构成为具有：行进机构，其使包覆导线行进而形成行进路径(Wr)；放电检测电极(5)，其与包覆导线对置配置，并且与施加交流电压的交流电源(6)连接，电极长度(L)被设定为对包覆导线的行进速度(Sr)乘以交流电压的1个周期的期间而得到的值以上；信号检测器(7)，其检测在放电检测电极(5)与包覆导线之间产生的放电；计测装置(23)，其计测信号检测器(7)检测到的放电信号(Sa)的检测间隔(t)；以及判定部(25)，其基于检测间隔(t)与根据被施加的交流频率(f)计算出的时间之间的关系，判定包覆导线是否存在包覆缺陷(92d)。覆缺陷(92d)。覆缺陷(92d)。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】包覆缺陷检测装置、包覆缺陷检测方法和旋转电机的制造方法
[0001]本申请涉及包覆缺陷检测装置、包覆缺陷检测方法和旋转电机的制造方法。
技术介绍
[0002]在马达、发电机等旋转电机的定子中使用线圈，该线圈卷绕有利用有机物的绝缘体覆膜包覆由铜、铝等导体形成的线芯而成的被称作电磁线的包覆导线。当在电磁线的覆膜产生针孔(pinhole)或损伤时，在旋转电机的工作中，相邻的电磁线之间或与定子铁芯之间短路而流过异常电流，线圈被异常地加热，导致烧损。
[0003]因此，已提出如下的检查方法：在电磁线的行进线上配置2个电极，对一方施加针孔检测用的检测电压，对另一方施加成为检测电压的数倍以上的数kV的高电压，由此提高检测的可靠性(例如参照专利文献1)。
[0004]现有技术文献
[0005]专利文献
[0006]专利文献1：日本特开2014
‑
182053号公报(第0018～0033段、图1)
技术实现思路
[0007]专利技术要解决的课题
[0008]在对电磁线施加高电压时，针孔的检测频度提高，带来可靠性的提高。但是，当施加电压过高时，产生火花放电而对正常的覆膜造成损伤，可能对检查对象品造成损伤。
[0009]本申请公开用于解决上述课题的技术，其目的在于，能够不对作为检查对象品的包覆导线造成损伤地进行可靠性高的缺陷检测。
[0010]用于解决课题的手段
[0011]本申请公开的包覆缺陷检测装置的特征在于，该包覆缺陷检测装置具有：行进路径形成机构，其使包覆导线行进而形成行进路径；放电检测电极，其与所述包覆导线对置配置，并且与施加交流电压的交流电源连接，沿着所述行进路径的长度被设定为对所述包覆导线的行进速度乘以所述交流电压的1个周期的期间而得到的值以上；放电检测器，其检测在所述放电检测电极与所述包覆导线之间产生的放电；计测装置，其计测所述放电检测器检测到的放电信号的检测间隔；以及判定部，其根据所述检测间隔与根据被施加的交流频率计算出的时间之间的关系，判定所述包覆导线是否存在包覆缺陷。
[0012]本申请公开的包覆缺陷检测方法的特征在于，该包覆缺陷检测方法包含以下步骤：行进路径形成步骤，使包覆导线行进而形成行进路径；放电检测步骤，对与所述包覆导线对置配置的放电检测电极施加1个周期的长度比所述放电检测电极的沿着所述行进路径的长度除以所述包覆导线的行进速度而得到的值短的频率的交流电压，检测在所述放电检测电极与所述包覆导线之间产生的放电；计测步骤，计测所述检测到的放电信号的检测间隔；以及判定步骤，根据所述检测间隔与根据被施加的所述频率计算出的时间之间的关系，
判定所述包覆导线是否存在包覆缺陷。
[0013]专利技术效果
[0014]根据本申请公开的包覆缺陷检测装置或包覆缺陷检测方法，根据放电信号的检测间隔来判定有无包覆缺陷，因此，能够不对作为检查对象品的包覆导线造成损伤地进行可靠性高的缺陷检测。
附图说明
[0015][图1]是用于说明实施方式1的包覆缺陷检测装置的结构的示意图。
[0016][图2]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置中形成行进路径形成机构的包覆导线的送出机和卷取机的例子的图。
[0017][图3]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置或检测方法中的作为检查对象的电磁线的构造的一例的立体图。
[0018][图4]是示出构成实施方式1的包覆缺陷检测装置的放电检测电极的构造的立体图。
[0019][图5]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置中的检查对象、放电检测电极和信号检测器的电连接状态的示意图。
[0020][图6]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置中的检查对象、放电检测电极和信号检测器的电连接状态的等效电路图。
[0021][图7]图7A和图7B分别是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置中由2个放电检测电极分别检测的放电信号与施加电压波形之间的关系的波形图。
[0022][图8]图8A和图8B分别是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置中检测间隔分别不同的计测例的波形示意图。
[0023][图9]是用于说明实施方式1的包覆缺陷检测装置的动作或包覆缺陷检测方法的流程图。
[0024][图10]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置的执行运算处理的部分的结构例的框图。
[0025][图11]是用于说明实施方式2的包覆缺陷检测装置的结构的示意图。
[0026][图12]是用于说明实施方式2的第二例的包覆缺陷检测装置的结构的示意图。
