多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置及方法，使用多个波长光源同时进行拉曼和荧光光谱检测，根据多个波长激发的拉曼和荧光光谱信号进行分析并互相校正，得到更为准确的检测物质的拉曼频移和荧光光谱，提高了检测精度。高了检测精度。高了检测精度。

【技术实现步骤摘要】
多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置及方法


[0001]本专利技术属于光谱检测领域，具体涉及一种多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置及方法。

技术介绍

[0002]拉曼和荧光光谱检测是常用的物质光谱检测手段。拉曼光谱是基于激发光谱和待测分子之间的拉曼效应所获得的光谱。拉曼光谱测量分子的振动与转动，拉曼频移大小与入射光源波长无关，通过谱峰的位置可反映被测物质分子的官能团或化学键的特征振动频率。因此，拉曼光谱被称为“分子指纹”。作为一种强有力的分子检测手段，拉曼光谱技术可实现样本快速、无损检测。荧光光谱法是通过某一波长的光线照射待测物质，使物质吸收这一辐射，然后再发射出一定光谱范围的光，主要用于分析能产生荧光信号的有机物，也是一种重要的定性和定量光谱分析手段。
[0003]拉曼光谱信号强度和激发光源波长四次方成反比。激发光源波长越短，拉曼信号越强，但是受到荧光干扰也越强；激发光源波长越长，荧光干扰越弱，但是拉曼信号也越弱。传统光谱检测通常使用单一波长，很难同时兼顾拉曼和荧光信号，即使通过数据处理方法进行分离，精度也难以保证。
专利技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置，其特征在于：包括266nm激光器、532nm激光器和785nm激光器、发射光纤、接收光纤、滤波镜组、荧光光谱仪和拉曼光谱仪，所述266nm激光器、532nm激光器和785nm激光器发射的激光通过三合一的发射光纤进入样品池，样品池中被激发的荧光和拉曼散射光首先经过滤波镜组，滤除266nm、532nm和785nm波长激光对后续探测的影响，然后通过二合一的接收光纤，分别进入荧光光谱仪和拉曼光谱仪。2.根据权利要求1所述的一种多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置，其特征在于：所述滤波镜组由266nm陷波片、532nm陷波片和785nm陷波片组成，荧光光谱仪光谱范围为270nm～1100nm，拉曼光谱仪光谱范围为100cm
‑1～4000cm
‑1。3.根据权利要求1或2所述的一种多波长校正的拉曼荧光光谱联合检测装置的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、打开266nm激光器，关闭532nm激光器和785nm激光器，荧光光谱仪采集光谱信号为F1，拉曼光谱仪采集光谱信号为L1；步骤2、打开532nm激光器，关闭266nm激光器和785nm激光器，荧光光谱仪采集光谱信号为F2，拉曼光谱仪采集光谱信号为L2；步骤3、打开785nm激光器，关闭266nm激光器和532nm激光器，荧光光谱仪采集光谱信号为F3，拉曼光谱仪采集光谱信号为L3；步骤4、对F1、F2和F3分别进行滤波处理，得到F
′1、F
′2和F
′3；步骤5、对F
′1、F
′2和F
′3进行归一化后相加取平均值，得到光谱信号F
′
；步骤6、对L1、L2和L3分别进行滤波处理，得到L
′1、L
′2和L
′3；步骤7、L
′1减去F
′1中100cm
‑1～4000cm
‑1对应波长的值，得到L
″1；L
′2减去F

【专利技术属性】
技术研发人员：张战盈，徐赤东，徐青山，余东升，方蔚恺，
申请(专利权)人：中国科学院合肥物质科学研究院，
类型：发明
国别省市：