数据处理方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本申请适用于光学技术领域，提供了一种数据处理方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：在预设时间段内对与待测目标之间的距离进行周期性采样，得到多个采样数据；根据预设累加数量，将所述多个采样数据进行累加处理，更新所述与待测目标之间的距离。该方案通过多次采样并累加采样数据，由于噪声数据在累加过程中会出现相互抵消的情况，因此可以减少噪声数据对实际采样值的影响，提升光学传感器在测量时的信噪比，从而增加光学传感器的检测距离。从而增加光学传感器的检测距离。从而增加光学传感器的检测距离。

【技术实现步骤摘要】
数据处理方法、装置、设备及存储介质


[0001]本申请涉及光学
，尤其涉及一种数据处理方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]光学传感器是一种依据光学原理的进行测量的传感器，通常可以应用于非接触和非破坏性测量以及遥测、遥控等场景。例如，主要用于测量距离的光学测距传感器等。
[0003]一般来说，利用光学传感器测量距离时，光源与待测目标的距离越远，测量效果越差。在传统方案中，主要是通过提高光源的发光强度或对采样数据进行滤波等方法来增加光学传感器的检测效果。
[0004]但是，增强光源发光强度的方法对电路稳定性的要求更高，且增加检测距离的效果较差；而对采样数据进行滤波的方法只能稳定采样数据却无法增加检测距离。

技术实现思路

[0005]本申请实施例提供了一种数据处理方法、装置、设备及存储介质，可以解决如何提高光学传感器的检测距离的技术问题。
[0006]第一方面，本申请实施例提供了一种数据处理方法，该方法包括以下步骤。
[0007]在预设时间段内对与待测目标之间的距离进行周期性采样，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数据处理方法，其特征在于，包括：在预设时间段内对与待测目标之间的距离进行周期性采样，得到多个采样数据；根据预设累加数量，将所述多个采样数据进行累加处理，更新所述与待测目标之间的距离。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述与待测目标之间的距离和所述预设累加数量呈正相关关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述与待测目标之间的距离和所述预设累加数量满足下面的公式：，其中，Y表示与待测目标之间的距离，c为常数，N表示累加数量，d为常数，X表示当前实际检测距离。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：计算所述多个采样数据的波动值；将所述多个采样数据的波动值进行累加处理，得到累计波动值；根据所述多个采样数据的累加结果和所述累计波动值计算信噪比。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述信噪比与所述预设累加数量呈正相关关系。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述信噪比与所述与待测目标之间的距离呈正相关关系。7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述更新所述与待测...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑周坪，黄真宇，徐朝圣，
申请(专利权)人：深圳深浦电气有限公司，
类型：发明
国别省市：