一种II型集中器出库前测试时间优化方法技术

技术编号:38261159 阅读:13 留言:0更新日期:2023-07-27 10:21
本发明专利技术提供了一种II型集中器出库前测试时间优化方法,所述测试时间优化方法具体为:确定II型集中器出库前测试的操作流程,基于操作流程进行测试环节划分,调取II型集中器出库前测试的历史数据并确定每个测试环节对应的测试时间,对每个测试环节进行影响因素分析,以此确定进行优化的测试环节,并调取进行优化的测试环节的影响因素,对进行优化的测试环节进行要因分析,确定测试时间优化类型;基于测试时间优化类型进行优化策略匹配,并对匹配得到的每个优化策略进行实施效果分析,根据实施效果分析结果选取II型集中器出库前测试时间的优化策略。本发明专利技术能够解决对II型集中器出库前测试时间得到精准且高效的优化。前测试时间得到精准且高效的优化。前测试时间得到精准且高效的优化。

【技术实现步骤摘要】
一种II型集中器出库前测试时间优化方法


[0001]本专利技术涉及II型集中器管理
,尤其是指一种II型集中器出库前测试时间优化方法。

技术介绍

[0002]近年来,为了满足精益化管理要求,低压用户的采集成功率指标要求越来越高,而老版本的II型集中器采集成功率越来越低,各种功能也逐渐无法满足新的要求。为了满足低压用户的采集成功率指标要求,针对现有版本的问题对II型集中器进行了优化改进,并将改进后的II型集中器应用至低压用户的数据采集过程中,现有的II型集中器经历了大规模的更换和改造。
[0003]为了配合II型集中器改造工程顺利进行,必须保证足够的II型集中器供货量,避免改造工作受到影响,且为了保证现场的安装质量和工作效率,需要在进行II型集中器供货前,对每个II型集中器进行测试,保证设备完好无故障。由于电网II型集中器的改造工作量很大,若依旧采用现有的II型集中器测试方法,因单个II型集中器的测试时间较长,效率较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术中的缺点,提供一种II型集中器出库前测试时间优化方法,通过对测试环节进行分析,从而确定测试时间的优化类型,并确定具体的优化策略,能够在解决现有的II型集中器测试方式中存在的单个II型集中器测试时间较长,在工作量大的II型集中器替换场景下,效率较低的问题,使得II型集中器出库前测试时间能够得到精准且高效的优化。
[0005]本专利技术的目的是通过下述技术方案予以实现:
[0006]一种II型集中器出库前测试时间优化方法,包括:
[0007]确定II型集中器出库前测试的操作流程,基于操作流程将II型集中器出库前测试进行测试环节划分,调取II型集中器出库前测试的历史数据,并基于II型集中器出库前测试的历史数据确定每个测试环节对应的测试时间;
[0008]对每个测试环节进行影响因素分析,根据每个测试环节的影响因素分析结果以及对应的测试时间确定进行优化的测试环节,并调取进行优化的测试环节的影响因素,对进行优化的测试环节进行要因分析,基于要因分析结果确定测试时间优化类型;
[0009]基于测试时间优化类型进行优化策略匹配,并根据II型集中器出库前测试的历史数据对匹配得到的每个优化策略进行实施效果分析,根据实施效果分析结果选取II型集中器出库前测试时间的优化策略。
[0010]进一步的,所述测试环节包括系统绑定、SIM卡安装、上电测试和断电放回。
[0011]进一步的,在对进行优化的测试环节进行要因分析时,获取进行优化的测试环节的每个影响因素的影响因子,筛选与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子,基于与
II型集中器出库前测试时间相关的影响因子对每个影响因素进行要因分析。
[0012]进一步的,在筛选与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子时,先分别计算每个影响因子与测试时间的关联度,根据计算得到的关联度筛选出与II型集中器出库前测试时间相关的一级关联影响因子,计算其他影响因子与每个一级关联影响因子间的关联度,筛选出与一级关联影响因子相关的二级关联影响因子,并将一级关联影响因子以及二级关联影响因子均作为与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子。
[0013]进一步的,在确定要因时,确定每个影响因素对应的一级影响因子和二级关联影响因子,并基于一级关联影响因子和二级关联影响因子获取影响因素对测试时间的影响程度,并根据影响程度对影响因素进行排序,选取影响程度最大的影响因素作为要因。
[0014]进一步的,根据II型集中器出库前测试的历史数据对匹配得到的每个优化策略进行实施效果分析时,确定每个优化策略的实施过程,并通过历史数据按照实时过程对每个优化策略的优化结果进行预测,并基于对应的预测结果根据预设的评价指标对每个优化策略的实施效果进行评分,根据评分结果按照从高到低的顺序对优化策略进行排序,选取评分最高的优化策略作为II型集中器出库前测试时间的优化策略。
