一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法技术

本发明专利技术公开了一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法，其特征在于：对图像传感器进行像素分区，分为左侧像素点区域、右侧像素点区域、下侧像素点区域，中间像素点区域，基于对比度对比度坏点算法标记像素坏点信息，其中左侧像素点区域采用向右、向下、向右下的遍历方法，右侧像素点区域采用向下、向左下的遍历判断方法，下侧像素点区域采用向右判断，中间像素点区域采用向右、向左下、向下、向右下的遍历判断方法，有益效果包括：简化了遍历思路，筛除重复遍历项的无用计算量，减少一半的计算次数，以此提升坏点测试的速率。以此提升坏点测试的速率。以此提升坏点测试的速率。

【技术实现步骤摘要】
一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法


[0001]本专利技术涉及摄像头坏点检测方法领域，具体涉及一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法。

技术介绍

[0002]由于图像传感器厂商要考虑工艺与成本问题，图像传感器若是存在少许符合规格的坏点，可以通过数值修正，或依据关联像素均值插值等方式校正为原始效果。
[0003]虽然坏点特性影响着模组的成像质量，但由于像素存在关联性，单个坏点可以很好被校正，但若九宫格像素区域内有连续的坏点，则会影响到坏点校正的效果。
[0004]因此需要对图像传感器连续坏点进行测试，现有的连续坏点判断主要方式为：环绕遍历方式即对相邻的八个像素依次进行判断，主要适用于单个坏点与三个连续坏点测试。如图1所示针对坏点像素R的环绕遍历需要依次遍历R0
‑
R7。逐行判断的情况下，每个像素周围的八个像素都要依次遍历，因此每个像素需要判断8次，其计算量较大，存在重复计算的情况。

