一种闪烁晶体发光检测设备制造技术

技术编号:38353625 阅读:8 留言:0更新日期:2023-08-05 17:26
本发明专利技术公开一种闪烁晶体发光检测设备,用于闪烁晶体,包括振动上料装置和晶体检测装置,晶体检测装置置于防护外壳内,防护外壳内安装有检料盘;检料盘用于承接振动上料装置输送的闪烁晶体;防护外壳内设置有检测组件;检测组件用于检测检料盘上闪烁晶体是否合格。本申请通过振动上料装置控制上料晶体,每次使单个晶体进入晶体检测装置进行检测;在晶体检测装置进行检测过过程中通检测组件进行鉴别,鉴别后通过控制浮动块浮动使合格晶体和不合格晶体分别流入不同的输料通道;整个装置自动化程度高,便于操作,大大提高了工作效率。大大提高了工作效率。大大提高了工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种闪烁晶体发光检测设备


[0001]本专利技术属发光检测
,尤其涉及一种闪烁晶体发光检测设备。

技术介绍

[0002]目前市场上LSO、GSO、BGO等闪烁晶体加工厂商有成套的检测设备,晶体加工好后标定检测,这种设备优点是可以高效批量分检,缺点是分检后还是存在一定的不良率,即没有将合格与不合格的产品准确区分开,分检后认为合格的晶体中还存在有不合格的晶体,而且成套设备定制价格贵。对于晶体使用厂商为提高所筛分出晶体的良率,在控制成本的前提下,会采用小批量检测,将100个左右数量晶体装在小盒内准确的位置,利用SIPM(硅光电倍增管)模块系列检测,这种检测的优点是大大提高了晶体检测良率,即更加准确地将合格与不合格产品进行了区分,检测后所得到的合格产品中良率更高,且此种检测方式的成本低;但缺点是操作太麻烦,效率太低,因为晶体比较小,每次装料都要放到准确位置,装料占了检测过程70%以上时间,而且检测完筛选出不良晶体,找到准确位置又会花费很多时间,而且SIPM模块每次检测范围有限,每次检测数量只能在它的范围内。
[0003]目前的闪烁发光晶体检测设备存在晶体检测过程中无法单次单独对一个晶体进行检测,导致可能在合格晶体中混杂不合格晶体,这样导致区分后的晶体仍存在晶体混杂。
[0004]因此,亟需设计一种闪烁晶体发光检测设备。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种闪烁晶体发光检测设备,以解决上述问题。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提供了如下方案:
[0007]一种闪烁晶体发光检测设备,用于闪烁晶体,包括:
[0008]振动上料装置,所述振动上料装置为螺旋上料结构;
[0009]晶体检测装置,所述晶体检测装置置于防护外壳内,所述防护外壳内安装有检料盘;所述检料盘用于承接所述振动上料装置输送的所述闪烁晶体;
[0010]所述防护外壳内设置有检测组件;所述检测组件用于检测所述检料盘上所述闪烁晶体是否合格;
[0011]所述检料盘为弧形板结构,所述检料盘中部固定安装有检料台;所述检料台与所述振动上料装置的出料轨道位置对应;所述检料台两侧分别连通有第一输料通道和第二输料通道;所述第一输料通道和第二输料通道内分别放置有合格/不合格的所述闪烁晶体;所述检料盘水平安装在所述防护外壳内;所述检料盘顶面还安装有若干个紧密排列的浮动块。
[0012]所述检料台顶面向下开设有透光孔,所述透光孔向下延伸贯穿所述检料盘;所述透光孔内固定安装有所述检测组件。
[0013]所述检测组件包括固定安装在所述透光孔上方的辐射源,所述辐射源下方设置有光电探测器;所述光电探测器固定安装在所述防护外壳内,且所述光电探测器与所述辐射
源之间还设置有遮光板;
[0014]所述透光孔顶部设置有嵌设在所述防护外壳内的铅罐;所述铅罐置于所述检料台正上方;所述铅罐底面还设置有挡光板;所述挡光板与推动组件固定连接。
[0015]所述推动组件固定安装在所述防护外壳侧壁,所述推动组件包括固定台;所述固定台底面固定安装有电动推杆的固定端,所述电动推杆的活动端固定连接有安装板;所述安装板上螺纹安装有所述挡光板。
[0016]所述检料盘两端开设有圆形的料槽;两所述料槽底部分别连通有所述第一输料通道和第二输料通道。
[0017]所述浮动块底部固定安装有推拉电磁铁;所述推拉电磁铁底部按有驱动电机,所述驱动电机嵌设在所述检料盘上。
[0018]所述振动上料装置包括振动盘;所述振动盘底部安装有振动机;所述振动盘内轨道螺旋上升;所述振动盘顶部出口下方固定安装有出料板;所述出料板上安装有两平行设置的导料板;所述两导料板的间距小于所述振动盘顶部出口,且大于一所述闪烁晶体的宽度;
[0019]一所述导料板之间还安装有调节组件,所述调节组件用于限制闪烁晶体通过速度及通过数量;
[0020]所述振动盘顶部出口处还固定安装有挡板,所述出料板另一端伸入所述防护外壳内,且置于所述检料台上方;