[0015]进一步的,在确定优化策略后,根据优化策略调整II型集中器出库前测试时间时,还采集II型集中器的具体参数,并根据II型集中器的具体参数对优化策略的操作参数进行调整。
[0016]本专利技术的有益效果是:
[0017]能够有效降低II型集中器出库前的测试时间,且在进行测试时间的优化过程中,能够考虑到不同测试环节的影响程度不同,从而判断出进行优化的测试环节,并确定进行优化的测试环节的测试时间影响要因,针对影响要因进行测试时间优化,能够有效提高测试时间的优化效率。且在确定优化策略时,能够根据每个优化策略的实施效果进行选择,使得优化策略能够适应不同情况下的II型集中器测试需求,测试时间的优化更加精准。
附图说明
[0018]图1是本专利技术的一种流程示意图;
[0019]图2是本专利技术实施例的一种各测试环节测试时间的占比图。
具体实施方式
[0020]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步描述。
[0021]实施例:
[0022]一种II型集中器出库前测试时间优化方法,如图1所示,包括:
[0023]确定II型集中器出库前测试的操作流程,基于操作流程将II型集中器出库前测试进行测试环节划分,调取II型集中器出库前测试的历史数据,并基于II型集中器出库前测试的历史数据确定每个测试环节对应的测试时间;
[0024]对每个测试环节进行影响因素分析,根据每个测试环节的影响因素分析结果以及对应的测试时间确定进行优化的测试环节,并调取进行优化的测试环节的影响因素,对进行优化的测试环节进行要因分析,基于要因分析结果确定测试时间优化类型;
[0025]基于测试时间优化类型进行优化策略匹配,并根据II型集中器出库前测试的历史
数据对匹配得到的每个优化策略进行实施效果分析,根据实施效果分析结果选取II型集中器出库前测试时间的优化策略。
[0026]II型集中器为收集电能表的数据,进行储存处理,同时能够与主站或手持设备进行数据交换的设备。
[0027]所述测试环节包括系统绑定、SIM卡安装、上电测试和断电放回。
[0028]本实施例中各测试环节测试时间的占比具体如图2所示,由图2可知,II型集中器出库前测试各环节中上电测试所用时间最长,长达5分钟,占比最高,高达76%。而在进行影响因素分析后,结合影响因素与人工差异的相关程度,确定上电测试的波动性最大,因此确定上电测试环节为本实施例中进行优化的测试环节。
[0029]在对进行优化的测试环节进行要因分析时,获取进行优化的测试环节的每个影响因素的影响因子,筛选与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子,基于与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子对每个影响因素进行要因分析。
[0030]上电测试环节主要包括拧松螺丝、搭线、拨通开关和设备登录四个操作步骤,将每个操作步骤作为影响因素,确定最重要的一个操作步骤,作为上电测试环节的要因。
[0031]在筛选与II型集中器出本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种II型集中器出库前测试时间优化方法,其特征在于,包括:确定II型集中器出库前测试的操作流程,基于操作流程将II型集中器出库前测试进行测试环节划分,调取II型集中器出库前测试的历史数据,并基于II型集中器出库前测试的历史数据确定每个测试环节对应的测试时间;对每个测试环节进行影响因素分析,根据每个测试环节的影响因素分析结果以及对应的测试时间确定进行优化的测试环节,并调取进行优化的测试环节的影响因素,对进行优化的测试环节进行要因分析,基于要因分析结果确定测试时间优化类型;基于测试时间优化类型进行优化策略匹配,并根据II型集中器出库前测试的历史数据对匹配得到的每个优化策略进行实施效果分析,根据实施效果分析结果选取II型集中器出库前测试时间的优化策略。2.根据权利要求1所述的一种II型集中器出库前测试时间优化方法,其特征在于,所述测试环节包括系统绑定、SIM卡安装、上电测试和断电放回。3.根据权利要求1所述的一种II型集中器出库前测试时间优化方法,其特征在于,在对进行优化的测试环节进行要因分析时,获取进行优化的测试环节的每个影响因素的影响因子,筛选与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子,基于与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子对每个影响因素进行要因分析。4.根据权利要求3所述的一种II型集中器出库前测试时间优化方法,其特征在于,在筛选与II型集中器出库前测试时间相关的影响因子时,先分别计算每个影响因子与测试时...

【专利技术属性】
技术研发人员:卢鑫周华王春雷黄凯婷吴建平裘瑾怡潘聪叶秀虹
申请(专利权)人:国网浙江省电力有限公司新昌县供电公司
类型:发明
国别省市:

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