磁带、磁带盒及磁记录再现装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种具有非磁性支撑体和含有强磁性粉末的磁性层，在通过小角度X射线散射测定而得的上述非磁性支撑体的小角度X射线散射光谱中，在q值为的区域内，散射强度变化率的极大值下的q值q

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁带、磁带盒及磁记录再现装置


[0001]本专利技术涉及一种磁带、磁带盒及磁记录再现装置。

技术介绍

[0002]磁记录介质通常包括磁性层和非磁性支撑体(例如，参考专利文献1)。
[0003]以往技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开平2
‑
037519号公报

技术实现思路

[0006]专利技术要解决的技术课题
[0007]磁记录介质有盘状的和带状的。专利文献1中公开了一种用作盘状磁记录介质的非磁性支撑体的膜。
[0008]另一方面，近年来，作为存档等数据存储用磁记录介质，广泛使用带状磁记录介质(即，磁带)。
[0009]磁带通常容纳于磁带盒内进行保管。详细而言，磁带通常在被施加张力的状态下卷取到磁带盒的卷盘上进行保管。该张力有可能会导致磁带盒内的磁带发生变形。为了提高作为数据存储介质的磁带的可靠性，期待能够抑制该变形。例如，其理由如下。磁带上的数据记录通常通过在磁带的数据带上记录磁信号来进行。由此，在数据带上形成数据磁道。另一方面，当再现所记录的数据时，使磁头在磁记录再现装置内跟随磁带的数据磁道来读取记录在数据磁道上的磁信号。在此，磁头跟随数据磁道的精度越高，越能够抑制再现错误的发生，从而能够提高作为数据存储介质的磁带的可靠性。然而，若磁带在记录数据之后发生较大的变形，则磁头在再现数据时跟随数据磁道的精度会下降，导致容易发生再现错误。例如，出于这种理由，期待能够抑制保管期间的磁带的变形。
[0010]本专利技术的一方式的目的在于，提供一种能够抑制保管期间的变形的磁带。
[0011]用于解决技术课题的手段
[0012]本专利技术的一方式涉及一种磁带，其具有非磁性支撑体和含有强磁性粉末的磁性层，
[0013]在通过小角度X射线散射测定而得的上述非磁性支撑体的小角度X射线散射光谱中，在q值为的区域内，散射强度变化率的极大值下的q值q
max
处的散射强度I
max
与散射强度变化率的极小值下的q值q
min
处的散射强度I
min
之比I
max
/I
min
为2.7以上，q
min
＜q
max
，并且
[0014]上述非磁性支撑体的玻璃化转变温度Tg为140℃以上。
[0015]在一方式中，上述非磁性支撑体可以为芳香族聚醚酮支撑体。
[0016]在一方式中，上述芳香族聚醚酮可以为聚醚醚酮。
[0017]在一方式中，上述芳香族聚醚酮可以为聚醚酮酮。
[0018]在一方式中，上述强磁性粉末可以为六方晶钡铁氧体粉末。
[0019]在一方式中，上述强磁性粉末可以为六方晶锶铁氧体粉末。
[0020]在一方式中，上述强磁性粉末可以为ε
‑
氧化铁粉末。
[0021]在一方式中，上述磁带可以在上述非磁性支撑体与上述磁性层之间还具有含有非磁性粉末的非磁性层。
[0022]在一方式中，上述磁带可以在上述非磁性支撑体的与具有上述磁性层的表面侧相反的表面侧还具有含有非磁性粉末的背涂层。
[0023]在一方式中，通过光干涉粗糙度计测定的上述非磁性支撑体的具有上述磁性层的一侧的表面的中心线平均粗糙度Ra可以为15.0nm以下。
[0024]本专利技术的一方式涉及一种磁带盒，其包括上述磁带。
[0025]本专利技术的一方式涉及一种磁记录再现装置，其包括上述磁带。
[0026]专利技术效果
[0027]根据本专利技术的一方式，能够提供一种能够抑制保管期间的变形的磁带。并且，根据本专利技术的一方式，能够提供一种包括该磁带的磁带盒及磁记录再现装置。
具体实施方式
[0028][磁带][0029]本专利技术的一方式涉及一种具有非磁性支撑体和含有强磁性粉末的磁性层的磁带。在通过小角度X射线散射测定而得的上述非磁性支撑体的小角度X射线散射光谱中，在q值为的区域内，散射强度变化率的极大值下的q值q
max
处的散射强度I
max
与散射强度变化率的极小值下的q值q
min
处的散射强度I
min
之比I
max
/I
min
(以下，还称为“散射强度比I
max
/I
min”。)为2.7以上，q
min
＜q
max
，并且上述非磁性支撑体的玻璃化转变温度Tg为140℃以上。
[0030]以下，对上述磁带进行更详细的说明。
[0031]<非磁性支撑体>
[0032](散射强度比I
max
/I
min
)
[0033]在通过小角度X射线散射测定而得的上述磁带所包括的非磁性支撑体(以下，还称为“支撑体”。)的小角度X射线散射光谱中，在q值为的区域内，散射强度变化率的极大值下的q值q
max
处的散射强度I
max
与散射强度变化率的极小值下的q值q
min
处的散射强度I
min
之比I
max
/I
min
(散射强度比I
max
/I
min
)为2.7以上，q
min
＜q
max
。关于单位，(埃)＝0.1nm。
[0034]以下，对求出散射强度比I
max
/I
min
的方法进行说明。
[0035](1)测定用试样的准备
[0036]从要测定的非磁性支撑体切取多个试样片。可以从通过公知的方法从磁带中去除非磁性支撑体以外的部分而得的支撑体切取试样片。关于以下记载的试样片的方向是指包含在磁带中时的方向。长度方向是指在磁带中为长度方向的方向，宽度方向是指在磁带中为宽度方向的方向。
[0037]将切取的多个试样片重叠厚度成为200μm以上的数量(例如，几十片)。重叠时，以
将多个试样片的长度方向彼此对齐且将宽度方向彼此对齐的方式重叠多个试样片。
[0038]从重叠上述多个试样片而成的层叠体切取长度方向数cm
×
宽度方向数cm的尺寸的试样片，并将其作为测定用试样。
[0039](2)小角度X射线散射测定及各种光谱的获取
[0040]使X射线从与随机选择的测定用试样的任一表面垂直的方向入射于该表面，通过二维检测器检测透射测定用试样后的散射X射线，进行透射小角度X射线散射(SAXS)测定，获得SAXS光谱。小角度X射线散射通常还称为“SAXS(Small Angle X
‑
ray Scattering)”。X射线的能量(波长λ)在5～20keV的范围内选择。
[0041]在得到的二维SAXS本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种磁带，其具有非磁性支撑体和含有强磁性粉末的磁性层，在通过小角度X射线散射测定而得的所述非磁性支撑体的小角度X射线散射光谱中，在q值为的区域内，散射强度变化率的极大值下的q值q
max
处的散射强度I
max
与散射强度变化率的极小值下的q值q
min
处的散射强度I
min
之比I
max
/I
min
为2.7以上，q
min
＜q
max
，并且所述非磁性支撑体的玻璃化转变温度Tg为140℃以上。2.根据权利要求1所述的磁带，其中，所述非磁性支撑体为芳香族聚醚酮支撑体。3.根据权利要求2所述的磁带，其中，所述芳香族聚醚酮为聚醚醚酮。4.根据权利要求2所述的磁带，其中，所述芳香族聚醚酮为聚醚酮酮。5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：今井隆，福冈佑记，松井高史，泽井大辅，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：发明
国别省市：