[0027][图13]是用于说明实施方式3的包覆缺陷检测装置的结构的示意图。
[0028][图14]是示出实施方式3的包覆缺陷检测装置中使检测间隔的测定精度降低的要因的概念的波形图。
[0029][图15]是用于说明实施方式4的包覆缺陷检测装置的结构的示意图。
[0030][图16]是示出实施方式4的包覆缺陷检测装置中的、显示放电信号波形的采样结果的画面显示例的图。
[0031][图17]是用于说明实施方式5的包覆缺陷检测装置的结构的示意图。
[0032][图18]是示出实施方式5的包覆缺陷检测装置中的显示施加给放电检测电极的交流电压波形和放电信号波形的采样结果的画面显示例的图。
[0033][图19]图19A和图19B分别是用于说明作为实施方式6的旋转电机的制造方法的包覆缺陷检测方法和定子铁芯的卷线工序的组合的、包覆缺陷检测装置和定子铁芯的卷绕部
各自的示意图。
[0034][图20]是用于说明实施方式6的旋转电机的制造方法的流程图。
[0035][图21]是示出通过实施方式6的旋转电机的制造方法制作的旋转电机的结构的主要结构部的主视图。
[0036][图22]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置或检测缺陷检测方法中用于说明放电信号的第一信号处理的信号处理前和处理后的放电信号波形的波形图。
[0037][图23]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置或检测缺陷检测方法中用于说明放电信号的第二信号处理的信号处理前和处理后的放电信号波形的波形图。
[0038][图24]是示出实施方式1的包覆缺陷检测装置或检测缺陷检测方法中用于说明放电信号的第三信号处理的信号处理前和处理后的放电信号波形的波形图。
具体实施方式
[0039]实施方式1
[0040]图1～图9用于说明实施方式1的包覆缺陷检测装置的结构和动作，图1是关于包覆缺陷检测装置的结构示出与作为检查对象的电磁线的行进路径之间的关联性的示意图，图2是示出作为形成行进路径的行进路径形成机构发挥功能的电磁线的送出机和卷取机的例子的图，图3是示出作为检查对象的电磁线的构造的一例的末端部附近的立体图，图4是示出构成包覆缺陷检测装置的放电检测电极的构造的立体图。
[0041]而且，图5是示出作为检查对象的电磁线、放电检测电极和信号检测器的检查中的电连接状态的示意图，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种包覆缺陷检测装置，其特征在于，该包覆缺陷检测装置具有：行进路径形成机构，其使包覆导线行进而形成行进路径；放电检测电极，其与所述包覆导线对置配置，并且与施加交流电压的交流电源连接，沿着所述行进路径的长度被设定为对所述包覆导线的行进速度乘以所述交流电压的1个周期的期间而得到的值以上；放电检测器，其检测在所述放电检测电极与所述包覆导线之间产生的放电；计测装置，其计测所述放电检测器检测到的放电信号的检测间隔；以及判定部，其基于所述检测间隔与根据被施加的交流频率计算出的时间之间的关系，判定所述包覆导线是否存在包覆缺陷。2.根据权利要求1所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，所述放电检测电极由分开配置于沿着所述行进路径的分离的位置处的多个放电检测电极构成，所述判定部根据针对所述多个放电检测电极分别计测出的所述检测间隔之比与分别施加给所述多个放电检测电极的交流频率之比是否处于倒数的关系来进行所述判定。3.根据权利要求1所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，所述判定部根据所述检测间隔是否相当于所述交流电压的半个周期来进行所述判定。4.根据权利要求1～3中的任意一项所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，在所述放电检测电极的沿着所述行进路径的上游侧设置有去除所述包覆导线的带电的除电电极。5.根据权利要求1～4中的任意一项所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，所述判定部在成为所述检测间隔的计测对象的放电信号的正负反转的情况下，将该放电信号设为所述判定的对象。6.根据权利要求1～5中的任意一项所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，所述判定部进行如下的信号处理：将所述放电信号的绝对值与阈值进行比较，将所述放电信号的绝对值为所述阈值以上的情况转换为第一值，且将所述放电信号的绝对值小于所述阈值的情况转换为第二值，所述判定部根据进行了所述信号处理后的信号计算所述检测间隔。7.根据权利要求1～5中的任意一项所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，所述判定部进行使所述放电信号平滑的信号处理，根据进行了所述信号处理后的信号计算所述检测间隔。8.根据权利要求1～7中的任意一项所述的包覆缺陷检测装置，其特征在于，所述判定部根据对所述放电信号施加了噪声滤波后的信号计算所述检测间隔。9.一种包覆缺陷检测方法，其特征在于，该包覆缺陷检测方法包含以下步骤：行进路径形成步骤，使包覆导线行进而形成行进路径；放电检测步骤，对与所述包覆导线对置配置的放电检测电极，施加1个周期的长度比所述放电检...
【专利技术属性】
技术研发人员：高桥贞治，李旭涛，三泽贵浩，
申请(专利权)人：三菱电机株式会社，
类型：发明
国别省市：
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