一种采集分时复用的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种采集分时复用的装置，包括：放大器延时电路、开关器件、控制器；所述放大器延时电路的输入端与电源连接，所述放大器延时电路的输出端顺次连接所述开关器件、待测热敏电阻、所述控制器，所述控制器通过待测热敏电阻、待测BIN电阻接地。本实用新型专利技术采用放大器延时电路，使得待测热敏电阻、待测BIN电阻在不同时间通电，进而检测待测热敏电阻、待测BIN电阻的阻值，可以实现一个IO端口采样多路检测点，大大的节省了控制器ADC口和普通IO口，能灵活应用于各种各样的热敏电阻和分BIN电阻管理场合，提高了电路的可用性，满足客户日益增长的热敏电阻和分BIN电阻管理需求。日益增长的热敏电阻和分BIN电阻管理需求。日益增长的热敏电阻和分BIN电阻管理需求。

【技术实现步骤摘要】
一种采集分时复用的装置


[0001]本技术属于汽车照明
，具体涉及一种采集分时复用的装置。

技术介绍

[0002]分时复用是指用AD采集分时时间采集BIN电阻阻值和NTC阻值，该种采集方式可以降低控制器的资源利用，对于汽车灯具模组设计商，在处理NTC电阻和分BIN电阻管理大同小异，常用的方法是：用单一控制的方式，把NTC电阻和分BIN电阻分开，单独用AD口采集数据。采用该种方式虽然可性，但存在一定的局限性，对于控制器ADC口数量不够时，若采用上述方式，对于控制器选型，也只能选择IO口数量多的控制器，这加大了控制器设计成本。

