一种芯片测试震动控制装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱，所述震动箱上端面前侧固定有控制箱，并且后侧固定有控制平台，所述控制箱内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠，并且箱内设有移动杆滑动连接，所述移动杆上设有与丝杠螺纹啮合的螺纹块，所述移动杆上设有套杆穿过滑槽箱侧壁，所述滑槽箱固定在控制箱内上侧，并且其内设有夹持机构滑动连接，所述套杆自由端接触夹持机构下端，所述移动杆上端固定有限制机构。本实用新型专利技术的优点在于：使芯片震动检测时不晃动，使芯片的震动检测结果精准，继而提高了装置实用性的问题。继而提高了装置实用性的问题。继而提高了装置实用性的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试震动控制装置


[0001]本技术涉及芯片测试
，具体是指一种芯片测试震动控制装置。

技术介绍

[0002]芯片就是半导体元件产品的统称，指内含集成电路的硅片，体积很小，常常是计算机或其他设备的一部分。集成电路实体往往要以芯片的形式存在，依托芯片来发挥它的作用。它是电子设备中最重要的部分，承担着完成运算，处理任务和控制存储的功能。一般在芯片制作过程中需要经过许多工序，其中就包括芯片的震动检测，所以需要使用测试震动控制装置，然而市面上出现的震动控制装置仍存在各种各样的不足，不能够满足生产的需求。现有的震动控制装置在使用过程中，由于同种芯片产品的规格不统一，装置在对其进行夹持过程中，由于夹持结构调节不便，从而导致了芯片容易晃动甚至掉落，影响了芯片的震动检测结果，继而降低了装置实用性的问题。

