本申请实施例提供一种电平测量装置与电子设备，以简化电子设备的控制电路，降低成本，涉及电子设备技术领域。该电平测量装置包括第一PNP三极管、第二PNP三极管与第三PNP三极管。第一PNP三极管具有第一集电极与连接至工作电平端的第一发射极、连接至基准电平端的第一基极。第二PNP三极管具有第二集电极、连接至工作电平端的第二发射极与连接至待测电平端的第二基极。第三PNP三极管具有第三发射极、第三基极与连接至第一低电平端的第三集电极，第三发射极与第三基极中的一个连接至第一集电极，另一个连接至第二集电极。工作电平端的电平值高于基准电平端，基准电平端的电平值高于第一低电平端。电平端。电平端。
【技术实现步骤摘要】
一种电平测量装置与电子设备
[0001]本申请涉及电子设备
，尤其涉及一种电平测量装置与电子设备。
技术介绍
[0002]目前，处理器的外围器件功能越来越多，也越来越复杂，而相对应的，处理器本身的运算资源等就经常会出现不足的情况。面对这种情况，相关技术中一般采用为处理器添加相应功能的扩展芯片的方式，以增加运算资源等。但是，添加扩展芯片会增加电路的复杂程度，且成本较高。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供一种电平测量装置及电子设备，以简化电子设备的控制电路，降低成本。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种电平测量装置，该电平测量装置包括第一PNP三极管、第二PNP三极管与第三PNP三极管。第一PNP三极管具有第一发射极、第一基极与第一集电极，第一发射极用于连接至工作电平端，第一基极用于连接至基准电平端；第二PNP三极管具有第二发射极、第二基极与第二集电极，第二发射极用于连接至工作电平端，第二基极用于连接至待测电平端；第三PNP三极管具有第三发射极、第三基极与第三集电极，第三发射极与第三基极中的一个连接至第一集电极，另一个连接至第二集电极，第三集电极用于连接至第一低电平端；其中，工作电平端的电平值高于基准电平端的电平值，基准电平端的电平值高于第一低电平端的电平值。
[0005]在本申请的一些实施例中，第三基极连接至第一集电极，第三发射极连接至第二集电极。
[0006]在本申请的一些实施例中，第三集电极用于连接至大地。
[0007]在本申请的一些实施例中，该电平测量装置还包括输出模块，输出模块连接至第三发射极，以接收第三发射极的电平值，输出模块用于根据第三发射极的电平值变化输出信号。
[0008]在本申请的一些实施例中，输出模块包括第一NPN三极管与第二NPN三极管。第一NPN三极管具有第四发射极、第四基极与第四集电极，第四发射极用于连接至第二低电平端，第四基极连接至第三发射极，第四集电极用于通过第一电阻连接至高电平端；第二NPN三极管具有第五发射极、第五基极与第五集电极，第五发射极用于连接至第三低电平端，第五基极连接至第一电阻远离高电平端的一端，第五集电极用于通过第二电阻连接至标准电平端。其中，第二低电平端的电平值高于或等于第一低电平端的电平值，第三低电平端的电平值高于或等于第二低电平端的电平值，高电平端的电平值高于第二低电平端的电平值，标准电平端的电平值高于第三低电平端的电平值。
[0009]在本申请的一些实施例中，高电平端为工作电平端。
[0010]在本申请的一些实施例中，标准电平端与第三低电平端的电平值差为1.8V。
[0011]在本申请的一些实施例中，第四发射极与第五发射极均用于连接至大地。
[0012]在本申请的一些实施例中，输出模块包括第三NPN三极管，第三NPN三极管包括第六发射极、第六基极与第六集电极，第六发射极用于连接至第四低电平端，第六基极连接至第三发射极，第六集电极用于通过第三电阻连接至标准电平端，第四低电平端的电平值高于或等于第一低电平端的电平值，标准电平端的电平值高于第四低电平端的电平值。
[0013]第二方面，本申请实施例提供一种电子设备，该电子设备包括电平测量装置与处理器。电平测量装置包括第一PNP三极管、第二PNP三极管与第三PNP三极管。第一PNP三极管具有第一发射极、第一基极与第一集电极，第一发射极用于连接至工作电平端，第一基极用于连接至基准电平端；第二PNP三极管具有第二发射极、第二基极与第二集电极，第二发射极用于连接至工作电平端，第二基极用于连接至待测电平端；第三PNP三极管具有第三发射极、第三基极与第三集电极，第三发射极与第三基极中的一个连接至第一集电极，另一个连接至第二集电极，第三集电极用于连接至第一低电平端；其中，工作电平端的电平值高于基准电平端的电平值，基准电平端的电平值高于第一低电平端的电平值。处理器用于检测第三PNP三极管的导通状态。
[0014]本申请实施例提供的电平测量装置，在待测电平端的电平值小于工作电平端的电平值，且大于第一低电平端的电平值的情况下，待测电平端的电平值与基准电平端的电平值的相对大小关系会影响第三PNP三极管的导通状态。比如，在第三基极连接至第一集电极，第三发射极连接至第二集电极的情况下，待测电平端的电平值大于基准电平端的电平值，会使得第三PNP三极管的导通状态，待测电平端的电平值小于基准电平端的电平值，会使得第三PNP三极管的处于关断状态。同样，在第三发射极连接至第一集电极，第三基极连接至第二集电极的情况下，待测电平端的电平值大于基准电平端的电平值，会使得第三PNP三极管的关断状态，待测电平端的电平值小于基准电平端的电平值，会使得第三PNP三极管的处于导通状态。这样，在待测电平端的电平值小于工作电平端的电平值，且大于第一低电平端的电平值的情况下，通过判断第三PNP三极管的导通状态，就能够对待测电平端的电平值进行测量。