技术实现思路

[0003]为了克服上述技术缺陷，本技术提供了一种采集分时复用的装置，其能减少控制器的IO端口数量。
[0004]为了解决上述问题，本技术按以下技术方案予以实现的：
[0005]一种采集分时复用的装置，包括：
[0006]放大器延时电路、开关器件、控制器；
[0007]所述放大器延时电路的输入端与电源连接，所述放大器延时电路的输出端顺次连接所述开关器件、待测热敏电阻、所述控制器，所述控制器通过待测热敏电阻、待测BIN电阻接地。
[0008]作为本技术的进一步改进，所述放大器延时电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、电容和运算放大器，电源与通过所述第一电阻连接所述运算放大器的第一端，电源通过所述第一电阻、所述第二电阻接地，电源通过所述第二电阻、电容接地，电源通过所述第三电阻连接所述运算放大器的第二端，电源通过所述第三电阻、第四电阻接地，电源连接所述运算放大器的第三端，所述运算放大器的第四端接地，所述运算放大器的第五端通过所述开关器件连接所述控制器。
[0009]作为本技术的进一步改进，所述开关器件为MOS管，所述MOS管的栅极与所述运算放大器的第五端连接，所述MOS管的源极接地，所述MOS管的漏极通过待测热敏电阻连接所述控制器，所述MOS管的漏极通过待测BIN电阻接地。
[0010]作为本技术的进一步改进，所述电源的电压为9
‑
16V。
[0011]作为本技术的进一步改进，所述运算放大器为双运算放大器。
[0012]作为本技术的进一步改进，所述放大器延时电路还包括连接在所述运算放大器第五端、所述MOS管栅极之间的第五电阻。
[0013]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：采用放大器延时电路，使得待测热敏电阻、待测BIN电阻在不同时间通电，进而检测待测热敏电阻、待测BIN电阻的阻值，可以实现一个IO端口采样多路检测点，大大的节省了控制器ADC口和普通IO口，能灵活应用于各种各样的热敏电阻和分BIN电阻管理场合，提高了电路的可用性，满足客户日益增长的热
敏电阻和分BIN电阻管理需求。
附图说明
[0014]下面结合附图对本技术的具体实施方式作进一步详细的说明，其中：
[0015]图1为本技术所述采集分时复用的装置结构示意图。
[0016]标记说明：1、放大器延时电路；2、控制器；3、电源。
具体实施方式
[0017]以下结合附图对本技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术，并不用于限定本技术。
[0018]本技术提供了一种采集分时复用的装置，如图1所示，包括：放大器延时电路1、开关器件Q1、控制器2；放大器延时电路1的输入端与电源3连接，放大器延时电路1的输出端顺次连接开关器件Q1、待测热敏电阻N1、控制器2，控制器2通过待测热敏电阻N1、待测BIN电阻B1接地。
[0019]BIN电阻代表LED亮度BIN，不同的BIN电阻阻值代表不同的亮度。
[0020]进一步地，放大器延时电路1包括：第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、电容C1和运算放大器U1，电源2与通过第一电阻R1连接运算放大器U1的第一端，电源通过第一电阻R1、第二电阻R2接地，电源3通过第二电阻R2、电容C1接地，电源3通过第三电阻R3连接运算放大器U1的第二端，电源3通过第三电阻R3、第四电阻R4接地，电源3连接运算放大器U1的第三端，运算放大器U1的第四端接地，运算放大器U1的第五端通过开关器件Q1连接控制器2。
[0021]在其中一些实施例中，开关器件Q1为MOS管，MOS管的栅极与运算放大器U1的第五端连接，MOS管的源极接地，MOS管的漏极通过待测热敏电阻N1连接控制器2，MOS管的漏极通过待测BIN电阻B1接地。
[0022]在其中一些实施例中，电源3的电压为9
‑
16V。
[0023]在其中一些实施例中，运算放大器U1为双运算放大器。
[0024]在其中一些实施例中，放大器延时电路1还包括连接在运算放大器U1第五端、MOS管栅极之间的第五电阻R5。
[0025]接下来，接下来结合具体实施过程对本技术做进一步解释：
[0026]运算放大器U1在放大器延时电路1中起到延缓上电的功能，延时时间为10ms，满足控制器2上电以及第一次采集待测热敏电阻和待测BIN电阻的电压值，确保MOS管延迟打开；当MOS管关闭时，控制器采集待测热敏电阻和待测BIN电阻的电压值，即可折算出待测热敏电阻和待测BIN电阻的电阻值；当MOS管导通接地，此时BIN电阻没有电流经过，随着环境温度的变化，待测热敏电阻的电阻阻值随之发生变化，此时控制器2的AD口分时采集待测热敏电阻的电压，最终以得到待测热敏电阻的阻值，进而实现采用一个IO端口即可检测待测热敏电阻和待测BIN电阻。
[0027]综上所述，本技术可以实现一个IO端口同时对BIN电阻、热敏电阻进行采样，巧妙地利用电阻式和MOS管开关特性分时复用方法灵活组合，大大的节省了控制器ADC口和普通IO口，能灵活应用于各种各样的热敏电阻和分BIN电阻管理场合，提高了电路的可用
性，满足客户日益增长的热敏电阻和分BIN电阻管理需求。
[0028]以上所述，仅是本技术的较佳实施例而已，并非对本技术作任何形式上的限制，故凡是未脱离本技术技术方案内容，依据本技术的技术实质对以上实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本技术技术方案的范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采集分时复用的装置，其特征在于，包括：放大器延时电路、开关器件、控制器；所述放大器延时电路的输入端与电源连接，所述放大器延时电路的输出端顺次连接所述开关器件、待测热敏电阻、所述控制器，所述控制器通过待测热敏电阻、待测BIN电阻接地。2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述放大器延时电路包括：第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、电容和运算放大器，电源与通过所述第一电阻连接所述运算放大器的第一端，电源通过所述第一电阻、所述第二电阻接地，电源通过所述第二电阻、电容接地，电源通过所述第三电阻连接所述运算放大器的第二端，电源通过所述第三电阻、第四电阻接地，电源连接所述运算放大器的第三端，所述运算放...

【专利技术属性】
技术研发人员：方健城，蓝贤福，朱国苗，侯宇，曾照明，刘德武，
申请(专利权)人：联晶智能电子有限公司，
类型：新型
国别省市：