技术实现思路

[0003]本技术要解决的技术问题是：克服上述问题，提供一种芯片测试震动控制装置。
[0004]为解决上述技术问题，本技术提供的技术方案为：一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱，所述震动箱上端面前侧固定有控制箱，并且后侧固定有控制平台，所述控制箱内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠，并且箱内设有移动杆滑动连接，所述移动杆上设有与丝杠螺纹啮合的螺纹块，所述移动杆上设有套杆穿过滑槽箱侧壁，所述滑槽箱固定在控制箱内上侧，并且其内设有夹持机构滑动连接，所述移动杆上端固定有限制机构。
[0005]进一步地，所述控制箱侧壁设有丝杠穿过的通孔，所述丝杠上设有与通孔对应的限位槽，所述限位槽与通孔之间设有轴承，所述丝杠两端各固定有旋钮一。
[0006]进一步地，所述移动杆下端固定有滑块一，并且上端设有连接座，所述控制箱内底壁设有滑块一滑动连接的滑槽，并且上端设有连接座滑动连接的通槽。
[0007]进一步地，所述夹持机构包括在滑槽箱内滑动连接的滑块二，所述滑块二上端固定有F型连接杆，并且右端固定有限位杆，所述F型连接杆上端设有第一横杆、第二横杆，所述两个横杆之间设有限制板，所述限制板固定在丝杠二下端，所述丝杠二穿过第一横杆并丝杠连接，并且上端固定有旋钮二，所述限位杆上、两个滑块二之间固定有复位弹簧。
[0008]进一步地，所述套杆左端设有移动杆穿过的通孔二，并且右端接触滑块二左端。
[0009]进一步地，所述限制机构包括固定在移动杆上端的连接座，所述连接座上端铰接有L型板，所述L型板上横板设有齿一，所述控制箱上端前侧设有两个矩形通孔，所述矩形通孔后壁设有与齿一啮合的齿二。
[0010]进一步地，所述震动箱前端铰接有箱盖，所述箱盖上固定有把手。
[0011]本技术与现有技术相比的优点在于：
[0012]通过旋转旋钮二使丝杠二带动限制板上下移动，使限制板、第二横杆可以上下夹
持芯片，旋转丝杠使两个套杆推动使两个夹持机构向中心移动，可以对芯片左右两端进行夹持；
[0013]通过转动L型板，使其上横板的齿一与矩形通孔后壁的齿二啮合，可以限制整体装置移动，使芯片震动检测时不晃动，使芯片的震动检测结果精准，继而提高了装置实用性的问题；
[0014]当芯片震动检测结束，先将一侧夹持机构打开，放出芯片一端，再反向旋转旋钮一，使丝杠带动套杆向两侧移动，在复位弹簧的作用下，两个夹持机构分开，这时可取出芯片；
[0015]通过限位槽、轴承限制丝杠移动并且只能转动；
[0016]通过滑块一、连接座与控制箱滑动连接，并通过套接套杆，限制移动杆只能左右移动，防止其前后晃动，增强装置稳定性；
[0017]所述限位杆防止复位弹簧受压弹出。
附图说明
[0018]图1是本技术一种芯片测试震动控制装置的整体正视结构图。
[0019]图2是本技术一种芯片测试震动控制装置的图1中A图。
[0020]图3是本技术一种芯片测试震动控制装置的夹持机构图。
[0021]图4是本技术一种芯片测试震动控制装置的整体俯视结构图。
[0022]图5是本技术一种芯片测试震动控制装置的控制箱俯视结构图。
[0023]如图所示：震动箱1，控制箱2，通孔201，滑槽202，通槽203，矩形通孔204，齿二205，控制平台3，丝杠4，移动杆5，螺纹块6，套杆7，通孔二701，滑槽箱8，夹持机构9，限制机构10，轴承11，连接座12，滑块二13，F型连接杆14，第一横杆1401，第二横杆1402，限位杆15，限制板16，丝杠二17，旋钮二1701，复位弹簧18，L型板19，齿一1901，箱盖20，把手21。
具体实施方式
[0024]下面结合附图对本技术做进一步的详细说明。
[0025]结合附图1，一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱1，所述震动箱1上端面前侧固定有控制箱2，并且后侧固定有控制平台3，所述控制箱2内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠4，并且箱内设有移动杆5滑动连接，所述移动杆5上设有与丝杠4螺纹啮合的螺纹块6，所述移动杆5上设有套杆7穿过滑槽箱8侧壁，所述滑槽箱8固定在控制箱2内上侧，并且其内左右各设有一个夹持机构9滑动连接，所述移动杆5上端固定有限制机构10。
[0026]本技术在具体实施时，先将芯片一端用一个夹持机构9夹持，旋转丝杠4使螺纹块6带动移动杆5移动，从而使套杆7一端推动夹持机构9移动，使另一侧夹持机构9能够夹持芯片另一端，使用限制机构10限制移动杆5移动，使夹持机构9无法移动，使芯片震动检测使不晃动，使芯片的震动检测结果精准，继而提高了装置实用性的问题。
[0027]结合附图1
‑
2，所述控制箱2侧壁设有丝杠4穿过的通孔201，所述丝杠4上设有与通孔201对应的限位槽401，所述限位槽401与通孔201之间设有轴承11，所述丝杠4两端各固定有旋钮一402。
[0028]所述限位槽401、轴承11限制丝杠4移动，并且只能转动。
[0029]结合附图1，所述移动杆5下端固定有滑块一501，并且上端设有连接座12，所述控制箱2内底壁设有滑块一501滑动连接的滑槽202，并且上端设有连接座12滑动连接的通槽203。
[0030]所述滑块一501、连接座12与控制箱2内、通槽203滑动连接，并通过套接套杆7，限制移动杆5只能左右移动，防止其前后晃动，增强装置稳定性。
[0031]结合附图3，所述夹持机构9包括在滑槽箱8内滑动连接的滑块二13，所述滑块二13上端固定有F型连接杆14，并且右端固定有限位杆15，所述F型连接杆14上端设有第一横杆1401、第二横杆1402，所述两个横杆之间设有限制板16，所述限制板16固定在丝杠二17下端，所述丝杠二17穿过第一横杆1401并丝杠连接，并且上端固定有旋钮二1701，所述限位杆15上、两个滑块二13之间固定有复位弹簧18。
[0032]结合附图1，所述套杆7左端设有移动杆5穿过的通孔二701，并且右端接触滑块二13左端。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试震动控制装置，包括震动箱(1)，其特征在于：所述震动箱(1)上端面前侧固定有控制箱(2)，并且后侧固定有控制平台(3)，所述控制箱(2)内设有贯穿左右箱壁轴承连接的丝杠(4)，并且箱内设有移动杆(5)滑动连接，所述移动杆(5)上设有与丝杠(4)螺纹啮合的螺纹块(6)，所述移动杆(5)上设有套杆(7)穿过滑槽箱(8)侧壁，所述滑槽箱(8)固定在控制箱(2)内上侧，并且其内设有夹持机构(9)滑动连接，所述套杆(7)自由端与夹持机构(9)下端接触，所述移动杆(5)上端固定有限制机构(10)。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述控制箱(2)侧壁设有丝杠(4)穿过的通孔(201)，所述丝杠(4)上设有与通孔(201)对应的限位槽(401)，所述限位槽(401)与通孔(201)之间设有轴承(11)，所述丝杠(4)两端各固定有旋钮一(402)。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在于：所述移动杆(5)下端固定有滑块一(501)，并且上端设有连接座(12)，所述控制箱(2)内底壁设有滑块一(501)滑动连接的滑槽(202)，并且上端设有连接座(12)滑动连接的通槽(203)。4.根据权利要求1所述的一种芯片测试震动控制装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯何英，
申请(专利权)人：东莞市金欣电子有限公司，
类型：新型
国别省市：