尺，其特征在于，所述测量主尺(1)尺身呈杆状，且沿杆状尺身方向设有线段刻度线(1.1)。4.根据权利要求1所述的一种颅形测量尺，其特征在于，所述第一凹面(2.1)和第二凹面(3.1)上分别设有软垫(4)。...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘维伟，童笑梅，
申请(专利权)人：北京大学第三医院北京大学第三临床医学院，
类型：新型
国别省市：