附图说明
[0015]图1为本申请一些实施例中的电平测量装置的电路原理图之一；
[0016]图2为本申请一些实施例中的电平测量装置的电路原理图之二；
[0017]图3为本申请一些实施例中的电平测量装置的电路原理图之三。
[0018]附图标记：
[0019]10
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第一PNP三极管；11
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第二PNP三极管；12
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第三PNP三极管；13
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工作电平端；14
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基准电平端；15
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待测电平端；16
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第一低电平端；17
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输出模块；171
‑
第一NPN三极管；172
‑
第二NPN三极管；173
‑
第一电阻；174
‑
第二电阻；175
‑
第三NPN三极管；176
‑
第三电阻；18
‑
第二低电平端；19
‑
第三低电平端；20
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标准电平端；21
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第四低电平端；22
‑
二极管。
具体实施方式
[0020]需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的技术特征可以相互组合，具体实施方式中的详细描述应理解为本申请宗旨的解释说明，不应视为对本
申请的不当限制。
[0021]在本申请实施例中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请实施例的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0022]此外，在本申请实施例中，“上”、“下”、“左”以及“右”等方位术语是相对于附图中的部件示意置放的方位来定义的，应当理解到，这些方向性术语是相对的概念，它们用于相对本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电平测量装置，其特征在于，包括：第一PNP三极管，具有第一发射极、第一基极与第一集电极，所述第一发射极用于连接至工作电平端，所述第一基极用于连接至基准电平端；第二PNP三极管，具有第二发射极、第二基极与第二集电极，所述第二发射极用于连接至所述工作电平端，所述第二基极用于连接至待测电平端；第三PNP三极管，具有第三发射极、第三基极与第三集电极，所述第三发射极与所述第三基极中的一个连接至所述第一集电极，另一个连接至所述第二集电极，所述第三集电极用于连接至第一低电平端；其中，所述工作电平端的电平值高于所述基准电平端的电平值，所述基准电平端的电平值高于所述第一低电平端的电平值。2.根据权利要求1所述的一种电平测量装置，其特征在于，所述第三基极连接至所述第一集电极，所述第三发射极连接至所述第二集电极。3.根据权利要求1所述的一种电平测量装置，其特征在于，所述第三集电极用于连接至大地。4.根据权利要求1～3中任一项所述的一种电平测量装置，其特征在于，还包括输出模块，所述输出模块连接至所述第三发射极，以接收所述第三发射极的电平值，所述输出模块用于根据所述第三发射极的电平值变化输出信号。5.根据权利要求4所述的一种电平测量装置，其特征在于，所述输出模块包括：第一NPN三极管，具有第四发射极、第四基极与第四集电极，所述第四发射极用于连接至第二低电平端，所述第四基极连接至所述第三发射极，所述第四集电极用于通过第一电阻连接至高电平端；第二NPN三极管，具有第五发射极、第五基极与第五集电极，所述第五发射极用于连接至第三低电平端，所述第五基极连接至所述第一电阻远离所述高电平端的一端，所述第五集电极用于通过第二电阻连接至标准电平端；其中，所述第二低电平端的电平值高于或等于所述第一低电平端的电平值，所述第...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏巍，廖火生，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：新型
国别省市：
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