雷管芯片测试用的自动调压电路、方法、设备和存储介质技术

本发明专利技术提供了雷管芯片测试用的自动调压电路、方法、设备和存储介质，其可自动调压以用于雷管测试，省时省力，提高了测试效率，且可解决现有难以实现线性升压的问题；雷管芯片测试用的自动调压电路，其包括依次连接的PWM输入控制模块、负压放大模块、DC

【技术实现步骤摘要】
雷管芯片测试用的自动调压电路、方法、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及电子雷管测试
，具体为雷管芯片测试用的自动调压电路、方法、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]雷管芯片在不同温度、不同电压、不同极性、不同指令下的测试，可获得相应电性能参数和返回参数，通过大量的测试数据可以找到雷管芯片的bug或者各种极限参数，为雷管芯片的改版优化提供数据支撑。
[0003]雷管芯片测试时，为了获得不同电能参数，就需要对芯片施加不同测试电压，现有采用的手动调压方式，即通过直流电源手动输入所需要的电压，但假设电压测试范围为5
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25V(步进0.2V)，这就需要手动调节(25
‑
5)/0.2＝100次，不仅费时费力，且测试效率太低影响整体项目进度，以及调节所得的电压难以实现稳定线性输出，从而导致输出电压或高或低，影响测试精度；或者是采用常见的DC
‑
DC升压电路，其可将3.3V输入电压调节至12V输出电压，但此方案的缺点是升压值固定；又或者是通过替换分压电阻阻值以改变输出电压的值，如中国专利CN115752125A可解决升压值固定的问题，且可起到自动升压的效果，采用的是通过数字电位器等电路设计改变阻值的方法，但此方法一是存在数字电位器耐压的问题，二是整体设计范围小，分辨率低，难以实现线性升压。