[0021]一所述导料板朝所述振动盘顶部出口内部延伸与所述振动盘内壁连接形成平缓过渡。
[0022]所述调节组件包括嵌设在远离所述振动盘的所述导料板上的调节块;所述调节块内部中空,且顶部开设有与其内部连通的开口;所述调节块内设置有调节板;所述调节板两侧壁均固定安装有至少一活动杆;所述活动杆活动安装于所述调节块内,使所述调节板在所述调节块内上下活动;所述调节板一侧壁与靠近所述振动盘的所述导料板侧壁滑动设置;
[0023]所述调节板底部还固定嵌设有磁铁;所述磁铁与两所述导料板之间的轨道位置对应;
[0024]所述出料板内还固定安装有微型电机;所述微型电机与吸盘电磁铁电性连接;所述吸盘电磁铁与所述磁铁位置上下对应。
[0025]与现有技术相比,本专利技术具有如下优点和技术效果:本申请通过振动上料装置控制上料晶体,每次使单个晶体进入晶体检测装置进行检测;在晶体检测装置进行检测过过程中通检测组件进行鉴别,鉴别后通过控制浮动块浮动使合格晶体和不合格晶体分别流入不同的输料通道;整个装置自动化程度高,便于操作,大大提高了工作效率。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图:
[0027]图1为整体结构示意图;
[0028]图2为晶体检测装置内部结构示意图;
[0029]图3为调节组件结构示意图;
[0030]其中,1、振动上料装置;2、防护外壳;3、检料盘;4、第一输料通道;5、第二输料通道;6、缓冲垫;7、磁铁;11、振动盘;12、出料板;13、导料板;14、挡板;15、调节块;16、调节板;17、活动杆;18、微型电机;19、吸盘电磁铁;31、检料台;32、浮动块;33、推拉电磁铁;34、料槽;61、辐射源;62、光电探测器;63、遮光板;64、挡光板;65、固定台;66、电动推杆;67、安装板;
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0032]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0033]一种闪烁晶体发光检测设备,用于闪烁晶体,包括:
[0034]振动上料装置1,振动上料装置为螺旋上料结构;
[0035]晶体检测装置,晶体检测装置置于防护外壳2内,防护外壳2内安装有检料盘3;检料盘3用于承接振动上料装置1输送的闪烁晶体;
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪烁晶体发光检测设备,用于闪烁晶体,其特征在于,包括:振动上料装置(1),所述振动上料装置为螺旋上料结构;晶体检测装置,所述晶体检测装置置于防护外壳(2)内,所述防护外壳(2)内安装有检料盘(3);所述检料盘(3)用于承接所述振动上料装置(1)输送的所述闪烁晶体;所述防护外壳(2)内设置有检测组件;所述检测组件用于检测所述检料盘(3)上所述闪烁晶体是否合格;所述检料盘(3)为弧形板结构,所述检料盘(3)中部固定安装有检料台(31);所述检料台(31)与所述振动上料装置(1)的出料轨道位置对应;所述检料台(31)两侧分别连通有第一输料通道(4)和第二输料通道(5);所述第一输料通道(4)和第二输料通道(5)内分别放置有合格/不合格的所述闪烁晶体;所述检料盘(3)水平安装在所述防护外壳(2)内;所述检料盘(3)顶面还安装有若干个紧密排列的浮动块(32)。2.根据权利要求1所述的一种闪烁晶体发光检测设备,其特征在于:所述检料台(31)顶面向下开设有透光孔,所述透光孔向下延伸贯穿所述检料盘(3);所述透光孔上固定安装有所述检测组件。3.根据权利要求2所述的一种闪烁晶体发光检测设备,其特征在于:所述检测组件包括固定安装在所述透光孔内的辐射源(61),所述辐射源(61)下方设置有光电探测器(62);所述光电探测器(62)固定安装在所述防护外壳(2)内,且所述光电探测器(62)与所述辐射源(61)之间还设置有遮光板(63);所述透光孔顶部设置有嵌设在所述防护外壳(2)内的铅罐(6);所述辐射源(61)置于所述铅罐(6)内;所述铅罐(6)置于所述检料台(31)正上方;所述铅罐(6)底面还设置有挡光板(64);所述挡光板(64)与推动组件固定连接。4.根据权利要求3所述的一种闪烁晶体发光检测设备,其特征在于:所述推动组件固定安装在所述防护外壳(2)侧壁,所述推动组件包括固定台(65);所述固定台(65)底面固定安装有电动推杆(66)的固定端,所述电动推杆(66)的活动端固定连接有安装板(67);所述安装板(67)上螺纹安装有所述挡光板(64)。5.根据权利要求1所述的一种闪烁晶...

【专利技术属性】
技术研发人员:翟鹏
申请(专利权)人:河北省华凯龙科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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