技术实现思路

[0005]针对上述现有技术中的不足之处，本专利技术提供一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法，其提升了计算效率，减少了一半的计算量。
[0006]为了达到上述目的，本专利技术采用了以下技术方案：
[0007]一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法，其特征在于：包括以下步骤，
[0008]S0、定义像素格的长度为W，宽度为H，总共包括W*H个像素数据，定义当前像素点坐标为(u，h)，u∈(0～W
‑
1)，h∈(0～H
>‑
1)，有n＝u+h*W；定义n符合u＝0，h∈(0～H
‑
2)的像素点识别为最左侧像素点；n符合u＝W
‑
1，h∈(0～H
‑
2)的像素点识别为最右侧像素点，n符合h＝H
‑
1，u∈(0～W
‑
2)的像素点识别为最下侧像素点，n符合u∈(1～W
‑
2)，h∈(0～H
‑
2)的像素点识别为中间像素点；基于对比度坏点算法来标记所有像素自身的坏点信息P[n]，n∈(0～(W
‑
1)*(H
‑
1))，P[n]值取{0,1}；若P[n]＝1，则第n个像素点为坏点，若P[n]＝0，则第n个像素点不为坏点；定义K用于记录坏点信息，初始K＝{null}；
[0009]S1、判断当前像素位置，若当前像素点位置不为最左侧像素点，则进入步骤S2，若当前像素点为最左侧像素点，则进入步骤S1.1；
[0010]S1.1、判断P[n]是否等于1，若否直接跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若是进入步骤S1.2；
[0011]S1.2、判断右侧像素位置，P[n+1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若否进入步骤S1.3；
[0012]S1.3、判断下侧像素位置，P[n+W]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+W}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，
P[n+W]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若否进入步骤S1.4；
[0013]S1.4、判断右下侧像素位置，p[n+W+1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W+1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+W+1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+W+1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若否跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；
[0014]S2、判断当前像素位置，若当前像素位置不为最右侧像素点，则进入步骤S3，若当前像素点为最右侧像素点，则进入步骤S2.1；
[0015]S2.1、判断P[n]是否等于1，若否直接跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S2；若是进入步骤S2.2；
[0016]S2.2、判断左下侧像素位置，P[n+W
‑
1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W
‑
1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+W
‑
1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+W
‑
1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S2；若否进入步骤S2.3；
[0017]S2.3、判断下侧像素位置P[n+w]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+w}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+w]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S2；若否则跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S2；
[0018]S3、判断当前像素位置，若当前像素位置不为最下侧像素点，则进入步骤S4，若当前像素位置为最下侧像素点，则进入步骤S3.1；
[0019]S3.1、判断P[n]是否等于1，若否直接跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S3，若是进入步骤S3.2；
[0020]S3.2、判断右侧像素位置，P[n+1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+1]，执行步骤S3；若否则跳转到下一个像素位置P[n+1]，执行步骤S3；
[0021]S4、判断当前像素位置，若当前像素位置不为中间像素点，则进入步骤S5，若当前像素位置为中间像素点，则进入步骤S4.1；
[0022]S4.1、判断P[n]是否等于1，若否直接跳转到下一个像素位置P[n+1]，进入步骤S5，若是则进入步骤S4.2；
[0023]S4.2、判断右侧像素位置P[n+1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+1]＝1两个连续坏点的信息，即K＝K+{n，n+1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+1]，进入步骤S5；若否进入步骤S4.3；
[0024]S4.3、判断左下侧像素位置P[n+W
‑
1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W
‑
1]＝1两个连续坏点的信息，即K＝K+{n，n+W
‑
1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+W
‑
1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+1]，进入步骤S5，若否则进入步骤S4.4；
[0025]S4.4、判断下侧像素位置P[n+本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种摄像头模组测试九宫格内连续坏点的方法，其特征在于：包括以下步骤，S0、定义像素格的长度为W，宽度为H，总共包括W*H个像素数据，定义当前像素点坐标为(u，h)，u∈(0～W
‑
1)，h∈(0～H
‑
1)，有n＝u+h*W；定义n符合u＝0，h∈(0～H
‑
2)的像素点识别为最左侧像素点；n符合u＝W
‑
1，h∈(0～H
‑
2)的像素点识别为最右侧像素点，n符合h＝H
‑
1，u∈(0～W
‑
2)的像素点识别为最下侧像素点，n符合u∈(1～W
‑
2)，h∈(0～H
‑
2)的像素点识别为中间像素点；基于对比度坏点算法来标记所有像素自身的坏点信息P[n]，n∈(0～W*H
‑
1)，P[n]值取{0,1}；若P[n]＝1，则第n个像素点为坏点，若P[n]＝0，则第n个像素点不为坏点；定义K用于记录坏点信息，初始K＝{null}；S1、判断当前像素位置，若当前像素点位置不为最左侧像素点，则进入步骤S2，若当前像素点为最左侧像素点，则进入步骤S1.1；S1.1、判断P[n]是否等于1，若否直接跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若是进入步骤S1.2；S1.2、判断右侧像素位置，P[n+1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若否进入步骤S1.3；S1.3、判断下侧像素位置，P[n+W]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+W}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+W]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若否进入步骤S1.4；S1.4、判断右下侧像素位置，p[n+W+1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W+1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+W+1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+W+1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；若否跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S1；S2、判断当前像素位置，若当前像素位置不为最右侧像素点，则进入步骤S3，若当前像素点为最右侧像素点，则进入步骤S2.1；S2.1、判断P[n]是否等于1，若否直接跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S2；若是进入步骤S2.2；S2.2、判断左下侧像素位置，P[n+W
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1]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W
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1]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+W
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1}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝0，P[n+W
‑
1]＝0，后跳转到下一个像素位置P[n+W]，执行步骤S2；若否进入步骤S2.3；S2.3、判断下侧像素位置P[n+w]是否等于1，若是则记录P[n]＝1，P[n+W]＝1两个连续坏点信息，即K＝K+{n，n+w}，并重置已记录的坏点防止坏点信息重复记录，使P[n]＝...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵航，
申请(专利权)人：重庆市天实精工科技有限公司，
类型：发明
国别省市：