技术实现思路

[0004]鉴于此，本专利技术提供了雷管芯片测试用的自动调压电路、方法、设备和存储介质，其可自动调压以用于雷管测试，省时省力，提高了测试效率，且可解决现有难以实现线性升压的问题。
[0005]本专利技术解决上述技术问题的技术方案是这样的，雷管芯片测试用的自动调压电路，其特征在于：其包括依次连接的PWM输入控制模块、负压放大模块、DC
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DC升压模块；其中，
[0006]所述PWM输入控制模块，用于提供占空比可调的测试输入电压；
[0007]所述负压放大模块，用于将接收的测试输入电压进行负压放大后输出；
[0008]所述DC
‑
DC升压模块，还与待测雷管芯片连接，用于接收所述负压放大模块输出的电压信号，并进行电压转换后输出相应电压至所述待测雷管芯片中。
[0009]进一步地，所述负压放大模块包括依次连接的：
[0010]转换单元，用于将接收的测试输入电压进行交直流转换；
[0011]电压跟随单元，用于跟随所述转换单元输出的转换电压；
[0012]反向放大单元，用于对所述电压跟随单元输出的转换电压进行反向放大后输出；
[0013]进一步地，所述PWM输入控制模块包括单片机，所述单片机输出占空比范围为0.1％～100％；
[0014]进一步地，所述负压放大模块包括电阻R1～R5、电容C1～C4、运放U1A、U1B，所述运
放U1A、U1B均采用型号DP2117运放芯片；所述电阻R1的一端连接于所述PWM输入控制模块的输出端，所述电阻R1的另一端与所述电容C1的一端、运放U1A的3脚均相连接，所述电容C1的另一端接地，所述电容C2、C3的一端相连接后接地，所述电容C2的另一端与所述运放U1A的8脚均接电源12V的正极端，所述电容C3的另一端与所述运放U1A的4脚均接电源12V的负极端，所述运放U1A的2脚与所述运放U1A的1脚、电阻R2的一端均相连接，所述电阻R2的另一端与所述电阻R3的一端、运放U1A的6脚均相连接，所述运放U1A的5脚接地，所述电阻R3的另一端与所述电阻R4的一端、运放U1A的7脚均相连接，所述电阻R4的另一端与所述电阻R5的一端、电容C4的一端均相连接，所述电容C4的另一端接地；
[0015]进一步地，所述DC
‑
DC升压模块包括电阻R6～R8、电容C5～C8、电感L1、稳压二极管D1、稳压器U2，所述稳压器U2采用型号LT1935稳压芯片；所述电阻R8的一端连接电源3.3V，所述电阻R8的另一端与所述电容C7、C8的一端、电感L1的一端、稳压器U2的5脚均相连接，所述稳压器U2的4脚与所述电感R7的一端连接，所述稳压器U2的2脚接地，所述电感L1的另一端与所述稳压器U2的1脚、稳压二极管D1的正极端均相连接，所述稳压二极管D1的负极端与所述电阻R6的一端、电容C5、C6的一端均相连接，所述电阻R6的另一端与所述稳压器U2的3脚、电阻R5的另一端均相连接，所述电阻R7的另一端与所述电容C5、C6、C7、C8的另一端均相连后接地。
[0016]雷管芯片测试用的自动调压方法，其特征在于：其包括：
[0017]获取待测雷管芯片所需的电压，PWM输入控制模块根据所需的电压输出相应的测试输入电压Vi；
[0018]对测试输入电压Vi进行滤波和负压放大，获得对应的直流电压；
[0019]对直流电压进行升压调节，获得所述待测雷管芯片所需的测试电压。
[0020]进一步地，获得所述待测雷管芯片所需的测试电压，包括以下步骤：
[0021]根据公式(1)获得所述DC
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DC升压模块的反馈电压Vfb，
[0022]Vout＝1.265*(1+R6/R5)
[0023]Vout*R5/(R6+R5)＝1.265＝Vfb(1)
[0024]根据公式(2)获得所述负压放大模块输出的直流电压Vss，
[0025]Vss＝(
‑
R3/R2)*Vi(2)
[0026]然后根据欧姆定律公式：(Vfb
‑
Vss)/R5＝(Vout
‑
Vss)/(R6+R5)
[0027]换算为：1.265＝(R5*Vout+R6*Vss)/(R6+R5)(3)
[0028]通过公式(2)和(3)结合，获得所述待测雷管芯片所需的测试电压Vout。
[0029]进一步地，所述PWM输入控制模块以7.2KHZ的固定频率进行输出；
[0030]本专利技术还提出了一种电子设备，包括：处理器；以及存储计算机可执行指令的存储器，在所述可执行指令被所述处理器执行时，使所述处理器执行上述雷管芯片测试用的自动调压方法的步骤。
[0031]本专利技术还提出了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储一个或多个程序，所述一个或多个程序执行时，执行上述所述雷管芯片测试用的自动调压方法的步骤。
[0032]本专利技术的有益效果是，其可通过PWM输入控制模块提供占空比可调的测试输入电压，则测试输入电压在经过负压放大模块、DC
‑
DC升压模块后，通过线性调压获得待测雷管
芯片所需的测试电压，分辨率高，可满足雷管芯片不同电压测试需求，应用广泛，具有较好的经济使用价值。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.雷管芯片测试用的自动调压电路，其特征在于：其包括依次连接的PWM输入控制模块、负压放大模块、DC
‑
DC升压模块；其中，所述PWM输入控制模块，用于提供占空比可调的测试输入电压；所述负压放大模块，用于将接收的测试输入电压进行负压放大后输出；所述DC
‑
DC升压模块，还与待测雷管芯片连接，用于接收所述负压放大模块输出的电压信号，并进行电压转换后输出相应电压至所述待测雷管芯片中。2.根据权利要求1所述的雷管芯片测试用的自动调压电路，其特征在于：所述负压放大模块包括依次连接的：转换单元，用于将接收的测试输入电压进行交直流转换；电压跟随单元，用于跟随所述转换单元输出的转换电压；反向放大单元，用于对所述电压跟随单元输出的转换电压进行反向放大后输出。3.根据权利要求1所述的雷管芯片测试用的自动调压电路，其特征在于：所述PWM输入控制模块包括单片机，所述单片机输出占空比范围为0.1％～100％。4.根据权利要求1所述的雷管芯片测试用的自动调压电路，其特征在于：所述负压放大模块包括电阻R1～R5、电容C1～C4、运放U1A、U1B，所述运放U1A、U1B均采用型号DP2117运放芯片；所述电阻R1的一端连接于所述PWM输入控制模块的输出端，所述电阻R1的另一端与所述电容C1的一端、运放U1A的3脚均相连接，所述电容C1的另一端接地，所述电容C2、C3的一端相连接后接地，所述电容C2的另一端与所述运放U1A的8脚均接电源12V的正极端，所述电容C3的另一端与所述运放U1A的4脚均接电源12V的负极端，所述运放U1A的2脚与所述运放U1A的1脚、电阻R2的一端均相连接，所述电阻R2的另一端与所述电阻R3的一端、运放U1A的6脚均相连接，所述运放U1A的5脚接地，所述电阻R3的另一端与所述电阻R4的一端、运放U1A的7脚均相连接，所述电阻R4的另一端与所述电阻R5的一端、电容C4的一端均相连接，所述电容C4的另一端接地。5.根据权利要求4所述的雷管芯片测试用的自动调压电路，其特征在于：所述DC
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DC升压模块包括电阻R6～R8、电容C5～C8、电感L1、稳压二极管D1、稳压器U2，所述稳压器U2采用型号LT1935稳压芯片；所述电阻R8的一端连接电源3.3V，所述电阻R8的另一端与所述电容C7、C8的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱奎，孙翼，丁帆，曲兵兵，赵先锋，张永刚，潘之炜，
申请(专利权)人：无锡盛景微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：