本申请实施例提供了一种产品信息分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及计算机技术领域。本申请实施例通过获取待测产品的产品参数信息；根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，以及确定所述目标产品出现所述第一产品缺陷的目标工序；根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备，提升定位导致产品缺陷的生产设备的准确率。此外，本申请实施例将所述产品参数信息及所述生产设备信息存储于同一分布式数据库，因此，在获取所述产品参数信息及所述生产设备信息时，还可以提升信息获取效率，由此也提升了产品信息分析整体过程的处理效率。过程的处理效率。过程的处理效率。
【技术实现步骤摘要】
产品信息分析方法、装置及电子设备
[0001]本申请涉及计算机
，具体而言，本申请涉及一种产品信息分析方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]随着智能化制造技术的发展，产品生产的效率以及产能逐步提高。但是，在大规模的产品生产过程中，所生产的产品出现产品缺陷是在所难免的。因此，在生产领域，快速定位缺陷产生的原因并解决相应的问题有助于产品良率的提升。
[0003]目前，在排查缺陷产生的原因的过程中，智能化的产品信息分析方法逐步取代人为分析的分析方式。在相关技术中，如何高效的进行产品信息分析成为亟需解决的问题。
技术实现思路
[0004]本申请的目的旨在至少能解决上述的技术缺陷之一，特别是产品信息分析效率低的技术缺陷。
[0005]根据本申请的一个方面，提供了一种产品信息分析方法，该方法包括：获取待测产品的产品参数信息；
[0006]根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，以及确定所述目标产品出现所述第一产品缺陷的目标工序；
[0007]根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备；
[0008]其中，所述目标生产设备包括所述目标工序中的生产设备，
[0009]所述产品参数信息及所述生产设备信息存储于同一分布式数据库。
[0010]可选的，所述根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，包括：
[0011]对所述产品参数信息进行解析，确定第一缺陷信息，所述第一缺陷信息包括缺陷类型；
[0012]确定存在所述第一产品缺陷的目标产品，所述缺陷类型包括第一产品缺陷。
[0013]可选的，所述对所述产品参数信息进行解析，确定第一缺陷信息，包括：
[0014]将所述产品参数信息与预设产品参数阈值进行比较，确定不满足所述预设产品参数阈值的不良产品参数；
[0015]根据所述不良产品参数确定所述第一缺陷信息。
[0016]可选的，所述产品参数信息包括产品图像信息，
[0017]所述对所述产品参数信息进行解析，确定第一缺陷信息，包括：
[0018]通过图像处理算法对所述产品图像信息进行识别，确定所述第一缺陷信息。
[0019]可选的，所述产品参数信息包括第二缺陷信息，
[0020]所述根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，包括：
[0021]根据第二缺陷信息，确定存在所述第一产品缺陷的目标产品；
[0022]其中，所述第二缺陷信息包括基于神经网络模型识别得到的产品缺陷信息。
[0023]可选的，所述方法还包括：
[0024]将所述第一缺陷信息与所述第二缺陷信息进行比对，得到比对结果；
[0025]将所述比对结果反馈至所述神经网络模型，以使得根据所述比对结果调整所述神经网络模型的模型参数。
[0026]可选的，所述第二缺陷信息包括所述目标产品在第一工序的产品缺陷信息，
[0027]所述第一缺陷信息包括所述目标产品在第二工序的产品缺陷信息，
[0028]所述第二工序包括在产品生产流程中，位于第一工序之后的生产工序。
[0029]可选的，所述根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备，包括：
[0030]基于所述目标产品对应的生产设备信息决策树算法；
[0031]确定决策树中根节点对应的目标生产设备。
[0032]可选的，所述确定所述目标产品出现所述第一产品缺陷的目标工序，包括：
[0033]获取所述第一产品缺陷的缺陷位置在所述目标产品上的第一位置参数；
[0034]确定所述第一位置参数满足预设位置要求的所述目标产品的第一数量；
[0035]若所述第一数量占所述待测产品数量的第一占比大于第一预设阈值，确定所述目标产品首次出现所述第一产品缺陷的第三工序，所述目标工序包括所述第三工序。
[0036]可选的，所述根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备，包括：
[0037]在所述第三工序对应的流水线及所述第四工序对应的流水线中，确定目标流水线；
[0038]根据所述目标流水线上的候选生产设备的所述生产设备信息，确定所述目标生产设备；
[0039]其中，所述第四工序包括在产品生产流程中，位于第三工序之前的生产工序，所述目标流水线对应的所述目标产品的数量大于第二预设阈值。
[0040]可选的，所述目标产品的第一产品缺陷的产生时间包括第一时间范围，
[0041]所述根据所述目标流水线上的候选生产设备的所述生产设备信息，确定所述目标生产设备，包括：
[0042]获取所述候选生产设备的所述生产设备信息中的运行参数；
[0043]确定所述第一时间范围内所述运行参数异常的目标生产设备。
