一种检测辅助台制造技术

本实用新型专利技术涉及集成电路检测技术领域，尤其涉及一种检测辅助台。包括检测台本体，检测台本体上端的中心处固定有放置台，放置台的上端固定有透明板架，检测台本体上端的四个端角处均固定有伸缩支杆，伸缩支杆的伸缩端固定有设备架，设备架上端的两端均设置有检测仪器，检测台本体的两端均固定有辅助台本体，两个辅助台本体之间设置有灯架组件，检测台本体的上端还设置有集束灯，集束灯与灯架组件之间设置有调节组件。本实用新型专利技术通过整体的结构配合设计，使得在对集成电路进行检测的过程中，通过集束灯方便对集成电路板进行辅助照射，进而提高检测准确性，在照射过程中通过调节组件方便调节照射角度。调节照射角度。调节照射角度。

【技术实现步骤摘要】
一种检测辅助台


[0001]本技术涉及集成电路检测
，尤其涉及一种检测辅助台。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；集成电路元件在进行封装之前，需要进行检测，以判定集成电路元件是否良好，良好的集成电路将被选出以进行后续的封装过程，而不合格品将被舍弃，以避免增加额外的封装成本，进而需要用到检测台以及辅助设备，现有的一些检测台结构简单，功能单一，且不具有辅助照射功能，例如CN217587296U公开的一种集成电路生产用检测工作台；
[0003]当检测台功能单一且不具有辅助照射功能时，在对集成电路进行检测的过程中，光线较差的情况下会影响检测准确性，较为不便，因此，为了解决该问题，我们提供另一种解决方案，即本申请的一种检测辅助台。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是提供一种检测辅助台，总的来说，是针对技术问题：当检测台功能单一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测辅助台，包括检测台本体(1)，其特征在于，所述检测台本体(1)上端的中心处固定有放置台(2)，所述放置台(2)的上端固定有透明板架(3)，所述放置台(2)和透明板架(3)之间设置有无尘腔，所述检测台本体(1)上端的四个端角处均固定有伸缩支杆(4)，所述伸缩支杆(4)的伸缩端固定有设备架(5)，所述设备架(5)上端的两端均设置有检测仪器(7)，所述检测台本体(1)的两端均固定有辅助台本体(8)，两个所述辅助台本体(8)之间设置有灯架组件，所述检测台本体(1)的上端还设置有集束灯(16)，所述集束灯(16)与灯架组件之间设置有调节组件。2.根据权利要求1所述的一种检测辅助台，其特征在于，所述检测台本体(1)上端的一侧还固定有电动伸缩杆(6)，所述电动伸缩杆(6)的伸缩端与设备架(5)固定。3.根据权利要求1所述的一种检测辅助台，其特征在于，所述检测台本体(1)的内侧还滑动连接有储物盒。4.根据权利要求1所述的一种检测辅助台，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑利，
申请(专利权)人：温州利巧电子有限公司，
类型：新型
国别省市：