[0044]可选的，所述第一产品缺陷的形状信息包括第一形状信息，
[0045]所述根据所述目标流水线上的候选生产设备的所述生产设备信息，确定所述目标生产设备，包括：
[0046]获取所述第一产品缺陷的缺陷位置在所述候选生产设备的生产台面上的第二位置参数；
[0047]获取所述候选生产设备的所述生产设备信息中，所述第二位置参数对应的零部件形状信息；
[0048]确定所述零部件形状信息与所述第一形状信息一致的目标生产设备。
[0049]根据本申请的另一个方面，提供了一种产品信息分析装置，该装置包括：
[0050]获取模块，用于获取待测产品的产品参数信息；
[0051]第一确定模块，用于根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，以及确定所述目标产品出现所述第一产品缺陷的目标工序；
[0052]第二确定模块，用于根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备；
[0053]其中，所述目标生产设备包括所述目标工序中的生产设备，
[0054]所述产品参数信息及所述生产设备信息存储于同一分布式数据库。
[0055]根据本申请的另一个方面，提供了一种电子设备，该电子设备包括：
[0056]一个或多个处理器；
[0057]存储器；
[0058]一个或多个应用程序，其中所述一个或多个应用程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行，所述一个或多个程序配置用于：执行本申请的第一方面任一项所述的产品信息分析方法。
[0059]例如，本申请的第三方面，提供了一种计算设备，包括：处理器、存储器、通信接口和通信总线，处理器、存储器和通信接口通过通信总线完成相互间的通信；
[0060]存储器用于存放至少一可执行指令，可执行指令使处理器执行如本申请的第一方面所示的产品信息分析方法对应的操作。
[0061]根据本申请的再一个方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种产品信息分析方法，其特征在于，包括：获取待测产品的产品参数信息；根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，以及确定所述目标产品出现所述第一产品缺陷的目标工序；根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备；其中，所述目标生产设备包括所述目标工序中的生产设备，所述产品参数信息及所述生产设备信息存储于同一分布式数据库。2.根据权利要求1所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，包括：对所述产品参数信息进行解析，确定第一缺陷信息，所述第一缺陷信息包括缺陷类型；确定存在所述第一产品缺陷的目标产品，所述缺陷类型包括第一产品缺陷。3.根据权利要求2所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述对所述产品参数信息进行解析，确定第一缺陷信息，包括：将所述产品参数信息与预设产品参数阈值进行比较，确定不满足所述预设产品参数阈值的不良产品参数；根据所述不良产品参数确定所述第一缺陷信息。4.根据权利要求2所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述产品参数信息包括产品图像信息，所述对所述产品参数信息进行解析，确定第一缺陷信息，包括：通过图像处理算法对所述产品图像信息进行识别，确定所述第一缺陷信息。5.根据权利要求1所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述产品参数信息包括第二缺陷信息，所述根据所述产品参数信息确定存在第一产品缺陷的目标产品，包括：根据第二缺陷信息，确定存在所述第一产品缺陷的目标产品；其中，所述第二缺陷信息包括基于神经网络模型识别得到的产品缺陷信息。6.根据权利要求2所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述方法还包括：将所述第一缺陷信息与所述第二缺陷信息进行比对，得到比对结果；将所述比对结果反馈至所述神经网络模型，以使得根据所述比对结果调整所述神经网络模型的模型参数。7.根据权利要求1所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述第二缺陷信息包括所述目标产品在第一工序的产品缺陷信息，所述第一缺陷信息包括所述目标产品在第二工序的产品缺陷信息，所述第二工序包括在产品生产流程中，位于第一工序之后的生产工序。8.根据权利要求1所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述根据所述目标产品对应的生产设备信息，确定所述第一产品缺陷对应的目标生产设备，包括：基于所述目标产品对应的生产设备信息决策树算法；确定决策树中根节点对应的目标生产设备。9.根据权利要求1所述的产品信息分析方法，其特征在于，所述确定所述目标产品出现
所述第一产品缺陷的目标工序，包括：获取所述第一产品缺陷的缺陷位置在所述目标产...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈韵，王建宙，吴建波，王瑜，代言玉，沈国梁，王萍，李园园，何德材，吴建民，王洪，
申请(专利权)人：北京中祥英科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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